专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明公开

CN113557549A 用于确定至少一个对象的位置的检测器审中-实审
公开(公告)号：CN113557549A
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN202080019008.6
申请日：2020-01-08
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： M·埃伯斯帕奇 , C·伦纳茨 , R·森德 , P·辛德勒 , P·希伦 , I·布鲁德
IPC分类号： G06T7/521 , G06T7/571 , G06T7/579
摘要：提出了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个传感器元件(116)，其具有光学传感器(120)的矩阵(118)，每个光学传感器(120)具有光敏区域(122)，其中，传感器元件(116)被配置为确定对象(112)的至少一个反射图像(126)；‑至少一个评估设备(128)，其中，评估设备(128)被配置为选择反射图像(126)的至少一个反射特征，其中，评估设备(128)被配置为通过优化至少一个模糊函数(fa)来确定反射图像(126)的所选反射特征的至少一个距离估计(130)，其中，距离估计(130)由纵坐标z和误差区间±ε给出，其中，评估设备(128)适于确定至少一个参考图像(134)中的与距离估计(130)对应的至少一个位移区域(132)，其中，评估设备(130)适于将所选反射特征与位移区域(132)内的至少一个参考特征匹配。

2. 发明公开

CN117501265A 用于认证移动设备的用户的方法审中-公开
公开(公告)号：CN117501265A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202280042478.3
申请日：2022-06-14
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： F·希克 , P·希伦 , B·古蒂尔 , P·辛德勒 , D·布托夫 , M·普雷迪格尔
IPC分类号： G06F21/32
摘要：提出了一种用于认证移动设备(110)的用户的方法。该方法包括以下步骤：a)(114)通过使用该移动设备(110)的至少一个相机(112)来成像面部的至少一个第一图像(116)；b)(118)将该第一图像(116)提供给该移动设备(110)的处理器(122)的常规执行环境(120)，并将该第一图像(116)提供给该处理器(122)的可信执行环境(124)；c)(126)使用该常规执行环境(120)中的至少一个经训练模型来分析该第一图像(116)，从而确定包括图像信息的多维向量；d)(128)面部验证步骤，包括：di)(130)向该可信执行环境(124)提供该多维向量，dii)在该可信执行环境(124)中通过使用至少一个解码器(132)根据该多维向量来确定第二图像，以及diii)将该第一图像(116)与该第二图像进行比较，其中，如果该第一图像和该第二图像相同，则该多维向量通过验证；div)如果该多维向量通过验证，则将该验证后的多维向量与该可信执行环境(124)中存储的该用户面部的多维向量进行比较，其中，如果该多维向量和所存储的该用户面部的多维向量相同，则该用户通过认证。

3. 发明公开

CN112384951A 用于确定至少一个存储单元中的填充水平的方法和装置审中-公开
公开(公告)号：CN112384951A
公开(公告)日：2021-02-19
申请号：CN201980045768.1
申请日：2019-05-08
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： C·邦西诺 , C·席尔德克内希特 , P·希伦 , P·辛德勒 , E·马特沃斯詹 , C·朗根施密德 , R·森德 , I·布鲁德
IPC分类号： G06T7/586 , G06T7/62
摘要：提出了一种用于确定至少一个存储单元(112)中的填充水平的方法。该方法包括以下步骤：a)采用包括多个照射特征(118)的至少一个照射图案(116)照射存储单元(112)，并确定存储单元(112)的至少一个反射图像；b)选择反射图像中的至少一个第一反射特征和至少一个第二反射特征；c)对于第一反射特征，响应于第一反射特征对具有光学传感器(124)矩阵的至少一个传感器元件(120)的照射而生成至少两个第一传感器信号，并且对于第二反射特征，响应于第二反射特征对传感器元件(120)的照射而生成至少两个第二传感器信号，光学传感器(124)各自具有光敏区域；d)评估在步骤c)中生成的两个第一传感器信号，从而确定第一反射特征的至少一个第一纵向坐标z1，并评估在步骤c)中生成的两个第二传感器信号，从而确定第二反射特征的至少一个第二纵向坐标z2；e)在反射图像中确定第一反射特征的至少一个位置(x1，y1)和第二反射特征的至少一个位置(x2，y2)并确定第一反射特征的至少一个第一矢量(x1，y1，z1)和第二反射特征的至少一个第二矢量(x2，y2，z2)；f)根据第一矢量和第二矢量确定至少一个高度图，并由此确定存储单元中的填充水平。

4. 发明授权

CN109964148B 用于光学检测至少一个对象的检测器有权
公开(公告)号：CN109964148B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN201780071213.5
申请日：2017-11-17
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： M·艾伯斯派克 , C·朗根施密德 , R·森德 , T·欧姆 , S·恒恩 , I·布鲁德 , W·赫尔梅斯 , S·瓦鲁施 , P·希伦 , P·辛德勒 , C·伦纳茨
IPC分类号： G01S17/46 , G01S7/481 , G01S5/16 , G01S7/491 , G01S11/12 , G01S7/48
摘要：公开了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个具有光学传感器(122)的矩阵(120)的传感器元件(118)，光学传感器(122)各自具有光敏区域(124)，其中每个光学传感器(122)被配置为响应于从对象(112)传播到检测器(110)的至少一个光束(116)对光敏区域(124)的照射而产生至少一个传感器信号；‑至少一个评估装置(134)，其被配置为通过以下操作评估传感器信号：a)确定至少一个具有最高传感器信号的光学传感器(122)并形成至少一个中心信号；b)评估矩阵(120)中的光学传感器(122)的传感器信号并形成至少一个和信号；c)通过组合中心信号和和信号来确定至少一个组合信号；以及d)通过评估组合信号来确定对象(112)的至少一个纵向坐标z。

5. 发明公开

CN111587384A 用于确定至少一个对象的位置的检测器审中-实审
公开(公告)号：CN111587384A
公开(公告)日：2020-08-25
申请号：CN201880086545.5
申请日：2018-11-16
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： P·辛德勒 , P·希伦 , M·埃伯斯帕奇 , C·伦纳茨 , R·森德 , I·布鲁德 , H·亨根 , L·迪塞尔伯格
IPC分类号： G01S17/46 , G01S3/784 , G01S7/481 , G01S11/12
摘要：提出一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括-具有光学传感器矩阵(132)的至少一个传感器元件(130)，每个光学传感器具有光敏区，其中，每个光学传感器(134)被设计为响应于由从对象(112)传播到检测器(110)的光束(141)对每个光学传感器(134)的相应光敏区(136)的照射而生成至少一个传感器信号，其中，传感器元件(130)适于确定至少一个反射图像；-至少一个评估装置(146)，其中，评估装置(146)适于在反射图像中的至少一个第一图像位置(150)处选择反射图像的至少一个反射特征，其中，评估装置(146)被配置为通过根据传感器信号评估组合信号来确定对象(112)的至少一个纵向坐标z，其中，评估装置(146)适于在参考图像中与至少一个反射特征相对应的至少一个第二图像位置(154)处确定至少一个参考图像中的至少一个参考特征，其中，参考图像和反射图像在两个不同空间配置下确定，其中，空间配置在相对空间星座方面不同，其中，评估装置(146)适于根据纵向坐标z以及第一和第二图像位置(150、154)来确定相对空间星座。

6. 发明公开

CN117480355A 根据投影图案中的对极线距离进行自动校准审中-公开
公开(公告)号：CN117480355A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202280038781.6
申请日：2022-05-30
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： P·辛德勒 , F·希克 , C·伦纳茨 , P·希伦 , J·昂格尔
IPC分类号： G01B11/25
摘要：提出了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。该检测器(110)包括：‑至少一个投影仪(122)，该至少一个投影仪用于以至少一个照射图案(124)来照射该对象(112)，其中，该照射图案(124)包括多个照射特征(125)；‑至少一个传感器元件(114)，该至少一个传感器元件具有光学传感器(118)的矩阵(116)，这些光学传感器各自具有光敏区域(120)，其中，每个光学传感器(118)被设计成响应于从该对象(112)传播到该检测器(110)的反射光束对该光学传感器的相应光敏区域(120)的照射而生成至少一个传感器信号，其中，该传感器元件被配置为确定包括多个反射特征的至少一个反射图像(142)，其中，这些反射特征中的每一个包括射束剖面；‑至少一个评估设备(144)，该至少一个评估设备被配置为通过分析这些反射特征各自的射束剖面来确定这些反射特征的初始距离信息，其中，分析射束剖面包括评估来自相应传感器信号的组合信号Q，其中，该评估设备被配置为执行校准方法，该校准方法包括：a)(150)在考虑该初始距离信息的情况下，将这些反射特征与参考图像的参考特征进行匹配，从而确定相匹配的反射特征和参考特征对；b)(152)针对这些相匹配的反射特征和参考特征对中的每一对，确定该参考图像中的相匹配参考特征的对极线；c)(154)确定该相匹配的反射特征到所述对极线的对极线距离d；d)(156)将这些对极线距离d作为该参考图像中的图像位置(x，y)的函数进行评估，从而确定几何图案；e)(158)根据该几何图案确定针对该反射图像(142)的旋转和/或平移的至少一个校正。

7. 发明公开

CN113544745A 用于确定至少一个对象的位置的检测器审中-实审
公开(公告)号：CN113544745A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202080018963.8
申请日：2020-01-08
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： M·埃伯斯帕奇 , P·希伦 , P·辛德勒 , R·森德 , C·伦纳茨 , I·布鲁德
IPC分类号： G06T7/80 , G06T7/521 , G06T7/571 , G06T7/593 , G06T7/73
摘要：提出了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个传感器元件(130)，其具有光学传感器(134)的矩阵(132)，每个光学传感器(134)具有光敏区域(136)，其中，传感器元件(130)被配置确定至少一个反射图像(142)；‑至少一个评估设备(146)，其中，评估设备(146)被配置为在反射图像(142)中的至少一个第一图像位置(148)处选择反射图像(142)的至少一个反射特征，其中，评估设备(146)被配置为通过优化至少一个模糊函数fa来确定所选反射特征的至少一个纵坐标z，其中，评估设备(146)被配置为在至少一个参考图像(168)中在参考图像(168)中的与至少一个反射特征对应的至少一个第二图像位置(154)处确定至少一个参考特征，其中，以两个不同的空间配置来确定参考图像(168)和反射图像(142)，其中，空间配置的不同之处在于相对空间星座，其中，评估设备(146)被配置为根据纵坐标z、第一图像位置(148)和第二图像位置(154)来确定相对空间星座。

8. 发明公开

CN111033300A 用于确定至少一项几何信息的测距仪有权
公开(公告)号：CN111033300A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201880055379.2
申请日：2018-08-28
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： P·辛德勒 , P·希伦 , M·埃伯斯帕奇 , C·伦纳茨 , R·森德 , I·布鲁德
IPC分类号： G01S7/48 , G01S17/46
摘要：用于确定至少一项几何信息的测距仪提供了用于确定关于至少一个对象(112)的至少一项几何信息的测距仪(110)。测距仪(110)包括：-至少一个照射源(114)，其适于生成至少一个照射图案(116)，其中，所述照射源(114)适于用所述照射图案(116)在倾斜角度下照射所述对象(112)；-至少一个光学传感器(118)，其具有至少一个感光区(120)，其中，所述光学传感器(118)被设计为响应于由源自所述对象(112)的至少一个反射图案(124)对其感光区(120)的照射而生成至少一个图像矩阵(122)；-至少一个评估装置(126)，其被配置为通过在假设所述反射图案(124)中存在至少一个几何构象(128)的情况下评估所述图像矩阵(122)来根据所述反射图案(124)确定关于所述对象(112)的所述几何信息。

9. 发明公开

CN109964148A 用于光学检测至少一个对象的检测器有权
公开(公告)号：CN109964148A
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201780071213.5
申请日：2017-11-17
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： M·艾伯斯派克 , C·朗根施密德 , R·森德 , T·欧姆 , S·恒恩 , I·布鲁德 , W·赫尔梅斯 , S·瓦鲁施 , P·希伦 , P·辛德勒 , C·伦纳茨
IPC分类号： G01S17/46 , G01S7/481 , G01S5/16 , G01S7/491 , G01S11/12 , G01S7/48
摘要：公开了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个具有光学传感器(122)的矩阵(120)的传感器元件(118)，光学传感器(122)各自具有光敏区域(124)，其中每个光学传感器(122)被配置为响应于从对象(112)传播到检测器(110)的至少一个光束(116)对光敏区域(124)的照射而产生至少一个传感器信号；‑至少一个评估装置(134)，其被配置为通过以下操作评估传感器信号：a)确定至少一个具有最高传感器信号的光学传感器(122)并形成至少一个中心信号；b)评估矩阵(120)中的光学传感器(122)的传感器信号并形成至少一个和信号；c)通过组合中心信号和和信号来确定至少一个组合信号；以及d)通过评估组合信号来确定对象(112)的至少一个纵向坐标z。

10. 发明授权

CN111033300B 用于确定至少一项几何信息的测距仪有权
公开(公告)号：CN111033300B
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN201880055379.2
申请日：2018-08-28
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： P·辛德勒 , P·希伦 , M·埃伯斯帕奇 , C·伦纳茨 , R·森德 , I·布鲁德
IPC分类号： G01S7/48 , G01S17/46
摘要：用于确定至少一项几何信息的测距仪提供了用于确定关于至少一个对象(112)的至少一项几何信息的测距仪(110)。测距仪(110)包括：‑至少一个照射源(114)，其适于生成至少一个照射图案(116)，其中，所述照射源(114)适于用所述照射图案(116)在倾斜角度下照射所述对象一个感光区(120)，其中，所述光学传感器(118)被设计为响应于由源自所述对象(112)的至少一个反射图案(124)对其感光区(120)的照射而生成至少一个图像矩阵(122)；‑至少一个评估装置(126)，其被配置为通过在假设所述反射图案(124)中存在至少一个几何构象(128)的情况下评估所述图像矩阵(122)来根据所述反射图案(124)确定关于所述对象(112)的所述几何信息。(112)；‑至少一个光学传感器(118)，其具有至少

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式