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检测判级方法及记录媒体

阅读：1111发布：2020-12-17

IPRDB可以提供检测判级方法及记录媒体专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且一种检测判级方法，其是用以检测并判级一光学元件，且包括接收一光学仪器测量光学元件所输出的一光学数据、依据光学数据产生一检测数据、比较检测数据与一预设的标准数据以产生一判级数据、以及储存检测数据及判级数据。本发明亦揭露一种记录让计算机实施上述方法的程序的记录媒体。本发明的检测判级方法直接透过数据接口接收光学元件的光学数据，所以能够利用自动化方式来检测并判级光学元件，以减少人为操作所导致的时间浪费及人为疏失。，下面是检测判级方法及记录媒体专利的具体信息内容。

权利要求

1、一种检测判级方法，其用以检测、判级一光学元件，包含：接收一光学仪器测量该光学元件所输出的一光学数据；

依据该光学数据产生一检测数据；

比较该检测数据与一预设的标准数据以产生一判级数据；以及储存该检测数据及该判级数据。

2、如权利要求1所述的检测判级方法，其特征在于：该光学仪器为一光谱仪。

3、如权利要求1所述的检测判级方法，其特征在于：该光学元件为一薄膜滤光镜。

4、如权利要求1所述的检测判级方法，其特征在于：是透过一 GPIB接口自该光学仪器接收该光学数据。

5、如权利要求1所述的检测判级方法，其特征在于：还包含：输出一控制信号至该光学仪器以控制该光学仪器测量该光学元件。

6、如权利要求1所述的检测判级方法，其特征在于：该检测数据至少包含该光学元件的带宽、峰值、中心波长及平坦度。

7、如权利要求1所述的检测判级方法，其特征在于：该标准数据至少包含一标准光学元件的带宽、峰值、中心波长及平坦度。

8、如权利要求1所述的检测判级方法，其特征在于：还包含：接收并储存一使用者所输入的一使用者数据。

9、一种记录媒体，其记录一计算机可读取的检测判级程序，该检测判级程序包含：一数据接收程序代码片段，其让计算机接收一光学仪器测量一光学元件所输出的一光学数据；

一检测程序代码片段，其让计算机依据该光学数据产生一检测数据；

一判级程序代码片段，其让计算机比较该检测数据与一预设的标准数据以产生一判级数据；以及一储存程序代码片段，其让计算机储存该检测数据及该判级数据。

10、如权利要求9所述的记录媒体，其特征在于：该光学仪器为一光谱仪。

11、如权利要求9所述的记录媒体，其特征在于：该光学元件为一薄膜滤光镜。

12、如权利要求9所述的记录媒体，其特征在于：是让计算机透过一GPIB接口自该光学仪器接收该光学数据。

13、如权利要求9所述的记录媒体，其特征在于：还包含：一控制信号输出程序代码片段，其让计算机输出一控制信号至该光学仪器，以控制该光学仪器测量该光学元件。

14、如权利要求9所述的记录媒体，其特征在于：该检测数据至少包含该光学元件的带宽、峰值、中心波长及平坦度。

15、如权利要求9所述的记录媒体，其特征在于：该标准数据至少包含一标准光学元件的带宽、峰值、中心波长及平坦度。

16、如权利要求9所述的记录媒体，其特征在于：还包含：一使用者数据接收储存程序代码片段，其系让计算机接收并储存一使用者所输入的一使用者数据。

说明书全文

技术领域

本发明涉及一种检测判级方法及记录媒体，特别关于一种用以检测并判级一光学元件的检测判级方法及记录媒体。

背景技术

光电技术乃是目前科技发展的重要指针之一，而在光电技术领域中，光学元件是其中极为重要的一项产品。光学元件的应用范围很广，如薄膜滤光镜(TFF，Thin Film Filter)、高密度多任务分合器(DWDM) 等。
在光学元件制造完成之后，通常必须利用一光学仪器来测量光学元件的光学性质，并透过光学检测判级装置或系统来检测及判级所制得的光学元件，然后才能够顺利进行光学元件的储存管理等程序。
在现有的光学元件检测判级过程中，通常是利用人工方式来操作仪器，然后利用手抄方式来记录光学元件的检测结果。然而，利用人工来操作仪器及记录数据不但耗费时间过长，而且还会因为人的因素而增加了出错的机率。
因此，如何能够减少人为操作浪费的时间及出错的机率，实是当前光电技术的重要课题之一。

发明内容

针对上述问题，本发明的目的为提供一种能够自动化检测并判级光学元件的检测判级方法及记录媒体。
为达上述目的，依本发明的检测判级方法包括接收一光学仪器测量一光学元件所输出的一光学数据、依据光学数据产生一检测数据、比较检测数据与一预设的标准数据以产生一判级数据、以及储存检测数据及判级数据。在本发明中，光学数据自光学仪器并透过一数据接口被接收。
如上所述，由于依本发明的检测判级方法直接透过数据接口接收光学元件的光学数据，所以能够利用自动化方式来检测并判级光学元件，以减少人为操作所导致的时间浪费及人为疏失。

附图说明

以下将参照相关附图，说明依本发明较佳实施例的检测判级方法及记录媒体，其中相同的元件将以相同的参照符号加以说明。
图1为一流程图，显示依本发明较佳实施例的检测判级方法的流程图；
图2为一示意图，显示光学仪器测量出光学元件的光谱图；
图3为一流程图，显示在本发明较佳实施例的检测判级方法中，依据光学数据产生pass band数据的流程图；
图4为一流程图，显示在本发明较佳实施例的检测判级方法中，比较检测数据与预设的标准数据以产生判级数据的流程图；
图5为一流程图，显示依本发明另一较佳实施例的检测判级方法的流程图。
图中符号说明
1           检测判级方法
101～104    本发明较佳实施例的检测判级方法的流程
2           检测判级方法
201～206    本发明另一较佳实施例的检测判级方法的流程
31～36      程序102的流程
41a～45     程序103的流程

具体实施方式

请参照图1所示，依本发明较佳实施例的检测判级方法1包括以下所述的程序101～104。
首先，程序101接收一光学仪器测量一光学元件所输出的一光学数据。在本实施例中，光学仪器可以是一光谱仪，而光学元件可以是薄膜滤光镜、高密度多任务分合器等光学产品。因此，当光学元件置于光学仪器中进行光谱扫描分析时，光学仪器能够测量出光学元件的一些光学性质，例如图2所示的光谱图中每一点的波长值与level值，此即为前述的光学数据。另外，在本实施例中，程序101可以透过一 GPIB(general-purpose instrument bus)接口、并列数据接口、串行数据接口(如USB接口)、可编程规划周边接口(programmable peripheral interface)、单芯片微电脑控制IC(如8051、8048等)、IEEE接口(如 IEEE488.2、IEEE1394)等自光学仪器接收光学数据。
在程序102中，接着依据所接收到的光学数据产生一检测数据。凡本领域技术人员都了解，光学数据显示光学元件在不同波长下的光学性质(如level值)，而检测数据是为了方便使用者快速了解光学元件的光学性质的一些特定数据，例如中心波长(λc)、pass band、stop band、峰值(peak)等等。以下举例说明程序102的流程。
如图3所示，在本实施例中，依据光学数据产生pass band数据的流程包括以下多个步骤。首先步骤31分析光谱图(如图2所示)以取得一峰值波长。接着在步骤32中取得于光谱图中单次送出数据的一间距波长。然后分别进行步骤33a～35a以及33b～35b，以计算得到测量波长(+)以及测量波长(-)。详言之，步骤33a是计算峰值波长与间距波长之和，步骤34a从光谱图中取得峰值波长与间距波长之和所对应的level 值，步骤35a判断步骤34a所取得的level值是否大于所需的范围，而当level值未大于所需的范围时，重复进行步骤33a～35a，当level值大于所需的范围时，则输出峰值波长与间距波长之和以进行步骤36，从光谱图中取得与峰值波长与间距波长之和相对应的level值；另外，步骤33b是计算峰值波长与间距波长之差，步骤34b从光谱图中取得峰值波长与间距波长之差所对应的level值，步骤35b判断步骤34b所取得的level值是否大于所需的范围，而当level值未大于所需的范围时，重复进行步骤33b～35b，当level值大于所需的范围时，则输出峰值波长与间距波长之差以进行步骤36。最后，步骤36将步骤33a～35a所得的和减去步骤33b～35b所得的差，而所计算求得的值即为光学元件的 pass band。凡本领域技术人员应当了解，上述的步骤同样能够应用于其它检测数据的取得。
请再参考图1所示，程序103比较检测数据与一预设的标准数据，以便产生一判级数据。在本实施例中，标准数据乃是厂商依据所需的光学元件的部分特性所制定出来的标准值，举例而言，标准数据可以规范所需光学元件的中心波长的标准值为1562.8nm，且其pass band为 0.5nm等。需注意的是，标准数据所规范的标准值可以是光学元件的任意一种特性。而由于检测数据可以是中心波长、pass band、stop band、峰值等，因此，判级数据是相对地可以是中心波长、pass band、stop band、峰值等数据的判级结果。此外，程序103还可以对检测数据的平坦度进行分析判级，以便判断光学元件的光学特性是否合乎平坦度的标准。以下举例说明程序103的流程。
如图4所示，在本实施例中，比较检测数据与预设的标准数据以产生判级数据的流程包括以下多个步骤。首先分别进行步骤41a～42a、步骤41b～42b、步骤41c～42c以及步骤41d～42d，以分别取得检测数据中的峰值、中心波长、pass band以及测量平坦度与标准数据中的峰值、中心波长、pass band以及平坦度的标准值。接着步骤43分别判断检测数据中的峰值是否合乎标准数据中的峰值、检测数据中的中心波长是否合乎标准数据中的中心波长、检测数据中的pass band是否合乎标准数据中的pass band、以及测得的平坦度是否合乎平坦度的标准值。而当步骤43的判断结果皆为通过(pass)时，进行步骤44以便为所检测的光学元件产生一良品的判级数据；另外，当步骤43判断检测数据中的任一光学特性未合乎标准数据中订定的条件时，进行步骤45以便为所检测的光学元件产生一不良品的判级数据。凡本领域技术人员应当了解，上述的步骤同样能够应用于其它检测数据的判级。
程序104是储存检测数据及判级数据。在本实施例中，检测数据及判级数据可以储存于一般的电子数据库中，因此，厂商能够非常容易地从电子数据库中取得光学元件的检测数据及判级数据，进而从检测数据中可以检视光学元件的光学特性，从判级数据中更可以直接判断光学元件是合乎所需的光学产品的标准。
此外，请参照图5所示，依本发明另一较佳实施例的检测判级方法2包括以下所述的程序201～206。
首先，在程序201中，一使用者输入一使用者数据，以便在本程序中接收并储存使用者数据。在本实施例中，使用者可以透过使用者输入接口，如鼠标、键盘等，输入使用者数据。
接着，程序202输出一控制信号至光学仪器，以控制光学仪器测量光学元件。在本实施例中，可以透过前述的GPIB接口输出控制信号至光学仪器，而光学仪器能够依据所接收到的控制信号执行光学元件的测量动作。
在接下来的程序203～206中，分别进行如前所述的程序101～104，其详细说明如前所述，故此不再阐述。
如上所述，在依本发明较佳实施例的检测判级方法2中，由于可以储存使用者数据，所以厂商能够于检视检测数据及判级数据时，同时检视进行操作的使用者的数据，因此，厂商能够于检视数据时更进一步比较并排除可能的人为因素所造成的疏失。
另外，本发明亦提供一种记录媒体，其记录一计算机可读取 (readable)的检测判级程序，其包括一数据接收程序代码片段、一检测程序代码片段、一判级程序代码片段以及一储存程序代码片段。其分别让计算机执行前述的程序101～104。此外，依本发明较佳实施例的记录媒体所记录的检测判级程序可以还包括一使用者数据接收储存程序代码片段以及一控制信号输出程序代码片段，其分别让计算机执行前述的程序201及程序202。有关上述各程序的详细说明如前所述，故此不再阐述。
综上所述，由于依本发明较佳实施例的检测判级方法是直接透过 GPIB接口接收光学元件的光学数据，所以能够自动地比较由光学数据得到的检测数据及标准数据，以检测并判级光学元件，故能够减少人为操作所导致的时间浪费及人为疏失。
以上所述仅为举例性，而非为限制性。任何未脱离本发明的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于权利要求书的范围中。

标题	发布/更新时间	阅读量
一种自动光学检测仪-专利编号CN106767539A	2020-05-13	477
一种自动光学检测系统-专利编号CN105043982A	2020-05-13	1014
一种自动光学检测装置-专利编号CN107561090A	2020-05-13	539
自动光学检测方法-专利编号CN109387518A	2020-05-12	813
自动光学检测设备-专利编号CN108375582A	2020-05-12	834
自动光学检测机-专利编号CN107796336A	2020-05-11	279
一种自动光学检测设备-专利编号CN109991243A	2020-05-12	622
自动光学检测机-专利编号CN206113885U	2020-05-11	344
自动光学检测仪-专利编号CN208688970U	2020-05-11	241
自动光学检测仪-专利编号CN202994201U	2020-05-11	863

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