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71. 发明专利

JP5639934B2 表面性状測定機有权
标题翻译：表面纹理测量仪器
公开(公告)号：JP5639934B2
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：JP2011051366
申请日：2011-03-09
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：樹中山 , 樹中山
IPC分类号： G01B5/28 , G01B5/00
CPC分类号： G01B5/016 , G01B5/20 , G01B5/28 , G01B21/20 , G01B21/30

72. 发明专利

JP2014219216A 表面性状測定装置およびその制御方法有权
标题翻译：表面质量测量装置及其控制方法
公开(公告)号：JP2014219216A
公开(公告)日：2014-11-20
申请号：JP2013096517
申请日：2013-05-01
申请人：株式会社ミツトヨ , Mitsutoyo Corp
发明人： NAKAYAMA SHIGE
IPC分类号： G01B5/28
CPC分类号： G01B5/28 , G01B3/008 , G01B5/20 , G01B21/047
摘要：【課題】測定アームの落下を抑止し、スタイラスが測定対象と衝突しない表面性状測定装置を提供する。【解決手段】表面性状測定装置100は、円弧運動可能に支持された測定アームと、測定アーム233の先端に設けられたスタイラスと、測定アームの変位を検出する変位検出器235と、測定アームを円弧運動方向へ付勢して測定力を付与するボイスコイルモータ240と、を有する。制御装置300は、測定力の向きおよび大きさを指令する測定力指令を出力する中央制御部320と、ボイスコイルモータ240によって発生する測定力の向きおよび大きさを制御する測定力制御部400と、を備える。測定力制御部400は、変位検出器235からの変位検出信号を監視し、測定アームの変位速さが所定閾値を超えた場合には、測定アームの先端を上方に持ち上げる方向の力がボイスコイルモータ240に発生するようにフィードバックを掛ける。【選択図】図4
摘要翻译：要解决的问题：提供一种防止测量臂落下并防止触针与测量对象碰撞的表面质量测量装置。解决方案：表面质量测量装置100包括：测量臂，以能够支撑的方式支撑执行电弧运动; 设置在测量臂233的前端的触笔; 检测测量臂的位移的位移检测器235; 以及音圈电动机240，其以电弧运动方向对测量臂进行激励并赋予测量力。控制器300包括：中央控制部分320，其输出测量力的方向和大小排序的测量力命令; 以及测量力控制部400，其控制由音圈电动机240产生的测量力的方向和大小。测量力控制部400监视来自位移检测器235的位移检测信号，并且当测量的位移速度臂超过规定的阈值时，其施加反馈，使得在音圈电动机240中发生向上升高测量臂的前端的方向的力。

73. 发明专利

JP5542735B2 The method of calculating the lead structure 有权
公开(公告)号：JP5542735B2
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：JP2011098883
申请日：2011-04-27
申请人：ホンメル−エターミク・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング
发明人：イェルク・ゼーヴィヒ
IPC分类号： G01B5/28 , G01B5/18
CPC分类号： G01B5/28 , G01B21/30

74. 发明专利

JP5536572B2 Stylus wear detection method and the surface texture measuring instrument 有权
公开(公告)号：JP5536572B2
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：JP2010154066
申请日：2010-07-06
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：英樹三嶋 , 真吾黒木
IPC分类号： G01B5/00 , G01B5/28
CPC分类号： G01B5/28 , G01B21/042

75. 发明专利

JP5443515B2 Devices for tactile characterization of surface texture 有权
公开(公告)号：JP5443515B2
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：JP2011553468
申请日：2010-03-12
申请人：コミッサリアアレネルジーアトミークエオゼネルジザルタナテイヴ
发明人：フロリアン・ドゥ・ボワッシュー , ベルナール・ギアマ
IPC分类号： G01L5/00 , A61B5/00 , B25J13/08 , B29C39/02 , G01B5/28 , G01B7/34 , G01B21/30 , G01L5/16 , G01N19/02
CPC分类号： G01B5/28 , G01L5/161 , G01L5/226 , Y10T29/4998

76. 发明专利

JP5336279B2 Surface texture measuring device and a roundness measuring device 有权
公开(公告)号：JP5336279B2
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：JP2009161442
申请日：2009-07-08
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：樹中山 , 秀樹進藤
IPC分类号： G01B5/20 , G01B5/28
CPC分类号： G01B3/008 , G01B5/012 , G01B5/201 , G01B5/28
摘要： A roundness measuring apparatus includes: a stylus 40 having a contact part 42; a holding member 50 that holds the stylus 40 while allowing displacement of the contact part 42; an elastic member 60 that presses the contact part 42 against a measurement target object 24; a detector holder 28 that supports the holding member 50 rotatably; a motor 80; an elastic force adjustment member 90 that is rotatable and concentric with the holding member 50; a joining section that joins the elastic force adjustment member 90 with the holding member 50 to maintain relative rotational positions; and a restricting section 72 that restricts rotation of the elastic force adjustment member 90 at a predetermined rotational position. The displacement direction of the contact part 42 is adjusted in a first rotation range. The rotational position of the holding member 50 relative to the rotational position of the elastic force adjustment member 90 changes with the rotation of the elastic force adjustment member 90 being restricted in a second rotation range.

77. 发明专利

JP2013195241A Surface property measuring machine and method for measuring surface property 有权
标题翻译：表面性能测量机和测量表面性质的方法
公开(公告)号：JP2013195241A
公开(公告)日：2013-09-30
申请号：JP2012062746
申请日：2012-03-19
申请人： Mitsutoyo Corp , 株式会社ミツトヨ
发明人： HONDA HIROOMI , KUROKI SHINGO
IPC分类号： G01B5/28 , G01B5/20
CPC分类号： G01B5/28 , G01B5/20 , G01B21/047
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface property measuring machine capable of obtaining a substantial measurement distance when measuring a narrow part and simplifying operations before/after the measurement of the narrow part, and to provide a method for measuring surface properties.SOLUTION: The surface property measuring machine includes: a runup zone setting operation of moving a stylus towards an original point, braking the stylus when the stylus reaches the original point, stopping the stylus with it overrunning the original point, and waiting for a command of a measurement start with it stopped in the overrun state; a work setting operation of making the stopped stylus and a measurement point of a workpiece come into contact with each other; a runup operation of moving the stopped stylus to the measuring direction that is inverse to the overrun; and a measuring operation, when the stylus passes the original point by the runup operation, continuing the moving of the stylus while acquiring detection data from a detecting unit.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够在测量狭窄部分时测量窄部分并获得实质测量距离的简单表面性质测量机，并且简化了窄部测量之前/之后的操作，并提供了测量表面性质的方法。解决方案：表面特性测量机包括：将触笔朝向原点移动的流动区域设置操作，当触控笔到达原点时制动触针，停止触针超越原点，并等待测量开始指令它停在超限状态; 使停止的触针和工件的测量点彼此接触的工作设置操作; 将停止的触针移动到与超限相反的测量方向的活动操作; 以及测量操作，当触针通过运行操作的原点时，在从检测单元获取检测数据的同时继续移动触控笔。

78. 发明专利

JP5277033B2 Correction ball diameter calculating method and shape measuring device 有权
公开(公告)号：JP5277033B2
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：JP2009073572
申请日：2009-03-25
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：孝野田 , 博美出口
IPC分类号： G01B5/00 , G01B5/08
CPC分类号： G01B21/042 , G01B5/008 , G01B5/20 , G01B5/201 , G01B5/28 , G01B21/045
摘要： A corrected ball diameter calculating method includes: preparing a reference gauge that has at least one reference peripheral surface of an outer peripheral surface and an inner peripheral surface; valuing of diameter values of the reference peripheral surface at a plurality of different height positions from a bottom surface of the reference gauge; calculating calibrated diameter values per each of the height positions; placing the reference gauge on the rotary table and causing the stylus tip to touch a plurality of measurement sites on the reference peripheral surface at each of the height positions to calculate measured diameter values that are diameter values of a circle passing through the neighborhood of center points of the stylus tip; and calculating the corrected ball diameters per each of the height positions from the calibrated diameter values and the measured diameter values that are calculated per each of the height positions.

79. 发明专利

JP5221004B2 Measuring device, surface texture measuring method, and surface texture measuring program 有权
公开(公告)号：JP5221004B2
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：JP2006145294
申请日：2006-05-25
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：修弘石川
IPC分类号： G01B5/20
CPC分类号： G01B21/045 , G01B5/008 , G01B5/28

80. 发明专利

JP5155533B2 Correction program, and measuring device 有权
公开(公告)号：JP5155533B2
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：JP2006220083
申请日：2006-08-11
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：智徳後藤 , 聰一門脇 , 直治堀内 , 常太宮倉
IPC分类号： G01B5/20
CPC分类号： G01B5/20 , G01B5/28

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