该申请人涉及专利文献：22929，涉及专利：10000件
覆盖主要的IPC大类包括：H01(10944)、G03(1000)、G01(737)、G11(351)、B24(316)、G06(294)、B81(245)、C23(239)、H10(226)、H03(212)
专利类型分布状况：发明公开(13062)、实用新型(794)、发明申请(13)
专利不同法律状态数据分布状况：有效专利(7930)、无效专利(2475)、失效专利(1982)、实质审查(1440)、公开(29)
该领域主要的发明人有：周飞(971)、张海洋(868)、赵猛(558)、李勇(489)、周鸣(403)、三重野文健(321)、韩秋华(301)、王楠(289)、金吉松(272)、洪中山(269)
详细地址：中国 上海市 浦东新区 上海市浦东新区张江路18号 201203
| 专利类型 | 专利名称 | 文献号 |
|---|---|---|
| 发明授权 | 半导体结构及其形成方法 | CN113972171B |
| 发明授权 | OPC模型及其建立方法和系统、OPC方法、设备及存储介质 | CN116300297B |
| 发明授权 | 光学邻近修正方法及系统、掩膜版、设备及存储介质 | CN115793379B |
| 发明公开 | 半导体结构的形成方法 | CN120545183A |
| 发明授权 | 半导体结构及其形成方法 | CN115692414B |
| 发明授权 | 半导体结构及半导体结构的形成方法 | CN114203696B |
| 发明公开 | 半导体结构及其形成方法 | CN120529616A |
| 发明授权 | 半导体结构及其形成方法 | CN114267674B |
| 发明授权 | 半导体结构的形成方法 | CN114188276B |
| 发明公开 | 测量电路及其工作方法、版图测量电路 | CN120507631A |
| 排名 | 企业名称 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 22429 |
| 2 | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 | 499 |
| 3 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司(CN) | 14 |
| 排名 | 发明人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 周飞 | 971 |
| 2 | 张海洋 | 868 |
| 3 | 赵猛 | 558 |
| 4 | 李勇 | 489 |
| 5 | 周鸣 | 403 |
| 6 | 三重野文健 | 321 |
| 7 | 韩秋华 | 301 |
| 8 | 王楠 | 289 |
| 9 | 金吉松 | 272 |
| 10 | 洪中山 | 269 |
| 排名 | 企业名称 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 10350 |
| 2 | 北京市磐华律师事务所 | 3662 |
| 3 | 上海思微知识产权代理事务所 | 2744 |
| 4 | 上海知锦知识产权代理事务所 | 1138 |
| 5 | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 1133 |
| 6 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 520 |
| 7 | 上海光华专利事务所 | 475 |
| 8 | 上海智信专利代理有限公司 | 431 |
| 9 | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 383 |
| 10 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 361 |
| 排名 | 代理人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 骆苏华 | 3937 |
| 2 | 高伟 | 3036 |
| 3 | 吴敏 | 2813 |
| 4 | 屈蘅 | 2745 |
| 5 | 李时云 | 2678 |
| 6 | 董巍 | 2597 |
| 7 | 高静 | 1958 |
| 8 | 徐文欣 | 1663 |
| 9 | 李丽 | 1585 |
| 10 | 逯长明 | 998 |
