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线缺陷判断装置及线缺陷判断方法

阅读：1023发布：2020-07-25

IPRDB可以提供线缺陷判断装置及线缺陷判断方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且一种平面显示装置的线缺陷判断装置、平面显示装置的线缺陷判断方法和液晶显示装置的线缺陷判断方法，其中，所述线缺陷装置设置于所述平面显示装置的短路棒区域和显示区域之间，包括金属层和有源层。有源层覆盖金属层，并且有源层和显示装置的驱动线连接，所述有源层在金属层加电时导通所述显示装置的驱动线。本发明能够将不需要修复的断路甄别，从而降低生产时间，提高效率，节约成本。，下面是线缺陷判断装置及线缺陷判断方法专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种平面显示装置的线缺陷判断装置，其特征在于，所述线缺陷判断装置设置于所述平面显示装置的短路棒区域和显示区域之间，其包括：金属层；

有源层，覆盖金属层，并且有源层和显示装置的驱动线连接，所述有源层在金属层加电时导通所述显示装置的驱动线。

2.如权利要求1所述的平面显示装置的线缺陷判断装置，其特征在于，所述金属层为栅极金属层。

3.如权利要求2所述的平面显示装置的线缺陷判断装置，其特征在于，所述栅极金属层的金属为铝或铝钕合金。

4.如权利要求1所述的平面显示装置的线缺陷判断装置，其特征在于，所述金属层位于有源层之上或者位于有源层之下。

5.如权利要求1所述的平面显示装置的线缺陷判断装置，其特征在于，所述与有源层连接的显示装置的驱动线为数据线或者扫描线。

6.如权利要求1所述的平面显示装置的线缺陷判断装置，其特征在于，所述有源层为非晶硅层。

7.如权利要求1所述的平面显示装置的线缺陷判断装置，其特征在于，所述金属层与所述短路棒位于同一层。

8.一种应用权利要求1至7中任一项所述的线缺陷判断装置判断线缺陷的方法，其特征在于，包括下述步骤：对所述平面显示装置的驱动线加电，判断是否产生断线现象；

若有驱动线产生断线现象，则对所述线缺陷判断装置的金属层加电，判断所述驱动线的断线现象是否消除；

若所述驱动线的断线现象消除，则判定所述驱动线的断线位置在短路棒区域，反之，则判定所述驱动线的断线位置在外围区域。

9.如权利要求8所述的判断线缺陷的方法，其特征在于，所述驱动线产生断线现象是指在黑画面显示模式下，所述驱动线断线显示为亮线。

10.如权利要求8所述的判断线缺陷的方法，其特征在于，所述驱动线为扫描线或者数据线。

11.一种液晶显示装置的线缺陷判断方法，其特征在于，所述方法应用权利要求1至7中任一项所述的线缺陷判断装置来判断线缺陷，包括下述步骤：通过短路棒对所述液晶显示装置的驱动线加电，判断是否出现驱动线断线显示；

若出现断线显示，在所述液晶显示装置的短路棒区域外导通所有驱动线，判断所述驱动线的断线显示是否消除；

若所述驱动线的断线显示消除，则判定所述驱动线的断线位置在短路棒区域，反之，则判定所述驱动线的断线位置在外围区域。

12.如权利要求11所述的液晶显示装置的线缺陷判断方法，其特征在于，所述驱动线产生断线显示是指在黑画面显示模式下，所述驱动线断线显示为亮线。

13.如权利要求11所述的液晶显示装置的线缺陷判断方法，其特征在于，所述导通所有驱动线包括通过激发电子导通所有驱动线。

说明书全文

线缺陷判断装置及线缺陷判断方法

技术领域

[0001] 本发明涉及显示装置，尤其涉及平面显示装置的线缺陷判断装置、平面显示装置的线缺陷判断方法以及液晶显示装置的线缺陷判断方法。

背景技术

[0002] 平面显示装置包括显示面板、扫描驱动器和数据驱动器。扫描驱动向形成在显示面板上的多条扫描线顺次输出扫描驱动信号，数据驱动器向显示面板上的数据线输出R、G、B图像信号。平面显示装置的非限制性的示例包括液晶显示装置、场发射显示装置、等离子体显示面板、发光显示装置等。在上述平面显示装置中，数据线或者驱动线断线会使得显示品质大大降低。下面以液晶显示装置为例，说明这种线缺陷对显示品质的影响，在液晶显示装置的制作工艺过程中，沉膜质量的好坏、环境的洁净度、静电放电(ElectrostaticDischarge或者ESD)、设备等问题都不可避免的使得扫描线发生断路或者给像素提供电压的数据线发生断路而产生线缺陷。

[0003] 线缺陷发生在液晶显示装置的短路棒区域，也发生在短路棒区域和外围区域。无论线缺陷发生在短路棒区域或者外围区域，都会使得显示品质大大降低。

[0004] 现有技术中，在外围区域存在线缺陷时，可以通过设计修复环进行修复，图1示意出包括修复环的液晶显示装置，如图1所示，该液晶显示装置包括数据线D1至数据线Dn、修复环1A、1B。修复环1A和1B位于显示区域的外围，用不同于数据线D1至Dn的材料做成，比如扫描线金属、像素电极金属等等。当显示区域有数据线发生断路时，比如数据线D1和数据线D2，就可以利用修复环1A和1B进行修复，第一种方式是在S1和S3处分别进行激光熔接修复环1A而修复数据线D1的线缺陷，在S2和S4处用激光熔接修复环1B而修复数据线D2的线缺陷；第二种方式是在S5和S7处用激光熔接修复环1B而修复数据线D1的线缺陷，在S6和S8处用激光熔接修复环1A而修复数据线D2的线缺陷。

[0005] 但是，在短路棒区域存在线缺陷时，不能通过设计修复环进行修复，产品只能报废。又因为，短路棒只是在制盒段测试的时候使用，测试结束即失去作用，不会用来当做电路通道，因此，短路棒区域的线缺陷对产品的显示品质不会有影响，而目前的技术不能判断线缺陷发生在短路棒区域和外围区域，因此，短路棒区域存在线缺陷的液晶显示装置也被报废，造成浪费。而为了避免这种浪费，通常采取的做法是花很多的时间先判断线缺陷是在短路棒区域还是在外围区域，然后将线缺陷在外围区域的产品报废，这种方式会造成时间和成本的浪费。

发明内容

[0006] 本发明解决的问题是现有技术无法判断线缺陷发生在短路棒区域还是外围区域的问题。

[0007] 为解决上述问题，本发明提供一种平面显示装置的线缺陷判断装置，该平面显示装置的线缺陷判断装置设置于所述平面显示装置的短路棒区域和显示区域之间，其包括金属层和有源层，有源层覆盖金属层，并且有源层和显示装置的驱动线连接，所述有源层在金属层加电时导通所述显示装置的驱动线。

[0008] 可选地，所述金属层为栅极金属层。

[0009] 可选地，所述栅极金属层的金属为铝或铝钕合金。

[0010] 可选地，所述金属层位于有源层之上或者位于有源层之下。

[0011] 可选地，所述与有源层连接的显示装置的驱动线为数据线或者扫描线。

[0012] 可选地，所述有源层为非晶硅层。

[0013] 可选地，所述金属层与所述短路棒位于同一层。

[0014] 一种前述的线缺陷判断装置判断线缺陷的方法包括下述步骤：对所述平面显示装置的驱动线加电，判断是否产生断线现象；若有驱动线产生断线现象，则对所述线缺陷判断装置的金属层加电，判断所述驱动线的断线现象是否消除；若所述驱动线的断线现象消除，则判定所述驱动线的断线位置在短路棒区域，反之，则判定所述驱动线的断线位置在外围区域。

[0015] 可选地，所述驱动线产生断线现象是指在黑画面显示模式下，所述驱动线断线显示为亮线。

[0016] 可选地，所述驱动线为扫描线或者数据线。

[0017] 一种液晶显示装置的线缺陷判断方法包括下述步骤：通过短路棒对所述液晶显示装置的驱动线加电，判断是否出现驱动线断线显示；若出现断线显示，在所述液晶显示装置的短路棒区域外导通所有驱动线，判断所述驱动线的断线显示是否消除；若所述驱动线的断线显示消除，则判定所述驱动线的断线位置在短路棒区域，反之，则判定所述驱动线的断线位置在外围区域。

[0018] 可选地，所述驱动线产生断线显示是指在黑画面显示模式下，所述驱动线断线显示为亮线。

[0019] 可选地，所述导通所有驱动线包括通过激发电子导通所有驱动线。

[0020] 与现有技术相比，本发明具有以下优点：

[0021] 本发明首先通过短路棒给液晶显示装置的驱动线加电，判断是否发生断线现象，然后对本判断装置的金属层加电而导通所述驱动线而判断所述断线现象是否消除(比如，亮线的条数的减少)来确定断线的具体位置(线缺陷发生在短路棒区域还是外围区域)，这样，可以对线缺陷位置进行甄别，而仅仅将需要修复的平面显示装置选择出来采用前述设计修复环的方法进行修复，而不用像现有技术那样，将短路棒区域或者外围区域存在线缺陷的平面显示装置报废，节约了成本，而且，也不用先判断哪条数据线存在线缺陷，然后判断线缺陷的具体位置而选择修复或者报废，节约了时间和成本。

附图说明

[0022] 图1是现有技术中线缺陷的修复结构示意图；

[0023] 图2是本发明液晶显示装置的线缺陷的判断装置的剖视图；

[0024] 图3是本发明液晶显示装置的线缺陷的判断方法的流程图；

[0025] 图4是本发明液晶显示装置的线缺陷判断装置用于液晶显示装置的第一实施例的结构示意图；

[0026] 图5是本发明液晶显示装置的线缺陷判断装置用于液晶显示装置的第二实施例的结构示意图；

[0027] 图6是图5中开关的剖视图。

具体实施方式

[0028] 本发明的发明人在制造平面显示装置的过程中，发现沉膜质量的好坏、环境的洁净度、ESD、设备等问题都不可避免的产生线路断路，这种线路断路可能存在于短路棒区域，也可能存在于外围区域。而目前通用的判断方法仅仅能够判断是哪条线路或者哪几条线路发生断路，而不能确定线路断路是发生在外围区域还是发生在短路棒区域。

[0029] 为此，请参阅图2和图4，本发明提供了一种平面显示装置的线缺陷判断装置400。该判断装置设置于所述平面显示装置的短路棒区域200与显示区域100之间，更具体的是设置在短路棒区域200外靠近激光切割线500处，激光切割线500是将短路棒从显示装置切割掉的分界线，因为，短路棒在测试时候将红、或绿或蓝的信号线连接在一起，在测试完成贴上驱动电路(IC)后，这与驱动电路的信号需要传递给每一条信号线相矛盾，无法实现多彩显示，因此，需要沿激光切割线500将短路棒切掉，从而，使得各信号线分开，短路棒区域200包括第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13。

[0030] 请参阅图2和图4，该平面显示装置线缺陷判断装置400包括金属层401和有源层402。所述金属层401为栅极金属层，或者为铝或铝钕合金层，金属层401与所述短路棒位于同一层。有源层402为非晶硅层且覆盖所述金属层401上，所述有源层402连接所述平面显示装置的数据线D1至数据线Dn，图2仅仅是示意，显示了有源层402连接数据线D1、数据线D2和数据线D3。如图4或者图5所示，所述数据线与金属层401异面且与金属层
401呈交叉状，也即所述判断装置400与数据线中的任何一条构成两条空间内相互垂直的直线，进而，数据线与金属层401也呈异面垂直排列，采用这样的方式，所述判断装置400是从下至上包括金属层401、有源层402和位于有源层402上的若干数据线的底栅结构，或者，所述判断装置400也可以是从下至上包括若干数据线、有源层402和金属层401的顶栅结构，也就是所述金属层401位于有源层402之上或者位于有源层402之下。

[0031] 对应的，本发明还提供了一种用前述线缺陷判断装置400判断液晶显示装置线缺陷的方法，如图3所示，该方法包括如下步骤：

[0032] S11：通过短路棒对所述液晶显示装置的驱动线加电，判断是否出现驱动线断线显示；

[0033] S12：若出现断线显示，在所述液晶显示装置的短路棒区域外导通所有驱动线，判断所述驱动线的断线显示是否消除；

[0034] S13：若所述驱动线的断线现象消除，则判定所述驱动线的断线位置在短路棒区域，反之，则判定所述驱动线的断线位置在外围区域。

[0035] 下面结合图3和图4并以所述驱动线为数据线为例，详细说明本发明的线缺陷判断方法，如图4所示，本实施方式的液晶显示装置包括显示区域100、短路棒区域200和位于显示区域100和短路棒区域200之间的外围区域300。显示区域100引出数据线D1至数据线Dn。外围区域300位于显示区域100和短路棒区域200之间。短路棒区域200包括第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13。第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13分别用以传送红(R)、绿(G)、蓝(B)信号，也就是在使用时，从显示区域100引出的数据线D1至数据线Dn经过外围区域300后与短路棒连接，比如，传送红色信号的数据线均与第一短路棒11连接，传送绿色信号的数据线均与第二短棒12连接，传送蓝色信号的数据线均与第三短路棒13连接。

[0036] 请参阅图3和图4，执行步骤S11，对所述液晶显示显示装置的驱动线加电，判断是否产生断线现象。

[0037] 显示装置是常白模式下的液晶显示装置，也就是在不加电的情况下，液晶显示装置显示白色，在加电的情况下，液晶显示装置显示黑色的模式。当然，对液晶显示装置加电，可以直接对所述第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13加电，加电后，电流通过第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13传输至数据线D1至数据线Dn，也可以采用其他方式加电而使得显示区域显示图像。假设数据线D1至数据线Dn中的数据线D3的断路位置发生在外围区域300，数据线Dn-1发生断路的位置在短路棒区域200时，在常白模式下的液晶显示装置，通过第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13对液晶显示装置的数据线D1至数据线Dn加电，数据线D1、D2、D4至Dn-2、Dn加电后液晶分子发生偏转，使得光线无法透过，整个画面呈黑色，而在此种情况下，由于数据线D3、数据线Dn-1断路，电压不能通过数据线D3、数据线Dn-1作用于液晶分子使得液晶分子不发生偏转，从而，数据线D3和数据线Dn-1显示两条亮线。因此，判断为数据线D3、数据线Dn-1有线缺陷显示现象；如果在通电的情况下，整个显示区域100没有亮线，则，数据线D1至数据线Dn不存在线缺陷现象。

[0038] 请继续参阅图3和图4，执行步骤S12：若有驱动线产生断线现象，则在所述液晶显示装置的短路棒区域外导通所有驱动线，判断所述驱动线的断线显示是否消除，判断所述驱动线的断线现象是否消除。

[0039] 在数据线有断线现象时，如图4中，数据线D3和数据线Dn-1存在线缺陷，此时，在所述液晶显示装置的短路棒区域导通所有驱动线采用对所述判断装置400的金属层401加电，金属层401通电后使得有源层402产生激发电子，在该激发电子的作用下，数据线D1、D2、D4至数据线Dn被导通，数据线Dn-1处的亮线消失，数据线D3处的亮线还存在，从而，通过设置在短路棒区域200的判断装置400给短路棒区域200外的数据线加电，所述数据线Dn-1的断线现象消除，数据线D3的断线现象没有消除。

[0040] 请继续参阅图3和图4，执行步骤S13：若所述驱动线的断线现象消除，则判定所述驱动线的断线位置在短路棒区域，反之，则判定所述驱动线的断线位置在外围区域。

[0041] 从步骤S12中可知，数据线的断线现象有消除，则，发生断线的位置在短路棒区域200。因为在第二次加电的时，数据线Dn-1上的亮线消失并且判断装置400设置在短路棒区域200，因此，在判断装置400的有源层402产生激发电子而导通数据线D1至数据线Dn后时，数据线Dn-1的断线位置距离激光切割线500的距离大于判断装置400距离激光切割线500的距离，数据线Dn-1至显示区域100的一段是完整的线路，电流能够通过，亮线会消失，所以，在对判断装置400的金属层401加电后且在亮线消失的情况下，可以判断数据线Dn-1的断线位置在短路棒区域200。测试结束后，贴上驱动电路(IC)前，需要沿着激光切割线500将数据线D1至数据线Dn与第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13切断，然后将数据线D1至数据线Dn与驱动电路连接，因此，即使短路棒区域200存在断路也不影响液晶显示装置的具体工作，由此可以判断该产品不可以报废。而对于如数据线D3的断路位置发生在外围区域300的情况，通过设计修复环进行修复，如果修复不成功，则将产品报废。因此，通过本发明，能够区别数据线发生线缺陷是在短路棒区域200还是在外围区域300，并且，甄别出断线的具体位置，然后对需要修复的显示装置设计修复环进行修复，如果修复不成功，再进行报复，避免了浪费，也不用先判断哪条数据线存在线缺陷，然后判断线缺陷的具体位置而选择修复或者报废，节约了时间和成本。

[0042] 请参阅图5和图6，图5和图6为本发明的第二个实施例，该实施例中的液晶显示装置也包括短路棒区域200、外围区域300、第一短路棒11、第二短路棒12、第三短路棒13等等。该实施例与第一实施例的区别在于，所述短路棒区域200设置有开关600。

[0043] 请参阅图6，所述开关600包括金属层601和第一有源层602。金属层601与所述判断装置400的金属层401为同一层。第一有源层602位于金属层601上。第一有源层602上连接的数据线D1至数据线Dn，数据线D1至数据线Dn由第一有源层602上的多个节点NOD1至NODn(图中仅仅示意图两个节点NOD1、NOD2)连接至相应的第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13。所述第一有源层602与判断装置400的有源层402结构不同，第一有源层602是断开的，并不是整个连续的面，而判断装置400的有源层402是连续的面。开关600的工作原理是：电流不能直接通过它，只有在开关的栅极(金属层601)通电后，电流才能通过，且通电时，因为第一有源层602是断开，所以，数据线之间也是互相绝缘的。设置开关600的好处是将在短路棒处原本互相短路的数据线绝缘，即金属层601不通电时所有数据线之间相互绝缘，这样在模组制程前就无需激光切割，可以有效提高产能。
在模组制程中只需给金属层601通负电压，使它处于关闭状态，这样数据线之间就避免了短路棒带来的数据线之间信号互相影响的问题。

[0044] 请继续参阅图5，利用判断装置400且以数据线D1和数据线Dn断线在该实施例中判断线缺陷的位置时，首先对开关600和通过第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13给数据线加电，在对开关600加电后，开关600导通，同样的，由于数据线D1和数据线Dn为断线，在常白模式下，显示装置会出现两条亮线。然后，对判断装置400的金属层401加电，此时，有源层402的电子被激发而导通数据线Dn，数据线Dn的亮线消失，数据线D1的亮线不消失，并且，因为判断装置400设置在短路棒区域200，因此，数据线Dn发生断路的位置在短路棒区域200，而数据线D1发生断路的位置在外围区域300。如前所述那样，对外围区域300存在线缺陷且无法修复成功的产品进行报废处理。

[0045] 上述两个实施例均以驱动线为数据线为例说明本线缺陷的判断方法，可以理解的是，所述驱动线为扫描线时，本方法仍然可以进行线缺陷判断，本判断装置400仍然可以用于判断线缺陷装置。

[0046] 综上所述，先对所述液晶显示装置的所有驱动线加电，在驱动线产生断线显示现象时，对所述线缺陷判断装置的金属层加电而导通液晶显示装置的所驱动线，结合判断装置400设置的具体位置即可得知断线的具体位置。从而，将不需要修复的断路甄别，不用像现有技术那样，将所有存在线缺陷的显示装置报废，节约了成本；另外，也不用像现有技术那样，先判断哪条数据线存在线缺陷，然后判断线缺陷的具体位置而选择修复或者报废，节约了时间和成本。

[0047] 另外，与液晶显示装置类似的还包括场发射显示装置、等离子体显示面板、发光显示装置等等，比如，该等装置都包括数据线或者扫描线，对所述扫描线施加驱动信号而打开晶体管，然后数据线的数据输入与晶体管的漏极相连的像素电极而实现显示，上述装置的数据线或者扫描线发生断路，因此，作为上述实施例的延伸，本发明还提供了一种平面显示装置的线缺陷判断方法，可以用来判断场发射显示装置、等离子体显示面板和发光显示装置等等的线缺陷。该方法包括下述步骤：对所述平面显示装置的驱动线加电，判断是否产生断线现象，在该步骤中，所述驱动线产生断线现象是指在黑画面显示模式下，所述驱动线断线显示为亮线；若有驱动线产生断线现象，则对所述线缺陷判断装置的金属层加电，判断所述驱动线的断线现象是否消除；若所述驱动线的断线现象消除，则判定所述驱动线的断线位置在短路棒区域，反之，则判定所述驱动线的断线位置在外围区域。所述驱动线为扫描线或者数据线。

[0048] 以上所述仅是本发明的优选的实施例，并不构成对本发明保护范围的限定。应当指出，对于本技术领域的技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，任何在所附权利要求书所定义的本发明的实质和范围之内所作的修改等同替换和改进等，均应包含在本发明中。

标题	发布/更新时间	阅读量
缺陷平面化-专利编号CN107408494A	2020-05-13	825
缺陷知识库-专利编号CN1392954A	2020-05-12	895
缺陷预测-专利编号CN110869854A	2020-05-11	546
出生缺陷细胞库及其构建方法-专利编号CN101942413A	2020-05-11	94
缺陷检测机-专利编号CN105203553A	2020-05-13	211
缺陷分析法-专利编号CN104465434A	2020-05-13	971
出生缺陷细胞库及其构建方法-专利编号CN101942413B	2020-05-11	560
出生缺陷高危因子库及其构建方法-专利编号CN103383692A	2020-05-11	1005
探测缺陷-专利编号CN110121654A	2020-05-12	682
缺陷分析-专利编号CN108231617A	2020-05-12	675

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