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主板热启动装置

阅读：885发布：2020-05-11

IPRDB可以提供主板热启动装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且一种主板热启动装置，其包括一连接器及一处理器，所述处理器包括一控制模块及一储存单元，所述控制模块与所述储存单元连接，所述连接器与所述控制模块连接，所述连接器用以将所述主板热启动装置与一主板电性连接，所述控制模块接收所述主板发送的一启动信号后，调用所述储存单元内预存的一主板重启信号，并将所述主板重启信号通过连接器输出到主板，使主板重启。所述主板热启动装置使主板的热启动测试过程实现自动化，节省人力及测试时间，保证了测试效率。，下面是主板热启动装置专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种主板热启动装置，其特征在于：所述主板热启动装置包括一连接器及一处理器，所述处理器包括一控制模块及一储存单元，所述控制模块与所述储存单元连接，所述连接器与所述控制模块连接，所述连接器用以将所述主板热启动装置与一主板电性连接，所述控制模块接收所述主板发送的一启动信号后，调用所述储存单元内预存的一主板重启信号，并将所述主板重启信号通过连接器输出到主板，使主板重启。

2.如权利要求1所述的主板热启动装置，其特征在于：所述主板重启信号为一储存于所述储存单元内的CTRL、ALT、及DEL的扫描码。

3.如权利要求1所述的主板热启动装置，其特征在于：所述连接器为一PS/2连接器，所述处理器为一单片机电路。

4.如权利要求3所述的主板热启动装置，其特征在于：所述单片机电路包括一单片机及一时钟发生电路，所述控制模块与所述储存单元集成于所述单片机内，所述时钟发生电路为所述单片机提供工作时钟，所述单片机包括一电源引脚、一时钟输出引脚及一数据引脚，所述连接器包括一电源引脚、一数据引脚、一时钟引脚及一接地引脚，所述单片机的电源引脚与所述连接器的电源引脚连接，所述单片机的时钟输出引脚与所述连接器的时钟引脚连接，所述单片机的数据引脚与所述连接器的数据引脚连接，所述单片机的控制模块通过所述数据引脚接收启动信号并向所述主板传输主板重启信号。

5.如权利要求4所述的主板热启动装置，其特征在于：所述单片机包括一接地引脚，所述单片机的接地引脚与所述连接器的接地引脚连接。

6.如权利要求4所述的主板热启动装置，其特征在于：所述时钟发生电路包括一晶振及若干电容器，所述单片机还包括一状态引脚、一重置引脚及两时钟输入引脚，所述单片机的状态引脚与所述单片机的电源引脚连接，所述单片机的重置引脚与所述单片机的接地引脚连接，其中一时钟输入引脚通过所述晶振与另一时钟输入引脚连接并通过一电容器与所述单片机的接地引脚连接，另一时钟输入引脚通过一电容器与所述单片机的接地引脚连接。

7.如权利要求6所述的主板热启动装置，其特征在于：所述单片机的重置引脚通过一电容与所述单片机的电源引脚连接。

8.如权利要求7所述的主板热启动装置，其特征在于：所述单片机为一AT89C51单片机，所述晶振的频率为11.0592MHz，所述时钟发生电路的两个电容器的容值均为33pF。

说明书全文

【技术领域】

本发明是关于一种主板热启动装置。

【背景技术】

在计算机主板研发的可靠性验证阶段，需要将主板置于计算机系统中，进行“开机—延时—关机—延时—开机”的循环测试，一般要测试1000次左右。而计算机系统的启动又有冷启动和热启动之分，计算机系统的热启动是在开机状态下同时按下键盘的CTRL、ALT和DEL键，通过计算机系统的系统软件控制机算机重新启动。在进行主板启动循环测试时要对应进行热启动测试，即将主板安装在计算机内后，通过同时按下键盘的CTRL、ALT和DEL 键给主板发送重启信号使主板重启。

在进行热启动测试时，重复的人工热启动操作使得测试过程繁琐，浪费不少人力，影响测试效率和进度。因此，有必要提供一种主板热启动装置，让计算机可以自动完成热启动，使主板热启动测试过程变得规范而科学。

【发明内容】

鉴于以上内容，有必要提供一主板热启动装置，以简化主板热启动测试过程。

一种主板热启动装置，其包括一连接器及一处理器，所述处理器包括一控制模块及一储存单元，所述控制模块与所述储存单元连接，所述连接器与所述控制模块连接，所述连接器用以将所述主板热启动装置与一主板电性连接，所述控制模块接收所述主板发送的一启动信号后，调用所述储存单元内预存的一主板重启信号，并将所述主板重启信号通过连接器输出到主板，使主板重启。

所述主板热启动装置使主板的热启动测试过程实现自动化，节省人力及测试时间，保证了测试效率。

【附图说明】

下面参照附图结合实施方式对本发明作进一步的说明。

图1是本发明主板热启动装置较佳实施方式的框图。

图2是本发明主板热启动装置较佳实施方式的电路图。

【具体实施方式】

参照图1，是本发明主板热启动装置较佳实施方式的框图，一主板热启动装置10包括一处理器12及一连接器14，所述处理器12包括一储存单元124 及一控制模块126，所述储存单元124与所述控制模块126连接，所述连接器 14与所述控制模块126连接，所述连接器14用以将所述主板热启动装置10与一主板电性连接，所述控制模块126接收所述主板发送的一启动信号后，调用所述储存单元124内预存的一主板重启信号，并将所述主板重启信号通过连接器14输出到主板，使主板重启。

参照图2，是本发明主板热启动装置较佳实施方式的电路图，所述处理器12为一单片机电路，所述连接器14为一PS/2连接器，其包括一电源引脚+5V、一数据引脚DATA、一时钟引脚CLK及一接地引脚GND，所述主板热启动装置10可通过所述连接器14安装于一主板的PS/2接口上。

所述单片机电路12包括一单片机120及一时钟发生电路122，所述储存单元124及控制模块126集成于所述单片机120内。

所述时钟发生电路122包括一晶振CRYSTAL及两个电容器C1和C2，所述晶振的频率为11.0592MHz，所述电容器C1和C2的容值均为33pF，所述时钟发生电路122为所述单片120机提供工作时钟。

所述单片机120为一AT89C51芯片，其包括一电源引脚VCC、一时钟输出引脚P0.0、一数据引脚P0.1、一状态引脚EA/VPP、一重置引脚RST、两时钟输入引脚XTAL1和XTAL2及一接地引脚GND，所述单片机120的电源引脚VCC与所述连接器14的电源引脚+5V连接，以提供单片机120 的工作电压，所述时钟输出引脚P0.0分别与所述单片机120的电源引脚VCC 及所述连接器14的时钟引脚CLK连接以传输一模拟时钟信号，所述数据引脚P0.1分别与所述单片机120的电源引脚VCC及所述连接器14的数据引脚DATA连接以收发数据信号，所述单片机120的状态引脚EA/VPP与所述单片机120的电源引脚VCC连接，所述重置引脚RST与所述单片机120的接地引脚GND连接，所述单片机120的重置引脚RST还通过一电容器C3 与所述单片机120的电源引脚VCC连接，提供交流电保护，所述时钟输入引脚XTAL2通过所述晶振CRYSTAL与另一时钟输入引脚XTAL1连接并且通过一电容器C1与所述单片机120的接地引脚GND连接，所述时钟输入引脚XTAL1通过一电容器C2与所述单片机120的接地引脚GND连接，将所述时钟发生电路122与所述单片机120连接，所述单片机120的接地引脚GND与所述连接器14的接地引脚GND连接。

所述主板重启信号为一CTRL、ALT和DEL的扫描码，储存于所述单片机120的储存单元124内，所述单片机120的控制模块126通过所述数据引脚P0.1接收启动信号，并控制该扫描码的发送。

在主板热启动测试过程中，将所述主板热启动装置10安装于一待测主板的PS/2接口上，所述待测主板通过所述连接器14的数据引脚DATA向所述主板热启动装置10发送一启动信号，所述主板热启动装置10对该启动信号做出响应，通过所述连接器14的数据引脚DATA向所述待测主板输出一 CTRL、ALT和DEL的扫描码，使所述待测主板重启。

所述主板热启动装置10使主板的热启动测试过程实现自动化，节省人力及测试时间，保证了测试效率。

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