会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 6. 发明授权
    • 플라즈마 공정용 이온에너지 제어 장치
    • KR102477298B1
    • 2022-12-12
    • KR1020210021253
    • 2021-02-17
    • H01J37/32H01L21/683
    • 본발명은플라즈마공정용이온에너지제어장치에관한것으로서, 플라즈마상태를유지하는내부공간이구비된플라즈마챔버와, 상기내부공간의상부에형성되는상부전극과, 상기내부공간의하부에설치되어플라즈마공정을위한웨이퍼가안착되도록마련되되내부에상호절연된제1 하부전극및 제2 하부전극이구비된정전척을포함하는플라즈마공정장비를이용한플라즈마공정용이온에너지제어장치에있어서, 제1 RF 전압을생성하여상기상부전극에공급하는제1 전원부와, 소정주파수를가지는사인파형의제2 RF 전압을생성하여상기제1 하부전극에공급하는제2 전원부와, 바이어스전압과소정주파수의펄스전압을각각생성하여상기제2 하부전극에공급하는제3 전원부와, 상기제2 RF 전압과상기제2 RF 전압파형에대응하는신호파형을가지는상기펄스전압을동시또는순차적으로공급하도록상기제2 전원부및 상기제3 전원부를제어하는전원제어부를포함하며, 상기펄스전압의공급시점이전에는상기내부공간에서의상기제1 RF 전압파형, 상기제2 RF 전압파형및 상기바이어스전압파형에기초한플라즈마발생에따른이온에너지분포에있어서영전위에대응되는제1 이온에너지값부터이온개수의제1 피크값이나타나는이온에너지값이후의기 설정된제1 임계값이하의이온개수를가지는제2 이온에너지값까지의제1 이온에너지구간을가지고, 상기펄스전압의공급시점이후에는상기내부공간에상기펄스전압을더 인가함에따른플라즈마발생에따른이온에너지분포에있어서상기제1 임계값보다는큰 이온개수들을가지는상기제2 이온에너지값이상의제2 이온에너지구간을가지는것을특징으로한다. 이에따라, 플라즈마발생에따른이온에너지의최대값부근의고에너지영역에분포된이온밀도를상대적으로증가시킬수 있어, 평균플라즈마전위에기초한이온에너지이하만을얻을수 있는종래의경우와비교하여플라즈마공정장비내에서더 높은이온에너지를얻을수 있는효과가있다.
    • 7. 发明授权
    • 12인치 반도체 웨이퍼 TTV 측정용 진공 스테이지 제조방법
    • KR102476390B1
    • 2022-12-12
    • KR1020210001486
    • 2021-01-06
    • H01L21/683H01L21/66H01L21/67H01L21/687
    • 본발명은반도체웨이퍼 TTV 측정용진공스테이지제조방법에관한것으로, 보다상세하게는, 세라믹소재를이용한성형공정, 그린가공, 소결공정, 정밀가공공정, 샌드블라스트공정, 초정밀가공공정및 검사공정을포함하는반도체웨이퍼 TTV 측정용진공스테이지제조방법에있어서, 상기소결공정은, 정밀가공공정에서성형된성형체를 500℃에서바인더가제거되도록하고, 1100℃에서전체부피의 60%가 1차적으로수축되도록하며, 1750℃에서전체부피의 40%가 2차적으로수축되도록, 순차적으로온도를높여소결하여소결체를형성하고, 상기정밀가공공정은, 선삭, 연삭가공테스트를거친다음, 가공저항력데이터를분석하고, 트루잉및 드레싱조건을결정한후, 선삭및 연삭에사용되는툴을선택한다음, 상기소결체를제1평면연삭, 원통연삭, MCT, 제2평면연삭과정을순차적으로수행하여평탄도 5㎛이하, 평행도 10㎛이하, 표면조도 Ra 0.3㎛이하로가공하고, 상기초정밀가공공정은샌드블라스트공정을거친소결체를 Lapping 및 Polishing을순차적으로수행하여평탄도 2㎛이하, 평행도 2㎛이하, 표면조도 Ra 0.1㎛이하로가공함으로써, 웨이퍼의 TTV 측정의정확성을높일수 있도록하는효과가있는유용한발명이다.