所有类型的电路器件、包括(但不限于)电、光、有源和无源器 件通常以保护该电路器件、但需要时允许外部耦连到该电路器件的形 式封装，并且尽可能低成本，同时仍然允许电路器件的功用。利用能 够改善电路器件封装的标准的、已经存在的工具和工艺是电路器件封 装进步的低成本方案。
商业传递或者销售仅被部分封装的电路器件变得更普遍。然后可 以将这些部分封装的电路器件与其它电路器件结合，并且以最后的形 式封装，得到需要的最后的电路。

借助于例子说明本发明，并且不受附图的限制，其中相同的附图 标记表示相同的元件，其中：
图1-4示出了根据本发明一个实施例形成的至少具有部分封装 的多个电路器件的顺序截面图；
图5示出了根据本发明一个实施例形成的图4的至少具有部分封 装的多个电路器件的底视图；
图6示出了根据本发明一个实施例形成的至少具有部分封装的多 个电路器件的截面图；
图7示出了根据本发明一个实施例形成的至少具有部分封装的电 路器件的顶视图；
图8示出了根据本发明一个实施例形成的图7的至少具有部分封 装的电路器件的截面图；
普通技术人员应理解，为了简单和清楚而说明了图中的元件，并 且不需要按比例绘制这些元件。例如，相对于其它元件，可以放大图 中某些元件的尺寸，以帮助理解本发明的实施例。

图1示出了覆盖粘合层12设置的导电层10的截面图。在本发明 的一个实施例中，使用支撑结构9来支撑粘合层12。导电层10和粘 合层12之间的界面形成平面11。导电层10可以由导电的任何材料形 成。在本发明的一些实施例中，导电层10可以是导电框，例如引线框。 引线框可以由适当性能的任何导电材料形成，例如铜或者42号合金。 在本发明的可选择实施例中，导电层10可以是导电基板，例如包含多 个互连层的多层基板。粘合层12可以由粘性的任何材料形成。在本发 明的一个实施例中，粘合层12是具有沿着平面11与导电层10接触的 粘接表面的胶带。在本发明的可以选择的实施例中，粘合层12可以不 具有涂覆的粘接剂，直到图2。在本发明的一个实施例中，导电层10 具有开口405-407。本发明的可选择实施例可以具有导电层10中的 任何形状、任何数量的开口。
图2依序示出了图1的截面图，其中添加了多个电路器件14。多 个电路器件14包含放置在开口405中的电路器件15、放置在开口406 中的电路器件16和放置在开口407中的电路器件17。注意，开口405 -407至少部分围绕它们相应的电路器件15-17。在本发明的某些实 施例中，开口405-407完全围绕它们相应的电路器件15-17。注意， 在本发明的可以选择的实施例中，多于一个的电路器件(例如15-17) 可以位于单个开口(405-407)内。多个电路器件14的一个或者多个 可以是执行相同功能的相同的电路器件，或者可以是执行不同功能的 不同的电路器件。在本发明的某些实施例中，在电路器件14放置到它 们各自的开口405-407中之前，给电路器件14的一个或者多个施加 粘接剂。然后施加给一个或者多个电路器件14的粘接剂与层12接触， 形成在后续的包封步骤(参见图3)中将电路器件保持到位的粘合层 12的粘接部分。
电路器件14至少具有一个表面，该表面是有源的并且基本上与 导电层10的表面共面(例如，沿着图2所说明的实施例中的平面11)。 在说明的实施例中，认为电路器件15-17的有源表面是电路器件15 -17的底部，这些底面粘性耦连于粘合层12。在图2所说明的实施例 中，电路器件15的有源表面包含多个接触焊盘18，电路器件16的有 源表面包含多个接触焊盘19，电路器件17的有源表面包含多个接触 焊盘20。本发明的可选择实施例可以包含每单个电路器件14上的多 个或者更少接触焊盘。这些接触焊盘18-20利用本领域已知的各种工 艺和材料以任何方式形成在电路器件15-17上。在本发明的一个实施 例中，至少一个开口405-407(参见图1)至少部分围绕至少一个电 路器件15-17。
图3依序示出了图2的截面图，其中添加了模具21，由此形成空 腔22。利用任何适当的包封方法(例如注入模制或者转移模制)通过 一个或者多个开口414提供包封。可以选择使用其它的包封方法，例 如分配模制(dispense molding)和空腔注入模制。
图4依序示出了图3的截面图，其中在包含电路器件14和导电 层10之间的一个或者多个间隙的空腔被包封层24部分或者全部填充 之后除去了模具21。对于本发明的某些实施例，例如，如果粘合层12 是粘接带，则可以除去粘合层12。在本发明的某些实施例中，包封层 24可以是能够模制的任何类型的非导电材料，例如热固性模制化合物 或者填充的热塑性树脂，作为绝缘材料。在本发明的可选择实施例中， 包封层24可以是能够模制的任何类型的导电材料，例如具有金属填料 的热固性环氧树脂或者具有金属填料的热塑性塑料。金属填料可以是 任何类型的导电材料，例如银、铜、导电涂覆的聚合物球和导电的纳 米粒子。金属填料可以是粒子形式。注意，在本发明的某些实施例中， 导电层10或者其一部分作为参考电压面例如地平面或者较高的电压 参考面。这种电压参考面的一个好处是能够在互连层328内制造一个 或者多个控制的阻抗电路，例如导体461(参见图8)。
图5示出了根据本发明的一个实施例形成的图4的至少具有部分 封装的多个电路器件15-17的近似底视图。图5所示的结构还包含图 4中未示出的多个附加电路器件28。在本发明的可选择实施例中，电 路器件15-17和28可以包含任何数量的电路器件，并且可以以任何 合理尺寸的一维或者二维阵列设置。该阵列可以对称，也可以不对称。
在本发明的一个实施例中，导电层10是作为具有开口以容纳电 路器件15-17和28的电压参考平面的阵列示出的。注意，在图5所 示的本发明的实施例中，通过多个梁(spar)(例如梁416)将电压 参考平面保持在一起，这些梁是导电层10的一部分，并且为了清楚在 图1-4中未示出。本发明的可选择实施例可以不使用梁416。梁416 提供了物理连接具有开口(例如405-406)的多个电压参考平面的方 式，使得利用相同的导电层10可以同时进行多于一个电路器件(例如 15和16)的部分或者完全封装。在本发明的某些实施例中，可以将梁 416固定到外围栏(outer rail)或者框(未示出)上。然后通过切割 梁416和位于参考平面405-407之间的其它材料可以得到单体。注意， 电路器件15-17和28可以通过切割围绕每单个电路器件15-17、28 的适当梁416而分离。
图6示出了根据本发明一个实施例形成的至少具有部分封装多个 电路器件115-117的截面图。粘合层112插在导电层100和电路器件 115-117之间。包封层126可以按与图4的包封层24相同的方式和 材料形成。可以使用导电层100中的一个或者多个开口128，以允许 与电路器件115的有源面上的一个或者多个接触焊盘118电连接。可 以使用导电层100中的一个或者多个开口129，以允许与电路器件116 的有源面上的一个或者多个接触焊盘119电连接。可以使用导电层100 中的一个或者多个开口130，以允许与电路器件117的有源面上的一 个或者多个接触焊盘120电连接。注意，在放置电路器件(例如115 -117)的区域中可以减薄导电层100，以便简化用来通过开口128- 130形成互连的工艺。在图6所示的实施例中，导电层100作为电路 器件117-119和后来添加的任何互连层(例如图8中的328)之间的 应力解耦层，从而提高潜在的可靠性。除了导电层100之外，该应力 缓冲功能可以作为参考平面。
注意，在图6所示的实施例中，电路器件115-117的有源面基本 上与导电层100的一个表面共面，而相反的表面(有源或者非有源表 面)可以总体上通过包封层126包封(对于电路器件116和117)， 或者可以基本上与包封层126的相反表面431共面(对于电路器件 115)。如果器件115的相反表面430基本上与包封层126的相反表面 431共面，则能够直接将热沉(未示出)附着到电路器件115的表面 430，以便从电路器件115散热。如果电路器件115是使用大功率的电 路器件，散热尤其重要。电路器件(例如电路器件15)的相反表面430 基本上与包封层126的表面431共面可以用于本发明的任何适当的实 施例，包括例如图4和图8所示和描述的实施例。还应注意，具有有 源表面的每个电路器件115-117的底部位于电路器件115-117的顶部 和导电层100的顶部之间。
导电层100可以由导电并且具有适当性能的任何材料形成。在本 发明的某些实施例中，导电层100可以是导电框，例如引线框。引线 框可以由任何导电材料形成，例如铜或者42号合金。在本发明的可选 择实施例中，导电层100可以是导电基板，例如包含多个互连层的多 层基板。粘合层112可以由粘性的任何材料形成。在本发明的一个实 施例中，粘合层112是具有与导电层100接触的粘接表面的胶带。在 本发明的可选择实施例中，粘合层112可以不具有涂覆的粘接剂，直 到利用夹在粘合层12和电路器件115-117之间的粘接剂将电路器件 115-117放置在导电层100上。在某些实施例中，粘合层12可以是带 或者液体粘接剂，例如在放置电路器件115-117之前通过浸入、分配 或者压印转移而涂覆的环氧树脂。
图6还示出了导电层100可以具有基本上与包封层126的同一相 反表面431共面的一个或者多个部分。图6示出了其中电子器件102 利用本领域已知的各种方法例如焊接或者导电粘接剂通过接触焊盘/ 互连101耦连到部分导电层100的例子。电子器件102可以是任何类 型的有源或者无源器件，并且可以具有任何数量的端子。注意，在本 发明的某些实施例中，电子器件102不埋置到包封126中，因此容易 测试和替换。
图7示出了根据本发明的一个实施例形成的至少具有部分封装的 电路器件200的顶视图。在本发明的一个实施例中，电路器件200可 以是集成电路芯片。注意，在本发明的某些实施例中，电路器件15-17、 28(参见图1-5)和电路器件115-117(参见图6)也可以是集成电路 芯片。图8示出了图7的至少具有部分封装的电路器件200的截面图。
图7示出了电路器件200，电耦连电路器件200，以从称作输入/ 输出电源201的电压参考平面接收较高电压、从称作芯电源203的电 压参考平面接收较高电压、从称作输入/输出接地204的电压参考平面 接收较低或者地电压和从称作芯接地202的电压参考平面接收较低或 者地电压。在本发明的某些实施例中，输入/输出电源201、芯电源203、 输入/输出接地204和芯接地202是彼此电隔离的导电层的所有部分。 在本发明的一个实施例中，输入/输出电源201和输入/输出接地204 通过去耦电容器212和213电去耦。同样，芯电源203和芯接地202 可以通过去耦电容器214和215电去耦。注意，在所示实施例中，使 用接触焊盘216电连接电容器212-215和电压参考平面201-204。去耦 电容器212-215可以利用本领域已知的各种方法例如焊接或者导电粘 接剂电耦连到接触焊盘216。
参考图7和8，注意，在本发明的某些实施例中，电路器件200 可以通过互连层328的部分450电耦连到导电层(201-204，224)的 芯电源部分203。在可选择的实施例中，电路器件200可以电耦连到 导电层(201-204，224)的任何需要的部分(例如201-204)。注意， 导电层(201-204，224)或者其电隔离部分可以作为一个或者多个参 考电压平面。
对于本发明的某些实施例，包封层326(参见图8)可以是导电 的。如果包封层326导电，则可以形成穿过导电层(202，203，224) 到达互连层328的一个或者多个开口(例如开口470)。开口470是 导电层(203、202、224)的部分203中的开口。借助于通路332，开 口470可以用来电连接包封326和互连层328的一个或者多个部分。 例如，借助于开口470、通路332和互连层328，通过将适当的电压(例 如电源或者地)耦连到包封层326，可以使用包封层326作为电压参 考平面。在本实施例中，即使导电层202、203的覆盖区域小，在包封 层326作为参考平面的情况下，受控的阻抗电路、例如导体460(参 见图8)也能够在互连层328内。包封层326还可以执行电子器件200 的电屏蔽功能。注意，如果包封层326是导电的，那么由于应从电学 上缩短其端子的事实，因此电子器件(例如220)将不包封在包封层 326内，如图8所示。
本发明的可选择实施例可以不用导电的包封。参考图8，如果包 封层326是非导电的，则可以覆盖电路器件200形成导电层415，以 便提供电屏蔽和电压参考。注意，可以作为多步骤包封工艺的一部分 形成导电层415。那么作为多步骤包封工艺的后续部分，可以覆盖层 415形成非导电包封层326。在本发明的可选择实施例中，多于一个的 电路器件(例如200)可以位于单个的导电层415内。
互连层328可以包含互连的一级或者多级，并且可以利用本领域 已知的各种电路化工艺例如高密度互连内建、层叠或者薄膜工艺形成。 在本发明的一些实施例中，穿过柔顺(compliant)聚合物层412的通 路331将互连层328的接触焊盘330耦连导电球334。本发明的可选 择实施例可以具有多个这种通路，以电连接互连层328和多个球(例 如334)。导电球334可以由任何适当的导电材料形成，例如焊料或 者围绕聚合物芯338的焊料336。注意，在本发明的某些实施例中， 互连层328下面的结构(例如412、331、330、334)可以起到提供互 连层328和其它结构(未示出)之间的应力缓冲的作用，所述其它结 构是后来附着到导电球上的结构(例如334)。
在本发明的某些实施例中，电子器件220、无论有源还是无源都 可以电耦连到导电层224的顶表面上，该顶表面自身是导电层202的 隔离部分。注意，电耦连到电子器件220左端子的224的左部分可以 与电耦连到电子器件220的右端子的224的右部分电隔离。在一个实 施例中，电子器件220借助于在224的顶表面上制造的一个或者多个 接触焊盘228电耦连到导电层224。这样，电子器件220可以借助于 导电层224电耦连到互连层328。在本发明的一些实施例中，包封层 326的一个或者多个部分(例如226)可以起到绝缘导电层的一个或者 多个部分(例如224)的作用。可以利用本领域已知的各种方法例如 焊接或者导电粘接进行器件220的电耦连。注意，在本发明的一些实 施例中，与导电层的其余部分202-203相比，可以降低导电层224的 高度，允许电子器件220的较低附着高度和封装的较低潜在轮廓 (potential profile)。
导电层(202、203、204)可以由导电的任何适当材料形成。在 本发明的某些实施例中，导电层(202、203、204)可以是导电框，例 如引线框。引线框可以由任何导电材料形成，例如铜或者42号合金。 在本发明的可选择实施例中，导电层(202、203、204)可以是导电基 板，例如包含多个互连层的多层基板。
注意，如果利用与包封326相同种类的材料形成互连层328，例 如液晶聚合物(LCP)或者聚苯硫醚(PPS)等的热塑性塑料，那么 电路器件200及其328内的相应互连可以封入材料的恰当的、无缝单 块中，并且表示图8所示包封326和互连层328之间界面的水平线将 不再存在。这样的封装结构说明由于较少的潮气入侵和会分层的不同 材料之间的界面数量减少而提高了可靠性。在本发明的一个实施例中， 对于包封326和互连层328使用相同种类材料的情况下，可以使用用 于制造互连层328的叠层技术。而且，注意，在这种情况下，可以使 用注入模制来施加包封326。
注意，在苯发明的某些实施例中，其中包封126是非导电的，导 电层的一个或者多个部分(例如图6的100；图7的201-204和224； 图8的224)与导电层的其它部分可以物理分离或者电隔离，以提供 与其它器件(例如图6的102和图8的220)的电连接。
在前面的说明书中，已经参考具体实施例描述了本发明。然而， 本领域技术任意应理解，在不离开如下权利要求所提出的本发明范围 的情况下，可以进行各种修改和改变。据此，说明书和附图应认为是 说明性的，而非限制性的。这样的修改都包含在本发明的范围内。
上面根据具体实施例描述了利益、其它优点和问题的技术方案。 然而，会使任何利益、优点或者方案出现或者变得更显著的利益、优 点、问题的技术方案和任何部件都不应认为是任何或者所有权利要求 的临界的、必须的或者必要的特征或者部件。如这里所使用的，术语“包 括”及其任何其它变化都应覆盖非排除的包含，使得包括元件列表的工 艺、方法、制品或者装置都不仅包含那些元件，而且可以包含没有列 出的其它元件或者对于这种工艺、方法、制品或者装置来说固有的元 件。