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    • 3. 发明授权
    • Debugging using tagged flip-flops
    • 使用标记的触发器进行调试
    • US08813005B1
    • 2014-08-19
    • US14016941
    • 2013-09-03
    • Xilinx, Inc.
    • Khang K. DaoKyle Corbett
    • G06F17/50
    • G06F17/5022
    • Approaches for testing a module of a circuit design include tagging flip-flops in a netlist of the module with respective path names of the flip-flops from a hardware description language specification of the module. In simulating with the netlist, event data are captured to a first file. A process determines whether or not event data in the first file matches event data in a second file of event data. In response to a difference determined between the first file and the second file, an earliest occurrence of an event in the first file having an associated signal value of a first signal that does not match an associated signal value of a corresponding event in the second file is determined. The one of the plurality of flip-flops that output the first signal is determined, and the respective path name of the one flip-flop is output.
    • 用于测试电路设计的模块的方法包括:根据模块的硬件描述语言规范,将模块的网表中的触发器标记为具有触发器的相应路径名称的网表。 在与网表模拟时,将事件数据捕获到第一个文件。 进程确定第一文件中的事件数据是否匹配事件数据的第二文件中的事件数据。 响应于在第一文件和第二文件之间确定的差异,第一文件中最早出现的事件具有与第二文件中的相应事件的相关信号值不匹配的第一信号的相关信号值 决心,决意,决定。 确定输出第一信号的多个触发器中的一个,并输出一个触发器的相应路径名。