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    • 7. 发明授权
    • 반도체 장치
    • KR102304824B1
    • 2021-09-23
    • KR1020140098482
    • 2014-07-31
    • H01L29/786H01L21/336
    • 본발명은, 산화물반도체에채널이형성되는트랜지스터에안정된전기특성을부여한다. 또는, 산화물반도체에채널이형성되는트랜지스터의문턱전압의변동을억제한다. 또는, 산화물반도체에채널이형성되는 n채널형의트랜지스터에있어서양의문턱전압을갖는, 노멀리오프형의스위칭소자를적용한다. 반도체층과, 반도체층과중첩되는게이트전극과, 반도체층및 게이트전극사이에위치하는제 1 게이트절연층과, 제 1 게이트절연층및 게이트전극사이에위치하는제 2 게이트절연층을갖는반도체장치로한다. 또한, 제 1 게이트절연층은질소의함유량이 5 원자% 이하인산화물을포함하고, 제 2 게이트절연층은전하포획준위를갖는구성으로한다.