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1. 发明专利

TW201120916A 含微小金屬粒子之組成物 MICRO METAL PARTICLE COMPOSITION 审中-公开
简体标题：含微小金属粒子之组成物 MICRO METAL PARTICLE COMPOSITION
公开(公告)号：TW201120916A
公开(公告)日：2011-06-16
申请号：TW099140787
申请日：2010-11-25
申请人：特線工業股份有限公司
发明人：金仁洙 , 李昌根 , 北藤寬貴
IPC分类号： H01B , B22F
CPC分类号： B22F1/0062 , B22F1/0018 , B22F1/0059 , B22F1/0081 , B22F1/02 , B22F9/26 , B22F2001/0033 , B82Y30/00 , H01B1/02 , H01B1/22 , Y10T428/2991
摘要：含微小銀粒子之組成物是由多數個微小銀粒子2、以及覆蓋各銀粒子2的表面的塗層4所構成。此銀粒子2是所謂的奈米粒子。此銀粒子2為鱗片狀。塗層4是由有機化合物所構成。此有機化合物附著於銀粒子2。此有機化合物抑制銀粒子2的凝聚。此組成物呈現糕餅狀。有機化合物相對於組成物的總量之重量比率為2％以上、15％以下。
简体摘要：含微小银粒子之组成物是由多数个微小银粒子2、以及覆盖各银粒子2的表面的涂层4所构成。此银粒子2是所谓的奈米粒子。此银粒子2为鳞片状。涂层4是由有机化合物所构成。此有机化合物附着于银粒子2。此有机化合物抑制银粒子2的凝聚。此组成物呈现糕饼状。有机化合物相对于组成物的总量之重量比率为2％以上、15％以下。

2. 发明专利

TWI462120B 含微小金屬粒子之組成物、其製造方法以及使用方法有权
简体标题：含微小金属粒子之组成物、其制造方法以及使用方法
公开(公告)号：TWI462120B
公开(公告)日：2014-11-21
申请号：TW099140787
申请日：2010-11-25
申请人：特線工業股份有限公司 , TOKUSEN KOGYO CO., LTD.
发明人：金仁洙 , KIM, INSOO , 李昌根 , LEE, CHANG-GUN , 北藤寬貴 , KITAFUJI, TOMOKI
IPC分类号： H01B1/22 , B22F1/02
CPC分类号： B22F1/0062 , B22F1/0018 , B22F1/0059 , B22F1/0081 , B22F1/02 , B22F9/26 , B22F2001/0033 , B82Y30/00 , H01B1/02 , H01B1/22 , Y10T428/2991

3. 发明专利

TW503316B 探測卡用的探針失效
简体标题：探测卡用的探针
公开(公告)号：TW503316B
公开(公告)日：2002-09-21
申请号：TW089117159
申请日：2000-08-25
申请人：特線工業股份有限公司
发明人：木森義夫 , 陰山喜信 , 北藤寬貴
IPC分类号： G01R , H01L
CPC分类号： G01R1/0675
摘要：一種探測卡用的探針，其特徵為，在其尖端部之至少一端面，實施含PTFE之鍍鎳。宜使用鍍鎳層為基質，在探針的尖端部，形成含PTFE的鍍鎳層。鍍鎳厚度以0.5～2μm為佳，以確保含PTFE的鍍鎳層之粘著性，而含PTFE的鍍鎳也以0.5～2μm為佳，以確保PTFE的滑性。在此探針中，由於尖端部以含PTFE的鍍鎳層加以被覆，無損其耐磨耗性，可得良好的導電性，並可防止與積體電路接觸的端面氧化。此外，使用PTFE可增進滑性，實質上完全防止氧化鋁的粘著，因而確保安定的導電性。
简体摘要：一种探测卡用的探针，其特征为，在其尖端部之至少一端面，实施含PTFE之镀镍。宜使用镀镍层为基质，在探针的尖端部，形成含PTFE的镀镍层。镀镍厚度以0.5～2μm为佳，以确保含PTFE的镀镍层之粘着性，而含PTFE的镀镍也以0.5～2μm为佳，以确保PTFE的滑性。在此探针中，由于尖端部以含PTFE的镀镍层加以被覆，无损其耐磨耗性，可得良好的导电性，并可防止与集成电路接触的端面氧化。此外，使用PTFE可增进滑性，实质上完全防止氧化铝的粘着，因而确保安定的导电性。

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