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1. 发明专利

TW201712980A 即時偵測雷射照射區域之溫度的腔室單元、包含該腔室單元的雷射加工系統以及加工對象物的溫度測定方法审中-公开
简体标题：实时侦测激光照射区域之温度的腔室单元、包含该腔室单元的激光加工系统以及加工对象物的温度测定方法
公开(公告)号：TW201712980A
公开(公告)日：2017-04-01
申请号：TW105123522
申请日：2016-07-26
申请人： EO科技股份有限公司 , EO TECHNICS CO., LTD.
发明人：黃大淳 , HWANG, DAE SOON , 趙大燁 , CHO, DAE YUB , 金愥中 , KIM, YOUNG JUNG
IPC分类号： H01S3/136 , H01S5/068
CPC分类号： B23K26/00 , B23K26/03 , B23K26/08 , B23K26/12 , B23K26/361 , B23K26/70
摘要：本發明揭示一種用於即時測定雷射照射區域的溫度的腔室單元及包括其的雷射加工系統。腔室單元包括：底板；蓋板，其以覆蓋上述底板的方式設置；第一窗，其設置至上述蓋板，使上述雷射束透射；及第二窗，其與上述第一窗相隔而設置至上述蓋板，使用以測定上述加工對象物的特定區域的溫度的測定光束透射。
简体摘要：本发明揭示一种用于实时测定激光照射区域的温度的腔室单元及包括其的激光加工系统。腔室单元包括：底板；盖板，其以覆盖上述底板的方式设置；第一窗，其设置至上述盖板，使上述激光束透射；及第二窗，其与上述第一窗相隔而设置至上述盖板，使用以测定上述加工对象物的特定区域的温度的测定光束透射。

2. 发明专利

TWI667446B 用以校準、操作、及設定武器中之雷射二極體的系統和方法有权
简体标题：用以校准、操作、及设置武器中之激光二极管的系统和方法
公开(公告)号：TWI667446B
公开(公告)日：2019-08-01
申请号：TW106127345
申请日：2017-08-11
申请人：美商愛克勝企業公司 , AXON ENTERPRISE, INC.
发明人：納罕瑪格尼 , NERHEIM, MAGNE
IPC分类号： F41G1/54 , G01J1/18 , G01J1/42 , H01S5/042 , H01S5/06 , H01S5/068 , H01S5/0683

3. 发明专利

TW201921817A 基於ＶＣＳＥＬ光通訊系統中之資料流程管理审中-公开
简体标题：基于ＶＣＳＥＬ光通信系统中之数据流程管理
公开(公告)号：TW201921817A
公开(公告)日：2019-06-01
申请号：TW107125708
申请日：2018-07-25
申请人：美商格芯(美國)集成電路科技有限公司 , GLOBALFOUNDRIES US INC. , 美商萬國商業機器公司 , INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
发明人：席拉福德二世哈登C , CRANFORD JR., HAYDEN C. , 普羅瑟爾喬納森E , PROESEL, JONATHAN E. , 賓度拉希米R , BINDU, RASHMI R.
IPC分类号： H01S5/068 , H04B10/079 , H04B10/50
摘要：本發明的方法包括管理具有多個垂直腔面發射雷射器(VCSEL)的一光通訊系統中的資料流程的方法。該方法通常包括判斷該系統的操作是否超出該系統的熱參數的熱閾值，以及當超出該熱閾值時，從第一資料頻寬切換至第二資料頻寬。在該第二資料頻寬的操作進一步包括判斷該系統的進一步操作是否需要該第一資料頻寬，以及僅當在該第二資料頻寬的操作期間的該熱參數未超出該熱閾值時，恢復在該第一資料頻寬操作該系統。
简体摘要：本发明的方法包括管理具有多个垂直腔面发射激光器(VCSEL)的一光通信系统中的数据流程的方法。该方法通常包括判断该系统的操作是否超出该系统的热参数的热阈值，以及当超出该热阈值时，从第一数据带宽切换至第二数据带宽。在该第二数据带宽的操作进一步包括判断该系统的进一步操作是否需要该第一数据带宽，以及仅当在该第二数据带宽的操作期间的该热参数未超出该热阈值时，恢复在该第一数据带宽操作该系统。

4. 发明专利

TWI701881B 空腔穩定化雷射漂移補償技術有权
简体标题：空腔稳定化激光漂移补偿技术
公开(公告)号：TWI701881B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：TW107121338
申请日：2018-06-21
申请人：美商雷神公司 , RAYTHEON COMPANY
发明人：費爾南德斯哈維爾 H. , FERNANDEZ, JAVIER H. , 克拉特巴克陶德 O. , CLATTERBUCK, TODD O. , 普萊斯加百列 N. , PRICE, GABRIEL N. , 丹尼爾安德鲁 N. , DANIELE, ANDREW N. , 雷基麥克 S. , LACKEY, MICHAEL S. , 泰康 , THAI, CHON , 比布達西 , BIBB, DARCY
IPC分类号： H01S5/068

5. 发明专利

TWI688177B 基於ＶＣＳＥＬ光通訊系統中之資料流程管理有权
简体标题：基于ＶＣＳＥＬ光通信系统中之数据流程管理
公开(公告)号：TWI688177B
公开(公告)日：2020-03-11
申请号：TW107125708
申请日：2018-07-25
申请人：美商格芯(美國)集成電路科技有限公司 , GLOBALFOUNDRIES US INC. , 美商萬國商業機器公司 , INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
发明人：席拉福德二世哈登C , CRANFORD JR., HAYDEN C. , 普羅瑟爾喬納森E , PROESEL, JONATHAN E. , 賓度拉希米R , BINDU, RASHMI R.
IPC分类号： H01S5/068 , H04B10/079 , H04B10/50

6. 发明专利

TWI494907B 雷射驅動電路、雷射驅動方法及使用雷射光之裝置有权
简体标题：激光驱动电路、激光驱动方法及使用激光光之设备
公开(公告)号：TWI494907B
公开(公告)日：2015-08-01
申请号：TW101134546
申请日：2012-09-20
申请人：新力股份有限公司 , SONY CORPORATION
发明人：木村基 , KIMURA, MOTOI , 栗原努 , KURIHARA, TSUTOMU
IPC分类号： G09G3/20 , H01S5/068 , G09G3/02
CPC分类号： H04N9/3135 , G02B27/48 , G09G3/02 , G09G2320/0233 , H01S5/0427 , H01S5/06213 , H01S5/06216 , H01S5/0652 , H01S5/4093 , H01S2301/02 , H04N5/74 , H04N9/3129 , H04N9/3161 , H04N9/3179

7. 发明专利

TW201347331A 雷射裝置的溫控方法及使用其之電子裝置审中-公开
简体标题：激光设备的温控方法及使用其之电子设备
公开(公告)号：TW201347331A
公开(公告)日：2013-11-16
申请号：TW101115788
申请日：2012-05-03
申请人：信泰光學(深圳)有限公司 , SINTAI OPTICAL (SHENZHEN) CO., LTD. , 亞洲光學股份有限公司 , ASIA OPTICAL CO., INC.
发明人：陳嘉亨 , CHEN, JIA HENG
IPC分类号： H01S5/02 , H01S5/068 , H01S5/024
摘要：一種雷射裝置的溫控方法及使用其之電子裝置。電子裝置(例如，雷射水平儀)包括雷射裝置以及溫度控制裝置。溫度控制裝置包括絕熱腔體、溫度調節單元以及控制單元。控制單元循環調整絕熱腔體內的腔體溫度以使雷射裝置輸出預定功率，並持續偵測環境溫度是否位於雷射操作溫度範圍。當環境溫度位於雷射操作溫度範圍之外時，控制單元執行例外處理程序。藉此，電子裝置可避免雷射裝置於啟動或運作過程中因過熱而當機甚至燒毀。
简体摘要：一种激光设备的温控方法及使用其之电子设备。电子设备(例如，激光水平仪)包括激光设备以及温度控制设备。温度控制设备包括绝热腔体、温度调节单元以及控制单元。控制单元循环调整绝热腔体内的腔体温度以使激光设备输出预定功率，并持续侦测环境温度是否位于激光操作温度范围。当环境温度位于激光操作温度范围之外时，控制单元运行例外处理进程。借此，电子设备可避免激光设备于启动或运作过程中因过热而当机甚至烧毁。

8. 发明专利

TWI607611B 即時偵測雷射照射區域之溫度的腔室單元、包含該腔室單元的雷射加工系統以及加工對象物的溫度測定方法有权
简体标题：实时侦测激光照射区域之温度的腔室单元、包含该腔室单元的激光加工系统以及加工对象物的温度测定方法
公开(公告)号：TWI607611B
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：TW105123522
申请日：2016-07-26
申请人： EO科技股份有限公司 , EO TECHNICS CO., LTD.
发明人：黃大淳 , HWANG, DAE SOON , 趙大燁 , CHO, DAE YUB , 金愥中 , KIM, YOUNG JUNG
IPC分类号： H01S3/136 , H01S5/068
CPC分类号： B23K26/00 , B23K26/03 , B23K26/08 , B23K26/12 , B23K26/361 , B23K26/70

9. 发明专利

TWI550982B 可見光之即時波長修正系統有权
简体标题：可见光之实时波长修正系统
公开(公告)号：TWI550982B
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：TW104107292
申请日：2015-03-06
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：范光照 , FAN, KUANG CHAO , 許智欽 , HSU, CHIH CHIN
IPC分类号： H01S5/068 , H01S5/0687
CPC分类号： H01S3/0014 , G02B27/0056 , G02B27/4244 , H01S5/0687

10. 发明专利

TW201633640A 可見光之即時波長修正系統审中-公开
简体标题：可见光之实时波长修正系统
公开(公告)号：TW201633640A
公开(公告)日：2016-09-16
申请号：TW104107292
申请日：2015-03-06
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：范光照 , FAN, KUANG CHAO , 許智欽 , HSU, CHIH CHIN
IPC分类号： H01S5/068 , H01S5/0687
CPC分类号： H01S3/0014 , G02B27/0056 , G02B27/4244 , H01S5/0687
摘要：一種可見光之即時波長修正系統，是利用繞射光柵將分光平行光束繞射產生第零階繞射光束及第一階繞射光束。第零階繞射光束於第一聚焦透鏡之第一後焦平面處聚焦形成第一光點，以藉由第一光點的位移計算出角度偏移量，而第一階繞射光束於第二聚焦透鏡之第二後焦平面處聚焦形成第二光點，以藉由第二光點的位移計算出波長受溫度變化影響而產生的第一階繞射光束角度偏移量，進而依據角度偏移量與第一階繞射光束角度偏移量修正分光平行光束之波長，有效解決光束漂移及環境溫度變化所造成的影響，因此本系統具有結構簡單且成本低廉的優點。
简体摘要：一种可见光之实时波长修正系统，是利用绕射光栅将分光平行光束绕射产生第零阶绕射光束及第一阶绕射光束。第零阶绕射光束于第一聚焦透镜之第一后焦平面处聚焦形成第一光点，以借由第一光点的位移计算出角度偏移量，而第一阶绕射光束于第二聚焦透镜之第二后焦平面处聚焦形成第二光点，以借由第二光点的位移计算出波长受温度变化影响而产生的第一阶绕射光束角度偏移量，进而依据角度偏移量与第一阶绕射光束角度偏移量修正分光平行光束之波长，有效解决光束漂移及环境温度变化所造成的影响，因此本系统具有结构简单且成本低廉的优点。

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