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首页 / 专利库 / 墙壁和隔断 / 墙壁 / 墙壁参数测试方法

墙壁参数测试方法

阅读:1041发布:2021-01-12

IPRDB可以提供墙壁参数测试方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本发明涉及穿墙雷达技术,特别涉及穿墙目标定位与成像技术。本发明公开了一种利用屏障反射波位置信息测试墙壁参数的方法,用于对隐蔽目标定位和成像等进行补偿和校正。本发明的墙壁参数测试方法,包括以下步骤:a.发射天线贴紧墙面发射电磁波;b.接收天线贴紧同侧墙面接收通过墙壁传输的电磁波;c.根据接收信号的位置信息计算墙壁参数。本发明的有益效果是,测试流程简单,运算过程易于实现,可以在墙壁另一面不能到达的情况下,得到精确的墙壁电磁参数,满足实际探测定位和成像的补偿和校正。,下面是墙壁参数测试方法专利的具体信息内容。

1.墙壁参数测试方法,包括以下步骤:a.发射天线贴紧墙面发射电磁波;

b.接收天线贴紧同侧墙面接收通过墙壁传输的电磁波;

c.根据接收信号的位置信息计算墙壁参数。

2.根据权利要求1所述的墙壁参数测试方法,其特征在于,所 述墙壁参数包括墙壁厚度和墙壁介电常数。

3.根据权利要求1所述的墙壁参数测试方法,其特征在于,所 述电磁波是中心频率为2GHz,带宽为2GHz,采样点数为801的步进 变频宽带连续波。

4.根据权利要求1所述的墙壁参数测试方法,其特征在于,所 述步骤c包括:c1.在距离发射天线不同距离处采集若干组回波数据;

c2.确定直接耦合信号与墙壁背面反射信号的位置信息;

c3.根据所述位置信息计算墙壁参数。

5.根据权利要求1、2、3或4所述的墙壁参数测试方法,其特 征在于,所述接收信号的位置信息为墙壁对电磁波的调制。

6.根据权利要求5所述的墙壁参数测试方法,其特征在于,所 述调制为相位调制。

说明书全文

技术领域

本发明涉及穿墙雷达技术,特别涉及穿墙目标定位与成像技术。

背景技术

穿墙监测(Through-the-Wall Surveillance,TWS)和穿墙成像 雷达(Through-the-Wall Radar Imaging,TWRI)通过发射一定频率 的电磁波信号穿透墙壁、建筑等屏障,依靠接收屏障后面的隐蔽目标 的反射波信息实现对其探测、定位、跟踪和成像。例如反恐斗争中, 对建筑物内恐怖分子和人质的探测、定位、跟踪和状态分析;对灾害 废墟中人员的搜索与救援等。
由于墙壁等屏障的存在,给定位、跟踪和成像等带来很大的误差, 所以需要对墙壁的影响进行补偿。而要补偿墙壁的影响,前提需要获 得精确的墙壁参数,现有墙壁参数估计方法仅停留在理论研究阶段, 不能满足雷达实际应用的需要。

发明内容

本发明所要解决的技术问题,就是提供一种利用屏障反射波位置 信息测试墙壁参数的方法,用于对隐蔽目标定位和成像等进行补偿和 校正。
本发明解决所述技术问题,采用的技术方案是,墙壁参数测试方 法,包括以下步骤:
a.发射天线贴紧墙面发射电磁波;
b.接收天线贴紧同侧墙面接收通过墙壁传输的电磁波;
c.根据接收信号的位置信息计算墙壁参数。
具体的,所述墙壁参数包括墙壁厚度和墙壁介电常数。
具体的,所述电磁波是中心频率为2GHz,带宽为2GHz,采样点 数为801的步进变频宽带连续波。
进一步的,所述步骤c包括:
c1.在距离发射天线不同距离处采集若干组回波数据;
c2.确定直接耦合信号与墙壁背面反射信号的位置信息;
c3.根据所述位置信息计算墙壁参数。
具体的,所述接收信号的位置信息为墙壁对电磁波的调制。
更具体的,所述调制为相位调制。
本发明的有益效果是,测试流程简单,运算过程易于实现,可以 在墙壁另一面不能到达的情况下,得到精确的墙壁电磁参数,满足实 际探测定位和成像的补偿和校正。

附图说明

图1是均匀墙壁中信号传播图;
图2是实施例1的测试方法示意图;
图3是实施例2的测试方法示意图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例详细描述本发明的技术方案。
假定墙壁相对介电常数为εr,厚度为dw,发射天线T和接收天 线R处在墙壁同一侧,相距x。如图1所示,当两天线贴紧墙壁时, 信号从发射天线T出发分成三部分回到接收天线R:
一、直达信号:
信号直接从墙壁内部耦合到接收天线R,从空气中泄露的信号很 少(忽略不计)。当收发天线的间距x增大时,接收信号以1/x2为衰 减因子减弱。在均匀的电介质墙壁中,直接耦合信号的位置与天线R 间距成线性关系,比例因子为
二、反射信号:
反射信号主要包括从墙壁后表面一次、二次、三次等反射回接收 天线R的信号,其中,墙壁一次反射信号的能量最强。天线间距不同 时,反射信号的强度不同,当收发天线间距在临界全反射距离附近时, 反射信号达到最强。
三、透射信号:
发射信号一部分穿透墙壁并由墙壁后面背景散射回接收天线,这 部分信号相比前两种信号而言,能量很弱。当墙壁后面背景为空或填 充吸收介质时,穿透墙壁的信号将不再返回接收天线。在本发明的墙 壁参数测试中,透射信号不予考虑。
所以,接收天线收到的回波信号主要包括直达信号和墙壁的一次 反射信号:
fR(t)=fl(t)+fr(t)
其中,fR(t)为接收天线接收到的信号,fl(t)为直达信号,fr(t)为 墙壁的一次反射信号。
假设点目标距离发射天线rT,距离接收天线rR,电磁波速度为c, 则回波延迟 τ = r T + r R c 。根据步进变频雷达的基本原理,雷达发射载 频线性跳频的信号,中心频率为fc,带宽为B,采样点数为N,起始 频率f0=fc-B/2,频率步进Δf=B/(N-1),则接收到的回波表达式 为:
c ( f ) = Ae - j 2 π ( f 0 + nΔf ) τ n = 0,1 , . . . , N - 1
对回波频点数据补零并进行离散傅立叶变换(IFFT)处理,得到 等效的时域脉冲:
d(t)=Asinc(B(t-τ))×ej2πfc(t-τ)
其幅度为|d(t)|=Asinc(B(t-τ))。
从上式可以看出,处理后的等效时域脉冲为辛格函数的形式,幅 度在目标回波延迟τ的位置出现最大值。
在图1所示墙壁信号传播模型中,接收的回波信号实际上为不同 反射强度不同距离的辛格形式回波的叠加,其中直接耦合信号和墙壁 一次反射的信号最强。在实际应用中,可以通过测定强信号的延迟来 确定直接耦合信号和墙壁一次反射信号的位置。例如,当两天线放置 合适位置,则可从回波中测定两个相对强峰的时延分别为τ1和τ2(假 设τ1<τ2,则τ1对应于直接耦合信号,τ2对应于墙壁一次反射信号), 所以直接耦合信号的位置l=cτ1,墙壁一次反射信号的位置r=cτ2。 据此即可得到接收信号的位置信息。
为了保证足够大的距离分辨率,减少墙壁对电磁波衰减,保证足 够的信噪比,在下面的实施例中,采用中心频率为2GHz,带宽为2GHz, 采样点数为801的步进变频宽带连续波作为探测信号。
实施例1
如图2所示,设墙壁厚度为dw,墙壁介电常数为εr,发射天线 贴紧墙面发射电磁波;
接收天线R和发射天线T贴紧同侧墙面,在距离x米处采集通过 墙壁传输的电磁波,其中包括直达信号fl(t)和墙壁一次反射信号 fr(t);
从回波信号中,确定直达信号fl(t)的位置l和墙壁一次反射信号 fr(t)的位置r,有:
l = ϵ r × x
r = 2 ϵ r × dw 2 + ( x / 2 ) 2
可以得到:
εr=(l/x)2
dw = ( r 2 ϵ r ) 2 - ( x 2 ) 2 = x 2 × ( r l ) 2 - 1
根据墙壁对电磁波的相位调制,可以确定l和r的值,根据上式 即可得到墙壁的参数——厚度dw和介电常数εr。在实际测量中,为 了减少随机误差,可以测定多组墙壁参数,然后求平均。
实施例2
如图3所示,当接收天线R1与发射天线T间距为x1时,从回波 信号中确定墙壁一次反射信号的位置r1;当接收天线R2与发射天线T 间距为x2时,确定墙壁一次反射信号的位置r2,则有:
( r 1 2 ) 2 = ϵ r × ( dw 2 + ( x 1 2 ) 2 )
( r 2 2 ) 2 = ϵ r × ( dw 2 + ( x 2 2 ) 2 )
所以:
ϵ r = r 2 2 - r 1 2 x 2 2 - x 1 2
dw = r 1 2 x 2 2 - r 2 2 x 1 2 r 2 2 - r 1 2 / 2
其中,r1和r2可以根据墙壁对电磁波的相位调制,通过回波测定。 在实际测量中,为了减少随机误差,可以测定多组墙壁参数求平均。
上述过程已经通过仿真和试验进行验证。
本发明可以在墙壁另一面无法到达的条件下,估计各种不同墙壁 的参数,用于对穿墙雷达目标定位、跟踪和成像等方面的补偿。
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