过去，在食品等商品的生产线中，为了防止商品中混入异物或商 品存在缺陷的不合格商品出厂，使用X射线检查装置对商品进行检查。 在该X射线检查装置中，对由输送机连续输送的被检查物照射X射线， 以X射线受光部检测该X射线的穿透状况，判断被检查物中是否混入 了异物、被检查物是否存在缺陷或者单位被检查物内的内容物的数量 是否不足。此外，有时也利用X射线检查装置进行对单位被检查物内 的内容物数量进行计数的检查。
对于上述X射线检查装置，在检查对象是食品等商品时，从卫生 的角度考虑，要经常将输送机拆下来反复进行清洗。此时，如果在经 常进行拆装的输送机未能安装在正常位置上时进行X射线的照射，则 存在着X射线在装置内部发生漫射而泄漏到装置外部的危险性。
为此，有人提出一种具有能够确认输送被检商品的输送机是否正 常安装的功能的X射线检查装置(参照专利文献1)。专利文献1所公 开的X射线检查装置中，在装置内部的输送机安装位置上设置了未屏 蔽检测器，输送机未正常安装时，未屏蔽检测器检测出未屏蔽状态而 禁止X射线的照射。这样，可以防止在输送机未正常安装或忘记安装 输送机的情况下进行X射线的照射而导致X射线泄漏到装置外部。
专利文献1：特开2002-71588号公报(平成14年3月8日公开)
但是，上述现有的X射线检查装置存在着下面的问题。
即，上述公报所公开的X射线检查装置中，虽然具有检测输送机 安装状态的未屏蔽检测器因而很容易确认输送机是否正常安装，能够 防止X射线泄漏，但由于需要另外设置未屏蔽检测器，因而存在着成 本增加的问题。

本发明的任务是，提供一种不必为确认输送机是否正常安装而另 外设置其它零部件，从而能够以简单的结构确认输送机是否正常安装 的X射线检查装置。
第1技术方案所涉及的X射线检查装置是一种对被输送的物品照 射X射线，以对穿透物品后的X射线进行检测的方式进行物品的检查 的X射线检查装置，具有照射部、受光部、输送部、X射线遮挡部、控 制部。照射部对作为检查对象的物品照射X射线。受光部对从照射部 射出的X射线进行检测。输送部设置在照射部与受光部之间，进行作 为检查对象的物品的输送。X射线遮挡部与输送部一体成形，对从照射 部射出的X射线的一部分进行遮挡，并设置在输送部上的X射线照射 区域上。控制部根据受光部的X射线检测量检测出X射线被X射线遮 挡部遮挡的位置。并且，根据该位置判断输送部是否正确安装。
在这里，形成有与输送作为检查对象的物品的输送部一体成形、 并对从照射部射出的X射线进行遮挡的X射线遮挡部。而且，在开始 进行物品检查之前，由照射部照射X射线，由受光部检测出穿透物品 后的X射线。当受光部上的被X射线遮挡部遮挡而X射线检测量比其 它区域少的区域所在的位置、与输送部正常安装时所应当检测出的位 置一致时，控制部判定输送部正常安装。另一方面，当受光部上的被X 射线遮挡部遮挡而X射线检测量少的区域所在的位置、与输送部正常 安装时所应当检测出的位置不一致时，或者检测不到X射线检测量少 的区域时，控制部判定输送部未正常安装。
在这里，如果用于输送作为检查对象的物品的输送部未被正常安 装在X射线检查装置的本体上，则存在着在装置内部漫射的X射线泄 漏到装置外部的危险性。因此，在现有的X射线检查装置中，为了在 物品检查开始之前检测输送部是否正常安装在X射线检查装置的本体 上，设置有输送部正常安装时允许进行X射线的照射的开关等。但是， 这种使用开关的方法，存在着需要要增加成本和制造工序的问题。
为此，在本发明的X射线检查装置中，为了确认输送部是否被正 常安装，设有与输送部一体成形的X射线遮挡部。因此，通过检测受 光部上的被X射线遮挡部遮挡的部分、即X射线检测量少的部分，并 与正常安装时所应当检测出的位置进行比较，很容易确认输送部是否 正常安装。因此，即使不另外设置开关等复杂的机构，也能够以在输 送部上形成X射线遮挡部这一简单的结构确认输送部是否正常安装。
作为将X射线遮挡部与输送部一体成形的方式，可以将X射线遮 挡部作为输送部的一部分来实现，也可以另外单独形成X射线遮挡部 后固定在输送部上来实现。
第2技术方案所涉及的X射线检查装置是在第1技术方案所涉及 的X射线检查装置中，控制部一旦判定输送部未被正常安装便禁止照 射部照射X射线。
在这里，当通过开始检查物品之前所进行的X射线的照射做出输 送部未正常安装的判断时，控制部进行禁止照射部照射X射线的控制。
因此，即使输送部未被正常安装，也不存在X射线在装置内部漫 射而泄漏到外部的危险性。
第3技术方案所涉及的X射线检查装置是在第1或第2技术方案 所涉及的X射线检查装置中，还具有存储部，用于储存当输送部被正 常安装时被X射线遮挡部遮挡的受光部位置。
在这里，储存了输送部安装在正常位置时X射线被X射线遮挡部 遮挡的受光部位置、即受光部上的X射线检测量比其它区域少的部分。
因此，物品检查开始之前，根据进行X射线的照射时受光部上检 测的所述X射线检测量少的部分的位置是否与存储部中所储存的位置 一致，很容易确认输送部的安装是否被被正常进行。例如，若存储部 所储存的位置与实际检测结果不一致，则判定输送部的安装不正常。 而如果存储部所储存的位置与实际检测结果一致，则可判定输送部的 安装正常。其结果，很容易判断输送部是否正常安装，能够切实避免 在输送部未完全安装好的状态下照射X射线进行物品的检查。
第4技术方案所涉及的X射线检查装置是在第1至第3技术方案 中任一项所涉及的X射线检查装置中，X射线遮挡部与构成输送部的框 架一体成型。
在这里，X射线遮挡部是例如在输送部的框架上形成的狭缝或开口 那样与构成输送部的框架一体成型的。
因此，不必进行使输送部与X射线遮挡部一体化的作业，由于原 本就是一体，因而与相对于输送部另外形成X射线遮挡部的情况相比， 可使结构更为简单。
第5技术方案所涉及的X射线检查装置是在第1至第4技术方案 中任一项所涉及的X射线检查装置中，输送部是具有用来输送物品的 无接头的传送带、驱动传送带旋转的驱动机构、以及设置在传送带的 内侧的框架的输送机。
在这里，作为输送部，使用的是具有传送带和驱动机构和框架的 输送机。
因此，例如能够利用框架上所形成的开口或狭缝，利用框架的一 部分来形成X射线遮挡部。
第6技术方案所涉及的X射线检查装置是在第5技术方案所涉及 的X射线检查装置中，输送机的框架上形成有狭缝部，所述X射线遮 挡部是所述框架中用于形成所述狭缝部的部分。
在这里，输送机的框架上形成有狭缝，将形成有该狭缝的框架部 分作为X射线遮挡部使用。
这样一来，由于以形成狭缝的框架部分对X射线进行遮挡，因此， 通过将该被遮挡的受光部位置作为基准，很容易确认输送机是否正常 安装。
第7技术方案所涉及的X射线检查装置是在第5技术方案所涉及 的X射线检查装置中，输送机的框架上形成有开口部，X射线遮挡部是 框架中用于形成开口部的部分。
在这里，为了对穿透物品后的X射线进行检测，是根据原本形成 于输送机的框架上的开口与受光部二者的位置关系，形成作为框架的 一部分的X射线遮挡部的。即，将形成现有的X射线检查装置也具有 的输送机框架上的开口的框架部分作为X射线遮挡部使用。
例如，将一部分受光部设置在X射线被形成开口的框架部分遮挡 的位置上。这样，在输送机正常安装时，X射线被X射线遮挡部遮挡的 一部分受光部的X射线检测量要比其它区域少，而输送机未正常安装 时，所述一部分受光部将检测到大量的X射线。
如上所述，根据设置在X射线被形成开口的框架部分遮挡的位置 上的受光部是否检测到X射线，很容易确认输送部是否正常安装。
第8技术方案所涉及的X射线检查装置是在第1至第7技术方案 中任一项所涉及的X射线检查装置中，受光部是线性传感器。
在这里，受光部使用的是线性传感器。例如，将线性传感器设置 在输送部上的与输送方向相垂直的方向上，在线性传感器的各像素上 进行X射线的检测。在这里，例如采用在输送部正常安装时可使线性 传感器两端的X射线被作为X射线遮挡部的形成框架上所形成的开口 的框架部分遮挡这样一种结构，对线性传感器两端的多个像素是否检 测到X射线进行确认。
因此，只需确认线性传感器两端的既定的像素是否检测到X射线， 便很容易确认输送部是否正常安装。
第9技术方案所涉及的X射线检查装置是在第8技术方案所涉及 的X射线检查装置中，X射线遮挡部设置在对线性传感器的某一端或两 端的用于遮挡X射线的位置上。
在这里，将X射线遮挡部设置在妨碍照射部射出的X射线被线性 传感器的端部检测到的位置上。例如在输送部是输送机时，只要使线 性传感器的长度比框架上所形成的X射线检测用开口在与输送方向相 垂直的方向上的长度长即可。
因此，当进行物品检查之前照射X射线而X射线检测量比其它像 素少的像素所在的位置与线性传感器的某一端或两端的既定数量的像 素一致时，可判定输送部已被正常安装。而当X射线检测量少的像素 的位置不在线性传感器的端部时，或者数量在既定数量以上或不足既 定数量时，或者检测不到时，均可判定输送部未被正常安装。

图1是本发明一实施方式所涉及的X射线检查装置的外观立体 图。
图2是展示X射线检查装置的前后的构成部分的附图。
图3是展示X射线检查装置的屏蔽箱的内部构成的简易图。
图4是展示X射线检查装置的屏蔽箱内的输送机框架的俯视图。
图5(a)是展示安装有输送机时的X射线照射状态以及此时的线 性传感器的X射线检测量的波形的附图，(b)是展示未安装输送机时 的X射线照射状态以及此时的线性传感器的X射线检测量的波形的附 图。
图6是控制计算机的构成框图。
图7是展示X射线检查原理的示意图。
图8是安装在本发明其它实施方式所涉及的X射线检查装置内的 输送机框架的俯视图。
图9(a)是展示X射线照射在图8所示输送机框架上的状态以及 此时的线性传感器的X射线检测量的波形的附图，(b)是将图(a) 所示X射线检测量波形双值化后的波形图。
附图标记说明
10    X射线检查装置
11    屏蔽箱
11a   开口
12    输送机
12a   输送机皮带(传送带)
12b   输送机框架(框架)
12c   开口部(开口)
12d   遮挡部(X射线遮挡部)
12e   狭缝
12f   输送机马达(驱动机构)
12g   旋转式编码器
13    X射线照射器(照射部)
14    X射线线性传感器(受光部，线性传感器)
14a   像素
15    光电传感器
16c   屏蔽帘
20    控制计算机(控制部)
21    CPU
22    ROM(存储部)
23    RAM(存储部)
24    USB(外部连接端子)
25    CF(微型闪存(注册商标)，存储部)
26    监视器
G     商品

下面，对本发明一实施方式所涉及的X射线检查装置结合图1～图 9(b)进行说明。
[X射线检查装置的总体构成]
本实施方式的X射线检查装置10如图1所示，是一种在食品等商 品的生产线上进行质量检查的装置。X射线检查装置10对连续输送过 来的商品照射X射线，根据穿透商品后的X射线的量进行商品中是否 混入了异物的检查。
如图2所示，将作为X射线检查装置10的被检查物的商品G通过 前级输送机60输送到X射线检查装置10中。在X射线检查装置10中 判断商品G中是否混入了异物。该X射线检查装置10的判断结果发送 给设置在X射线检查装置10的下游侧的分选机构70。分选机构70在 商品G在X射线检查装置10中被判定为合格品时，将商品G直接送往 正式的生产线输送机80中。而当商品G在X射线检查装置10中被判 定为不合格品时，以下游侧端部为旋转轴的挡杆70a旋转而将输送通 路挡住。由此，可将被判定为不合格品的商品G通过设置在脱离输送 通路的位置上的不合格品回收箱90回收。
如图1所示，X射线检查装置10主要具有屏蔽箱11、输送机12、 屏蔽帘16、具有触摸屏功能的监视器(显示装置)26。另外，如图3 所示，其内部具有X射线照射器(照射部)13、X射线线性传感器14、 控制计算机(控制部)20(参照图6)。
[屏蔽箱]
屏蔽箱11在商品G的入口侧与出口侧两个面上，具有供商品进出 的开口11a。在该屏蔽箱11中，内装有输送机12、X射线照射器13、 X射线线性传感器14、控制计算机20等。
此外，如图1所示，为了防止X射线泄漏到屏蔽箱11的外部，将 开口11a用屏蔽帘16遮挡。该屏蔽帘16具有含铅橡胶制造的帘子部 分，在商品出入时可被商品顶开。
此外，在屏蔽箱11的正面的上部，除了监视器26之外还设置有 钥匙插孔和电源开关。
[输送机]
输送机12是在屏蔽箱11内输送商品的设备，由图6的控制框图 中所包含的输送机马达(驱动机构)12f驱动。对于输送机12的输送 速度，通过以控制计算机20对输送机马达12f进行逆变控制可进行微 调，使之达到操作者所输入的整定速度。
此外，如图3所示，输送机12具有输送机皮带12a和输送机框架 12b，以可拆装的状态安装在屏蔽箱11上。这样，在对食品等进行检 查时，可以经常将输送机拆下来进行清洗以保持屏蔽箱11内的清洁。
输送机皮带12a是无接头皮带，从皮带的内侧得到输送机框架12b 的支撑。此外，通过在输送机马达12f的驱动力的作用下进行旋转而 将放置在皮带上的物体向预定方向输送。
输送机框架12b从无接头皮带的内侧对输送机皮带12a进行支 撑，并如图3和图4所示，在与输送机皮带12a的内侧表面相向的位 置上，具有在垂直于输送方向的方向上切成长条形开口的开口部12c。 开口部12c在输送机框架12b上是在连接X射线照射器13与X射线线 性传感器14的直线上形成。换言之，开口部12c形成在输送机框架12b 上X射线照射器13的X射线的照射区域内，是为了使穿透商品G后的 X射线不被输送机框架12b遮挡而形成的。
此外，通过开口部12c的形成，作为输送机框架12b的一部分， 在开口部12c的长度方向的两侧形成了对从X射线照射器13射出的X 射线的一部分进行遮挡的遮挡部(X射线遮挡部)12d。如图3和图5 (a)所示，遮挡部12d是在与输送方向相垂直的方向上从开口部12c 的两端到输送机框架12b的两端之间的部分。因此，如图5(a)所示， 对呈扇形照射的X射线的两端的一部分进行遮挡，使得设置在输送机 12下方的X射线线性传感器14两端的数个像素的X射线检测量减小。 此外，遮挡部12d是作为输送机12的一部分而形成，因而当然将与输 送机12一起移动。
[X射线照射器]
X射线照射器13如图3所示，设置在输送机12的上方，经输送机 框架12b上形成的开口部12c，朝向设置在输送机12的下方的X射线 线性传感器(受光部，线性传感器)14呈扇形射出X射线(参照图3 的阴影部分)。
从X射线照射器13射出的X射线如图3和图5(a)所示，照射在 从输送机框架12b的中心到从开口部12c的两端超出若干(X射线线性 传感器14的数个像素的量)的区域，并且，如图5(b)所示，照射在 包括X射线线性传感器14的两端的像素14a在内的区域。
[X射线线性传感器]
X射线线性传感器14设置在输送机12(开口部12c，遮挡部12d) 的下方，对穿透商品G和输送机皮带12a后的X射线进行检测。该X 射线线性传感器14如图5(a)、图5(b)等所示，由在垂直于输送 机12的输送方向的方向上成直线水平设置的多个像素14a构成。
在图5(a)和图5(b)中，分别示出X射线检查装置10内的X 射线照射状态、以及此时构成X射线线性传感器14的各像素14a的X 射线检测量的波形。各图下方的波形上的虚线与图上方所示X射线照 射状态下X射线受到遮挡部12d遮挡的像素14a的位置相对应(图9 (a)、图9(b)也同样)。
此外，作为X射线线性传感器14，当输送机12安装在既定位置上 时，由于如图5(a)的波形所示，X射线受到开口部12c的两端的遮 挡部12d的遮挡，因此，其两端的数个像素(4～5个像素)的X射线 检测量比其它像素14a要少。另一方面，如果忘记安装输送机12，则 如图5(b)所示，所有像素14a将检测到既定量以上的X射线。因此， 通过检测图5(a)的下方波形所示既定像素14a(两端的多个像素) 的检测量是否比其它像素14a少，便能够检测出输送机12是否安装以 及安装是否良好。
[监视器]
监视器26是全像素显示型液晶显示器。此外，监视器26具有触 摸屏功能，显示与初始设定和异常状况判定有关的参数输入等提示画 面。
此外，监视器26还显示实施后述的图像处理后的X射线图像。这 样，用户可通过视觉识别商品G中有无异物及其位置和大小等。
再有，监视器26显示后述的输送机12是否安装不良的检测结果。
[控制计算机]
在控制计算机(控制部)20中，由CPU21执行控制程序中所包括 的图像处理例程、检查判定处理例程等。此外，在控制计算机20的CF (微型闪存(注册商标))25等存储部中，保存并积累检查不合格商 品时曾使用的图像和检查结果、输送机12安装时X射线检测量比其它 像素少的像素的信息等。
具体构成如图6所示，控制计算机20除了装有CPU21之外，作为 由该CPU21控制的主存储部还装有ROM22、RAM23以及CF25。CF25中 收存有储存后述的密集度阈值的阈值文件25a、储存检查图像和检查结 果的检查结果记录表文件25b等。
此外，控制计算机20还具有对监视器26的数据显示进行控制的 显示控制电路、读取从监视器26的触摸屏上输入的按键输入数据的按 键输入电路、对未图示的打印机进行数据打印控制的I/O接口、作为 外部连接端子的USB24等。
并且，CPU21、ROM22、RAM23、CF25等通过地址总线、数据总线 等总线彼此相连。
此外，控制计算机20与输送机马达12f、旋转式编码器12g、X 射线照射器13、X射线线性传感器14、光电传感器15等相连。
旋转式编码器12g安装在输送机马达12f上，对输送机12的输送 速度进行检测并发送给控制计算机20。
光电传感器15是用来检测作为被检查物的商品G到达X射线线性 传感器14所在位置时的时间的同步传感器，由将输送机夹在中间而设 置的一对投光器和受光器构成。
<通过控制计算机进行的商品不合格的判断>
[X射线图像的生成]
控制计算机20接受来自光电传感器15的信号，当商品G通过扇 形的X射线照射部(图3和图5(a)中的阴影部分)时，以微小的时 间间隔获取X射线线性传感器14所产生的X射线透视影像信号(参照 图7)，并根据这些X射线透视影像信号生成商品G的X射线图像。即， 以微小时间间隔从X射线线性传感器14的各像素14a获取各个时刻的 数据，根据这些数据生成二维图像。
[异物混入检查]
由控制计算机20的CPU21执行的异物检查例程，对如上得到的X 射线图像进行图像处理，以多种判断方式判断商品合格或不合格(是 否混入异物)。作为判断方式，例如有扫描检测方式、双值化检测方 式、掩模双值化检测方式等。以这些判断方式进行判断的结果，即使 有一个判断为不合格(图7所示异物影像)，便判定该商品G为不合 格品。
扫描检测方式和双值化检测方式针对图像的未被掩蔽的区域进行 判断。另一方面，掩模双值化方式针对图像的被掩蔽的区域进行判断。 掩模设在诸如商品G的容器部分上。
扫描检测方式是大致沿着被检测物的厚度设定一个基准水平(阈 值)，如果影像比该基准水平暗便判定商品G内混入了异物这样一种 判断方式。这种方式能够检测出较小的异物从而检测出商品不合格。
<以X射线检查装置进行的输送机安装不良的判断>
在本实施方式的X射线检查装置10中，在开始对商品进行异物混 入检查之前，为防止因忘记安装输送机12等原因导致X射线泄漏到外 部，要进行是否忘记安装输送机12和输送机12的安装是否存在偏差 的检查。遇到忘记安装输送机12等情况时，控制计算机20对X射线 照射器13进行控制，禁止其照射X射线。
即，如图5(a)所示，当输送机12安装在屏蔽箱11内的正常位 置上时，X射线线性传感器14两端的4～5个像素所检测到的X射线量 要比其它像素14a少。将该状态(两端的像素的位置及数量)作为输 送机12正常安装的基准储存在前述RAM23等存储部中。RAM23等存储 部中所储存的基准状态(X射线检测量减少的像素的位置和数量)，只 要在每次更换输送机12(输送机框架12b)时相应于其遮挡部储存新 的基准状态即可。
此外，如图5(b)所示，当为进行清洗而从屏蔽箱11内拆下输送 机12后忘记安装时，X射线线性传感器14的所有像素14a均检测到X 射线。因此，作为控制计算机20，由于与储存在RAM23等存储部中的 基准状态相比，既定的像素14a(X射线线性传感器14两端的数个像 素)检测到了与其它像素14a同等水平的X射线，因而判定输送机12 安装异常。并且，禁止X射线照射器13照射X射线，同时，在监视器 26上显示输送机12安装不良的信息。
此外，在输送机12发生偏差而未被安装在正常位置时，也能够根 据X射线线性传感器14两端的既定的数个像素可否检测到X射线来判 定输送机12是否安装不良。例如，当X射线线性传感器14两端应当 有同样数量的像素的X射线检测量减少，但实际处于一端为8个像素 而另一端为两个像素这一X射线检测量减少的像素14a在左右两端非 对称的状态时，判定输送机12安装不良。
在进行异物混入检查开始之前所进行的输送机12安装不良的检查 时，也可以使X射线照射器13的X射线照射量比进行通常检查时少(例 如30kv-1mA的程度)。这样，即使发生了输送机12安装不良的情况， 也能够将进行输送机12安装不良的检查时泄漏到外部的X射线的量大 致抑制在1μSv/h以下。
另一方面，在未检查出输送机12安装不良时，将X射线照射器13 的X射线照射量提高到进行通常检查时的量，并在输送机12进行商品 G的输送的同时开始进行异物混入检查。
[X射线检查装置的特点]
(1)
在本实施方式的X射线检查装置10中，对从X射线照射器13射 出的X射线的一部分进行遮挡的遮挡部12d设置在输送机12(输送机 框架12b)上。并且，该遮挡部12d可使得构成X射线线性传感器14 的一部分像素14a所检测到的X射线比其它像素14a少。此外，控制 计算机20储存有输送机12正常安装时X射线检测量减少的像素14a (位置和数量等)，在异物混入检查开始进行之前，照射小剂量的X 射线以检测上述已储存的像素14a是否检测到X射线，判断输送机12 是否安装不良。
因此，只需确认被X射线遮挡部12d遮挡的线性传感器14的像素 14a、即X射线检测量比其它像素少的像素，便能够在异物混入检查开 始之前预先判断输送机12是否安装不良。因此，即使不另外设置检测 输送机12是否安装的开关等零部件，只需形成现有的输送机框架12b 上也具有的开口部12c、以及考虑与X射线线性传感器14之间的位置 关系而在输送机12上一体形成的遮挡部12d，便能够以简单的结构防 止因输送机12安装不良而导致X射线泄漏。
(2)
在本实施方式的X射线检查装置10中，控制计算机20在通过上 述输送机12安装不良检测方法做出输送机12安装不良的判断时，禁 止X射线照射器13照射X射线。
因此，能够防止在输送机12未安装或安装出现偏差的状态(安装 不良状态)下照射X射线对商品进行异物混入检查从而导致X射线泄 漏到外部。
(3)
在本实施方式的X射线检查装置10中，具有RAM23等存储部，用 来存储检查输送机12安装状态时的基准状态(X射线检测量减少的像 素的位置和数量等)。
因此，只需判断是否与RAM23等存储部储存的基准状态一致，便 能够很容易地判断输送机12是否安装不良。
(4)
在本实施方式的X射线检查装置10中，作为X射线遮挡部的遮挡 部12d是作为输送机框架12b的一部分一体成型的。
因此，与另外形成作为X射线遮挡部的部件并固定到输送机12上 的情况相比，由于从最初就是与输送机12为一体，因而结构更为简单。
(5)
在本实施方式的X射线检查装置10中，作为输送商品的的输送 部，使用的是具有无接头的输送机皮带12a和输送机框架12b和输送 机马达12f等的输送机12。
因此，在输送机框架12b上形成开口或狭缝，便能够很容易地在 输送机框架12b上形成与输送机12为一体的X射线遮挡部。
(6)
在本实施方式的X射线检查装置10中，是将输送机框架12b上所 形成的开口部12c的周边部分作为X射线遮挡部(遮挡部12d)使用的。
因此，在X射线受到遮挡部12d遮挡的下方的位置设置X射线线 性传感器14，便能够很容易地检测出输送机12是否安装不良。
(7)
在本实施方式的X射线检查装置10中，作为对从X射线照射器13 射出的X射线进行检测的受光部，使用的是由多个像素14a构成的X 射线线性传感器14。
因此，通过将X射线线性传感器14设置成其长度方向垂直于输送 方向，可使得遮挡部12d对其两端的X射线进行遮挡。因此，检测两 端的既定像素14a的X射线检测量是否减少，便能够很容易地判断输 送机12是否安装不良。
(8)
在本实施方式的X射线检查装置10中，沿着输送机框架12b上形 成的开口部12c周围，遮挡部12d遮挡X射线到达设在下方线性传感 器14两端的数个像素14a。
因此，检测X射线线性传感器14两端的数个像素14a的X射线检 测量是否比其它像素14a少，便能够判断输送机12是否安装不良。
[其它实施方式]
以上，就本发明的一个实施方式进行了说明，但本发明不受上述 实施方式的限定，在不超出本发明要旨的范围内可以进行各种改变。
(A)
在上述实施方式中，列举如图3所示在输送机框架12b上形成开 口部12c而将其两端的输送机框架12b的一部分作为X射线遮挡部(遮 挡部12d)使用的例子进行了说明。但本发明并不受此限定。
例如，也可以如图8和图9(a)所示，在输送机框架12b上与输 送方向相垂直的方向上的两端附近形成狭缝12e，将形成该狭缝12e 的输送机框架12b的一部分作为X射线遮挡部使用。在这种场合，不 仅能够得到与上述实施方式同样的效果，而且由于能够通过形成狭缝 12e的输送机框架12b的一部分来判断输送机12是否安装，因此，能 够在确实是以输送机框架12b的一部分(遮挡部)对X射线进行遮挡 的状态下进行输送机12是否安装不良的检查。
此外，也可以如图9(a)所示，设定X射线线性传感器14的X 射线检测量的阈值，对图9(a)所示检测结果根据阈值进行双值化而 生成图9(b)所示的波形图，以此判断输送机12是否安装不良。在这 种场合，对双值化后的信号的Hi-Lo波形进行检查，便能够确定被输 送机框架12b的一部分(遮挡部)遮挡的X射线线性传感器14的像素 14a，判断输送机12是否安装不良。
(B)
在上述实施方式中，作为X射线遮挡部，列举使用在输送机框架 12b上形成开口部12c而形成的遮挡部12d的例子进行了说明。但本 发明并不受此限定。
例如，也可以不利用在输送机框架12b上直接形成的开口或狭缝 而另外形成对部分X射线进行遮挡的部件，再将其固定在输送机12上 与之成为一体。在这种场合，作为X射线遮挡部的部件也同样随着输 送机12的移动而移动，因而能够检测出输送机12的安装是否异常。
(C)
在上述实施方式中，列举具有对X射线线性传感器14两端的4～5 个像素14a所要检测的X射线进行遮挡的遮挡部12d的例子进行了说 明。但是，本发明并不受此限定。
例如，既可以仅对X射线线性传感器14一端的数个像素14a的X 射线以遮挡部12d进行遮挡的结构，也可以是X射线线性传感器14两 端的不同数量的像素以遮挡部12d进行遮挡的结构。
具体地说，也可以采用对X射线线性传感器14一端的5个像素的 X射线以遮挡部12d进行遮挡的结构，或者对一端的8个像素和另一端 的3个像素的X射线以遮挡部12d进行遮挡的结构。
这种场合也同样，通过将输送机12安装在正常位置时X射线被遮 挡部12d遮挡的像素14a(基准状态)储存在RAM23等存储部中，可 得到与前面同样的效果。
(D)
在上述实施方式中，列举形成遮挡部12d的开口部12c呈四边形 开口形成的例子进行了说明。但是，就开口部12c的形状和大小而言， 本发明并不受上述实施方式的限定。
(E)
在上述实施方式中，列举对商品照射X射线进行检查的例子进行 了说明。但是，本发明并不受此限定。
例如，也可以照射X射线之外的β射线、γ射线、电磁波等其它 射线进行检查。
产业上利用的可能性
本发明的X射线检查装置具有能够以简单的结构确认输送部是否 被正常安装的效果，因此，在具有输送作为检查对象的物品的输送部 的、且利用X射线等射线的放射线检查装置中可以得到广泛应用。