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    • 1. 发明专利
    • Bewertungsverfahren für Simulationsmodelle in der Mikroskopie
    • DE102021204805A1
    • 2022-11-17
    • DE102021204805
    • 2021-05-11
    • ZEISS CARL MICROSCOPY GMBH
    • AMTHOR MANUELHAASE DANIEL
    • G06V20/69G06F30/20G06V10/776
    • Die Erfindung betrifft ein Bewertungsverfahren für Simulationsmodelle in der Mikroskopie in drei alternativen Ausgestaltungen. In einer ersten Alternative wird ausgehend von einem ersten Bild (IA) ein simuliertes Bild (IA→B) einer zweiten Bildaufnahmeart mittels eines Simulationsmodells (SMA→B) vorhergesagt und ausgehend von diesem ein simuliertes Bild ((IA→B)→C) einer dritten Bildaufnahmeart erzeugt. Letzteres wird mit einem dritten Bild (Ic) der dritten Bildaufnahmeart verglichen. Bei Einhaltung festgelegter Qualitätskriterien wird das Simulationsmodell (SMA→B) als zulässig eingestuft. Die zweite Alternative umfasst die Vorhersage eines simulierten Bildes (IA→C) der dritten Bildaufnahmeart mittels eines Simulationsmodells (SMA→C). Es erfolgt ein Vergleich des dritten Bildes (IC) mit dem simulierten Bild (IA→C) und eine Einstufung der Zulässigkeit des Simulationsmodells (SMA→C).Die dritten Alternative umfasst in zwei möglichen Vorgehensweisen die Vorhersage eines simulierten Bildes (IA→B) der zweiten Bildaufnahmeart mittels eines Simulationsmodells (SMA→B) beziehungsweise die Vorhersage eines simulierten Bildes (IA→C) der dritten Bildaufnahmeart mittels eines Simulationsmodells (SMA→C) ausgehend von dem ersten Bild (IA). Die jeweiligen simulierten Bilder (IA→B) und (IA→C) sind Basis für die Vorhersage simulierter Bilder (IB→A) beziehungsweise (IC→A), die jeweils mit dem ersten Bild IAverglichen werden.Alle drei Alternativen ermöglichen eine Bewertung des Simulationsmodells (SMA→B) und das Bereitstellen eines simulierten Bildes (IA→B), ohne das zweite Bild (IB) tatsächlich erfassen zu müssen.