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1. 发明授权

CN111465829B 光谱仪设备及系统有权
公开(公告)号：CN111465829B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN201880080373.0
申请日：2018-12-12
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , R·古斯特 , B·福伊尔施泰因 , R·森德 , I·布鲁德
IPC分类号： G01J3/26 , G02B27/09 , G01J3/02
摘要：公开了一种光谱仪系统(110)和一种光谱仪设备(112)，其适合于研究或监控目的，特别是在红外(IR)光谱区域中，并且适于检测热、火焰、火或烟。本文中，光谱仪设备(112)包括：光学元件(122)，其被设计用于接收来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)传输到长度可变滤波器(118)，其中，光学元件(122)包括光学聚光器设备(124)，其中，光学聚光器设备(124)沿反方向(126)操作，其中，光学聚光器设备(124)具有适于反射入射光的单个侧壁(128)，其中，单个侧壁(128)被设计为圆形侧壁；长度可变滤波器(118)，其被指定用于将入射光(114)分离成组成波长信号的光谱；以及包括多个像素化传感器(144)的检测器阵列(120)，其中，每个像素化传感器(144)适于接收组成波长信号之一的至少一部分，其中，每个组成波长信号与每个组成波长的强度有关。光谱仪设备(112)允许捕获来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)以特别高的聚光效率传输到长度可变滤波器(118)。除了光谱仪设备(112)之外，光谱仪系统(110)还包括评估单元(150)，评估单元(150)被指定用于通过评估由光谱仪设备(112)提供的检测器信号(204、204'、204”)来确定与对象(116)的光谱有关的信息。

2. 发明授权

CN109964148B 用于光学检测至少一个对象的检测器有权
公开(公告)号：CN109964148B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN201780071213.5
申请日：2017-11-17
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： M·艾伯斯派克 , C·朗根施密德 , R·森德 , T·欧姆 , S·恒恩 , I·布鲁德 , W·赫尔梅斯 , S·瓦鲁施 , P·希伦 , P·辛德勒 , C·伦纳茨
IPC分类号： G01S17/46 , G01S7/481 , G01S5/16 , G01S7/491 , G01S11/12 , G01S7/48
摘要：公开了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个具有光学传感器(122)的矩阵(120)的传感器元件(118)，光学传感器(122)各自具有光敏区域(124)，其中每个光学传感器(122)被配置为响应于从对象(112)传播到检测器(110)的至少一个光束(116)对光敏区域(124)的照射而产生至少一个传感器信号；‑至少一个评估装置(134)，其被配置为通过以下操作评估传感器信号：a)确定至少一个具有最高传感器信号的光学传感器(122)并形成至少一个中心信号；b)评估矩阵(120)中的光学传感器(122)的传感器信号并形成至少一个和信号；c)通过组合中心信号和和信号来确定至少一个组合信号；以及d)通过评估组合信号来确定对象(112)的至少一个纵向坐标z。

3. 发明公开

CN110352493A 用于对至少一个对象进行光学检测的检测器无效
公开(公告)号：CN110352493A
公开(公告)日：2019-10-18
申请号：CN201880010577.7
申请日：2018-02-07
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , W·赫尔梅斯 , I·布鲁德 , R·森德 , C·朗根施密德
IPC分类号： H01L27/30 , G01C3/06 , G01S17/46 , H01L27/146 , G01S7/481 , H01L31/0224 , H01L51/44
摘要：提出了一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)。所述检测器(110)包括：至少一个横向光学传感器(114)，其适于确定从所述对象(112)向所述检测器(110)行进的光束(136)的横向位置，其中所述横向位置是在垂直于所述检测器(110)的光轴(116)的至少一个维度上的位置，其中所述横向光学传感器(114)具有嵌入在至少两个导电层(132、132’)之间的至少一个光敏层(130)，其中所述导电层中的至少一个(132)包括在至少部分透明基板(135)上的至少部分透明的石墨烯层(134)，从而来允许所述光束(136)行进到所述光敏层(130)，其中所述横向光学传感器(114)还适于生成指示所述光束(136)在所述光敏层(130)中的所述横向位置的至少一个横向传感器信号；以及至少一个评估装置(140)，其中所述评估装置(140)被设计成通过评估所述至少一个横向传感器信号来生成与所述对象(112)的横向位置相关的信息中的至少一项。因此，提供了一种简单且仍然有效的检测器(110)，用于精确确定至少一个物体(112)的横向位置，尤其是在可见光谱范围和/或红外光谱范围的分区中，特别是对于380nm至3000nm的波长。

4. 发明公开

CN109964144A 用于光学探测至少一个对象的检测器有权
公开(公告)号：CN109964144A
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201780071317.6
申请日：2017-11-17
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： C·席尔德克内希特 , C·朗根施密德 , I·布鲁德 , M·艾伯斯派克 , P·费耶斯 , R·森德 , S·瓦鲁施 , T·奥莫尔 , W·赫尔梅斯
IPC分类号： G01S7/481 , G01S7/48 , G01S5/16 , G01S11/12
摘要：提议了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。所述检测器(110)包括：至少两个光学传感器(118,120,176)，每个光学传感器(118,120,176)具有光敏区域(122,124)，其中每个光敏区域(122,124)具有几何中心(182,184)，其中所述光学传感器(118,120,176)的所述几何中心(182,184)通过不同的空间偏移与所述检测器(110)的光轴(126)间隔开，其中每个光学传感器(118,120,176)被配置为响应于从所述对象(112)传播到所述检测器(110)的光束(116)对其相应的光敏区域(122,124)的照射而产生传感器信号；以及至少一个评估装置(132)，被配置用于通过组合至少两个传感器信号来确定所述对象(112)的至少一个纵向坐标z。

5. 发明公开

CN109891265A 用于光学检测至少一个对象的检测器有权
公开(公告)号：CN109891265A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201780066208.5
申请日：2017-10-24
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , W·赫尔梅斯 , S·亨根 , R·森德 , I·布鲁德
IPC分类号： G01S17/46 , G01S7/481 , H01L31/02
摘要：提出了光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)。此外本发明涉及光学检测至少一个对象(112)的方法和检测器(110)的各种用途。检测器(110)包括：至少一个光学传感器(114)，光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(114)，传感器区域(114)包括至少一个弯曲基板(142)和具有光电导材料(136)的至少一个膜(134)，其中膜(134)被置于弯曲基板(142)的至少一个表面(140,172)上，其中光学传感器(114)被设计为以依赖于光束(124)对传感器区域(114)的照射的方式生成至少一个传感器信号；至少一个传送装置(120)，传送装置(120)适于将光束(124)从对象(112)传送到光学传感器(114)，从而适于将光束(124)引导到位于弯曲基板(142)上的膜(134)；以及至少一个评估装置(154)，其中评估装置(154)被设计为通过评估光学传感器(114)的传感器信号来生成关于对象(112)的位置的至少一个信息项。从而，提供了用于准确地确定至少一个对象(112)在空间中的位置的简单、成本有效且仍可靠的检测器(110)。

6. 发明公开

CN114762081A 用于产生辐射的装置和方法审中-实审
公开(公告)号：CN114762081A
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202080084163.6
申请日：2020-12-02
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , R·森德
IPC分类号： H01K1/58 , H01K1/18 , H01K7/00
摘要：本发明涉及一种装置(110)和一种方法(210)，用于产生辐射(112)，特别是脉冲辐射(112)，具体地在红外光谱范围内。进一步地，本发明涉及一种包括用于执行方法(210)的可执行指令的计算机程序产品。用于产生辐射(112)的装置(110)包括：‑至少一个辐射发射元件(116)，其中，辐射发射元件(116)被指定用于在由电流加热时产生辐射(112)；‑安装件(128)，其中，安装件(128)承载至少一个辐射发射元件(116)，并且其中，安装件(128)或其一部分(134)可移动；以及‑散热器(140)，其中，散热器(140)被指定用于在由安装件(128)接触时冷却安装件(128)和由安装件(128)承载的至少一个辐射发射元件(116)。装置(110)、方法(210)和计算机程序产品可以特别用于光谱应用，尤其在红外光谱范围内，其中装置(110)可以优选地用作照射源。

7. 发明公开

CN113892017A 对至少一个样品进行光学分析的光谱仪装置审中-实审
公开(公告)号：CN113892017A
公开(公告)日：2022-01-04
申请号：CN202080039281.5
申请日：2020-05-26
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , R·森德
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/26 , G01N21/85
摘要：公开了一种用于对至少一个样品(112)进行光学分析的光谱仪装置(110)。光谱仪装置(110)包括至少一个外壳(116)，其具有至少一个入口窗(118)；至少一个波长选择元件(120)，其被配置为将入射光(123)分离成组成波长的光谱，波长选择元件(120)设置在外壳(116)内；至少一个探测器装置(122)，其被配置为探测组成波长的至少一部分，探测器装置(122)设置在外壳(116)内；以及至少一个接触传感器装置(126)，其用于探测光谱仪装置(110)与样品(112)的接触，其中接触传感器装置(126)包括至少一个光学接触传感器装置(128)，其中光学接触传感器装置(128)被配置为探测入口窗(118)与样品(112)的接触，其中光学接触传感器装置(128)包括至少一个光学发射器装置(130)和至少一个光学探测器装置(134)，其中至少一个光信号从光学发射器装置(130)传输到所述光学探测器装置(134)，其中光学接触传感器装置(128)被配置为探测样品(112)的存在对光信号传输的影响。

8. 发明授权

CN109923372B 采用集成滤波器的红外光学检测器有权
公开(公告)号：CN109923372B
公开(公告)日：2021-12-21
申请号：CN201780065812.6
申请日：2017-10-24
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , R·森德 , I·布鲁德 , W·赫尔梅斯
IPC分类号： G01C3/00 , G01S7/481 , H01L27/30
摘要：本发明涉及一种光学检测器(110)，用于光学检测，特别是红外光谱范围内的辐射的光学检测，具体地说，涉及感测对象(112)的至少一种光学可设想的特性。更具体地，光学检测器(110)可以用于确定至少一个对象(112)的透射率、吸收、发射、反射率和/或位置。此外，本发明涉及用于制造光学检测器(110)的方法以及光学检测器(110)的各种用途。光学检测器(110)包括：具有至少第一表面(116)和第二表面(118)的光学滤波器(114)，第二表面(118)相对于第一表面(116)相对设置，其中光学滤波器(114)被设计用于允许由第一表面(116)接收的入射光束(120)穿过光学滤波器(114)到达第二表面(118)，从而通过修改入射光束(120)的光谱成分来生成修改光束(122)；‑传感器层(128)，其包括沉积在光学滤波器(114)的第二表面(118)上的光敏材料(130)，其中传感器层(128)设计成以取决于修改光束(122)对于传感器层(128)的照射的方式来生成至少一个传感器信号；以及‑评估设备(140)，其被设计为通过评估传感器信号来生成由入射光束(120)提供的至少一信息项。光学检测器(110)构成改进的简单、成本有效且仍然可靠的检测器，该检测器用于检测光学辐射，特别是在红外光谱范围内，特别是关于感测透射率、吸收、发射和反射率中的至少一个。因此，光学检测器(110)能够尽可能有效地去除杂散光。

9. 发明公开

CN112955710A 用于确定至少一个对象的位置的探测器和方法审中-实审
公开(公告)号：CN112955710A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN201980072964.8
申请日：2019-11-04
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , C·M·奥古恩 , R·森德 , I·布鲁德
IPC分类号： G01B11/02
摘要：公开了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的探测器(110)。探测器(110)包括：‑具有色差的至少一个传送装置(114)；‑至少一个孔径元件(118)，其中孔径元件(118)被配置为阻挡从对象(112)传播到探测器(110)并已通过传送装置(114)的光束(120)的边缘分量，其中孔径元件(118)被配置为让光束(120)的中心分量(119)通过；‑至少一个第一光学传感器(126)，其沿着光束(120)的传播方向定位在孔径元件(118)后面，其中第一光学传感器(126)被配置为确定所述光束(120)的中心分量(119)的颜色信息，并且其中第一光学传感器(126)被配置为确定所述光束(120)的中心分量的至少一项第一强度信息；‑至少一个第二光学传感器(128)，其中第二光学传感器(128)被配置为确定所述光束(120)的边缘分量的至少一项第二强度信息。

10. 发明公开

CN112105897A 光谱仪装置审中-公开
公开(公告)号：CN112105897A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN201980031385.9
申请日：2019-05-10
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , W·赫尔梅斯 , R·森德 , R·古斯特 , B·福伊尔施泰因 , I·布鲁德
IPC分类号： G01J3/28 , G01J3/12 , G01J1/02
摘要：公开了光谱仪装置(110)。光谱仪装置(110)包括：至少一个滤波元件(114)，其适于将至少一个入射光束分离成组分波长的光谱；至少一个传感器元件(140)，其具有光学传感器(116、142)的矩阵，每个光学传感器(116、142)具有光敏区域，其中每个光学传感器(116、142)被配置为响应于从至少一个对象(112)传播到光谱仪的至少一个光束对光敏区域的照射而产生至少一个传感器信号，其中光学传感器(116、142)中的至少一个第一光学传感器适于响应于被第一组分波长照射而产生第一传感器信号，并且其中光学传感器(116、142)中的至少一个第二光学传感器适于响应于被第一组分波长照射而产生第二传感器信号；至少一个评估装置(120)，其被配置为通过评估第一传感器信号和第二传感器信号的组合信号Q，确定对象(112)的至少一个纵向坐标z，其中评估装置(120)被配置为通过在考虑所确定的纵向坐标z的情况下执行至少一种光谱分析来评估由光学传感器矩阵中的光学传感器(116、142)产生的至少一个传感器信号。

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