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11. 发明专利

JP5877917B2 形状測定・校正装置有权
标题翻译：形状测量和校准设备
公开(公告)号：JP5877917B2
公开(公告)日：2016-03-08
申请号：JP2015040964
申请日：2015-03-03
申请人：株式会社東京精密
发明人：山内康弘 , 藤田隆
IPC分类号： G01B5/00 , G01B5/20
CPC分类号： G01B5/28 , G01B5/20

12. 发明专利

JP5846462B1 形状測定装置有权
标题翻译：形状测定装置
公开(公告)号：JP5846462B1
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：JP2015136998
申请日：2015-07-08
申请人：株式会社東京精密
发明人：山内康弘
IPC分类号： G01B5/28 , G01B5/016
CPC分类号： G01B5/00 , G01B5/20 , G01B5/28
摘要：【課題】複数の測定子を容易に、安定して交換することができる形状測定装置を提供する。【解決手段】アーム30の先端側に設けられた触針を、ワークに対してアームの軸方向にスライドさせてワーク表面の粗さ、及び/又は輪郭を測定する形状測定装置において、アームは、アームの触針側を前記アームの基端側に対して着脱自在とする係合機構52を有し、係合機構は、ワーク表面に垂直かつアームの軸方向に平行で対向する二つの係合面62、82を持ち、係合面内の対応する位置にある磁石90と着磁部材68とにより互いを吸着する機構であって、一方の係合面62には、アームの軸に平行な直線状の第1溝64と、第1溝とは異なる別の係合部66を有し、他方の係合面82には、第1溝に嵌合する位置にある第1嵌合ピン84と、別の係合部に嵌る第2嵌合ピン86と、を有する【選択図】図3
摘要翻译：甲容易多个测量探针，提供一种能够稳定地被替换的形状测定装置。在设置在臂30的前端侧上的触针，在相对于工件表面的工件粗糙度臂的轴向方向滑动，和/或在用于测量轮廓形状测定装置，臂，臂的触针侧具有卡合机构52被可拆卸地连接到所述臂的基端，接合机构，所述两个面平行于垂直的轴向方向与工件上的表面接合的臂具有表面62和82，用于由磁铁90和磁化构件68这是在位置中的接合表面，所述一个接合表面62吸附彼此对应的机构，平行于所述臂的轴第一槽64的直链，有另一个卡合部66，其是从第一槽不同，其他的接合表面82上，在一位置处的第一装配销配合到第一槽84 如果背景的具有第二嵌合销86装配到另一个卡合部，图3

13. 发明专利

JP5845373B2 形状測定・校正装置有权
公开(公告)号：JP5845373B2
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：JP2015149953
申请日：2015-07-29
申请人：株式会社東京精密
发明人：山内康弘 , 藤田隆
IPC分类号： G01B5/20 , G01B5/00
CPC分类号： G01B5/28 , G01B5/20

14. 发明专利

JP5823306B2 表面性状測定機の校正方法有权
标题翻译：表面纹理测量仪器的校准方法
公开(公告)号：JP5823306B2
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：JP2012010453
申请日：2012-01-20
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：大森義幸 , 三木章生
IPC分类号： G01B5/20 , G01B5/00
CPC分类号： G01B21/042 , G01B5/201 , G01B5/28

15. 发明专利

JP5776859B2 化学強化ガラス及びその製造方法有权
标题翻译：化学强化的玻璃及其制造的方法
公开(公告)号：JP5776859B2
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：JP2014560160
申请日：2014-07-15
申请人：旭硝子株式会社
发明人：鹿島出 , 藤原祐輔 , 玉井喜芳 , 鈴木祐一 , 小林大介 , 世良洋一 , 山田拓 , 田邉紀子
IPC分类号： C03C3/083 , C03C3/085 , C03C3/087 , C03C21/00
CPC分类号： C03C21/002 , C03C15/00 , C03C21/006 , C03C23/0075 , C03C3/085 , C03C3/087 , C03C3/091 , G01B5/28

16. 发明专利

JP5639453B2 てこ式検出器、スタイラス、及びスタイラス自動交換装置有权
标题翻译：杠杆式检测器，触针，和一个指示笔自动转换器
公开(公告)号：JP5639453B2
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：JP2010269929
申请日：2010-12-03
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：山本　武 , 武山本 , 敦島岡 , 敦島岡
IPC分类号： G01B5/20 , G01B5/28
CPC分类号： G01B5/012 , G01B5/28

17. 发明专利

JP2014167435A Shape measuring machine 有权
标题翻译：形状测量机
公开(公告)号：JP2014167435A
公开(公告)日：2014-09-11
申请号：JP2013039485
申请日：2013-02-28
申请人： Mitsutoyo Corp , 株式会社ミツトヨ
发明人： MATSUMIYA SADAYUKI , HIDAKA KAZUHIKO
IPC分类号： G01B5/20 , G01B5/012
CPC分类号： G01B5/20 , G01B3/008 , G01B5/28 , G01B7/28 , G01B7/34
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a shape measuring machine capable of stabilizing a contact state between a workpiece surface and a contact by using a structure which displaces the contact by rotation.SOLUTION: A shape measuring machine 1 comprises: a body 10; a movable section 20 having a stylus holder 22 supported by the body 10 in a freely rotatable manner, a stylus 23 held by the stylus holder 22, and a contact 21 which is formed on one end of the stylus 23 and contactable to a workpiece surface S; a measuring force applying section 31 which allows the stylus holder 22 to generate rotational force to allow the contact 21 to contact the workpiece surface S; a displacement detecting section 32 which detects displacement associated with rotation of the stylus holder 22 at any portion of the stylus holder 22; and a vibration generating section 33 which generates vibration in the stylus holder 22.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种形状测量机，其能够通过使用通过旋转移位接触的结构来稳定工件表面和接触件之间的接触状态。解决方案：一种形状测量机器1包括：主体10; 具有可自由旋转的方式由本体10支撑的触笔座22的可移动部分20，由触笔座22保持的触针23以及形成在触针23的一端上并可接触工件表面的触点21 S; 测量力施加部分31，其允许触针支架22产生旋转力以允许触点21接触工件表面S; 位移检测部32，其检测与触控笔架22的任意部分的触针保持架22的旋转有关的位移; 以及在触针座22产生振动的振动产生部33。

18. 发明专利

JP5502102B2 Apparatus, and an associated method having a surface roughness measurement sensor 有权
公开(公告)号：JP5502102B2
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：JP2011541293
申请日：2009-12-03
申请人：クリンゲルンベルク・アクチェンゲゼルシャフトKlingelnberg AG
发明人：ゲオルク・ミース
IPC分类号： G01B5/28 , G01B21/30
CPC分类号： G01B5/28

19. 发明专利

JP2014081324A Surface roughness measurement unit and three-dimensional measurement device 有权
标题翻译：表面粗糙度测量单元和三维测量设备
公开(公告)号：JP2014081324A
公开(公告)日：2014-05-08
申请号：JP2012230818
申请日：2012-10-18
申请人： Mitsutoyo Corp , 株式会社ミツトヨ
发明人： MATSUMIYA SADAYUKI , ARAI MASANORI , HAMA NOBUYUKI , HIRANO KOTARO
IPC分类号： G01B5/28 , G01B5/008 , G01B5/20
CPC分类号： G01B5/012 , B82Y35/00 , G01B5/008 , G01B5/016 , G01B5/28 , G01B7/023
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface roughness measurement unit that is connectable to a three-dimensional measurement device.SOLUTION: A surface roughness measurement unit 1 according to the present invention comprises: a probe unit 3 that has a probe 12 provided retractably from a through-hole 19 of a skid 11 and performing a copy movement along a workpiece W surface and a displacement detection part 16 detecting a displacement of the probe 12 in a direction orthogonal to the workpiece surface; a drive part 4 that causes the probe unit 3 to be advanced and retracted along the workpiece W surface; and a joint part 40 for coupling the probe unit 3 and the drive part 4 to a measurement head holding part of a three-dimensional measurement system 100. Further, the surface roughness measurement unit 1 includes a contact detection part 15 that detects contact of the skid 11 with the workpiece W surface.
摘要翻译：要解决的问题：提供可连接到三维测量装置的表面粗糙度测量单元。解决方案：根据本发明的表面粗糙度测量单元1包括：探针单元3，其具有可从滑块11的通孔19，沿着工件W表面进行复制运动;以及位移检测部16，检测探头12在与工件表面正交的方向上的位移; 驱动部4，其使探针单元3沿着工件W表面前进退避; 以及用于将探针单元3和驱动部4耦合到三维测量系统100的测量头保持部的接合部40.另外，表面粗糙度测量单元1包括接触检测部15，滑动11与工件W表面。

20. 发明专利

JP5312032B2 Surface shape measuring device and the surface shape measuring method 有权
公开(公告)号：JP5312032B2
公开(公告)日：2013-10-09
申请号：JP2008540388
申请日：2008-05-21
申请人：株式会社東京精密
发明人：靖也石川
IPC分类号： G01B5/28 , G01B5/20
CPC分类号： G01B5/20 , G01B5/28
摘要： In a surface shape measurement device that measures the surface shape of a sample (W1, W2) by moving a probe (16, 26) in a sliding fashion along the surface of the sample (W1, W2) and thereby detecting the amount of displacement of the probe (16, 26) caused by irregularities on the surface, an initial amount of displacement is detected which is the amount of displacement of the probe (16, 26) when the probe is first placed in contact with a measurement start point on the surface of the sample (W1, W2), and the amount of displacement of the probe (16, 26), detected as it is moved in a sliding fashion along the surface, is compared with the initial amount of displacement to determine whether the probe (16, 26) has reached a measurement end point.

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