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    • 7. 发明公开
    • 메모리 제어장치 및 방법
    • 控制存储设备的装置和方法
    • KR20180034842A
    • 2018-04-05
    • KR20160124551
    • 2016-09-28
    • G06F3/06G06F12/02
    • G11C7/1006G06F12/1018G06F13/1684G06F2212/1044G11C7/1048G11C7/109G11C29/10G11C29/20
    • 본기술은, 메모리장치로데이터를처리하는메모리제어장치및 메모리제어장치의동작방법에관한것으로, 메모리제어장치는, 수신되는제1 어드레스의프로그램데이터를압축데이터로변환하는단계; 압축데이터, 상기압축데이터에대응되는비압축데이터가라이트된상기메모리장치의제2 어드레스및 상기데이터의라이트횟수를나타내는카운터등을포함하는중복제거테이블에서상기변환된압축데이터를검색하는중복제거테이블검색단계; 및상기중복제거테이블에서상기변환된압축데이터를검색되면, 상기중복제거테이블에서상기압축데이터에대응되는제2 어드레스를상기제1 어드레스에맵핑하고상기메모리장치의라이트동작을수행하지않으며, 상기검색테이블을갱신하는단계를포함할수 있다.
    • 该技术涉及用于将数据处理成存储器件的存储器控​​制装置以及存储器控制装置的操作方法。 用于控制存储器的方法可以包括:将接收到的具有第一地址的程序数据转换成压缩数据;搜索包括压缩数据的去重复表;存储装置的第二地址,其中与压缩数据相对应的非压缩数据已被写入; 指示转换的压缩数据的数据的写入次数的计数器,并且如果在去重复表中搜索转换的压缩数据,则将与去重复表中的压缩数据相对应的第二地址映射到第一地址,不执行 存储器装置对所接收的节目数据的写入操作,以及更新去重复表。
    • 8. 发明公开
    • 반도체 기억장치
    • 半导体存储器件
    • KR20180025811A
    • 2018-03-09
    • KR20170102599
    • 2017-08-11
    • WINBOND ELECTRONICS CORP
    • MURAKAMI HIROKISENO MAKOTO
    • G11C16/32G11C7/04G11C7/22G11C16/04
    • G11C7/109G11C7/1006G11C7/1063G11C7/1066G11C7/1093G11C7/222G11C8/18G11C11/4093G11C16/0483G11C16/08G11C16/10G11C16/26G11C16/32
    • [과제] 외부로부터의제어신호에동기해서고속동작하는것이가능한반도체기억장치를제공한다. [해결수단] 외부제어신호에응답해서커맨드나어드레스등의입력데이터를수취하는데이터입력부(110)와, 복수의메모리소자를포함하는메모리어레이부(130)와, 외부제어신호에응답해서메모리어레이부로부터독출된데이터를출력하는데이터출력부(140)와, 지연보상하는기능을구비한제어부(160)를포함한다. 지연보상하는기능은, 입력데이터가수취되고있는사이에, 내부회로의지연시간을평가하고, 평가에의해얻어진지연정보를기억수단에기억하고, 지연정보에의거해서데이터출력부(140)의출력타이밍을조정한다.
    • 提供了能够与外部控制信号同步的高速操作的半导体存储器件。 半导体存储器件具有数据输入部分,存储器阵列,数据输出部分和控制部分。 数据输入部分响应于外部控制信号而接收命令和地址输入数据。 存储器阵列具有多个存储器元件。 数据输出部分响应于外部控制信号输出从存储器阵列读取的数据。 控制部分具有延迟补偿的功能。 在接收输入数据的时间间隔期间,延迟补偿的功能估计内部电路的延迟时间,将估计的延迟时间存储在存储器单元中,并且调整数据输出部分的输出时序。