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用于估测矿物勘探中的γ-γ测井数据的方法和系统

阅读:918发布:2020-05-31

IPRDB可以提供用于估测矿物勘探中的γ-γ测井数据的方法和系统专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本发明涉及用于估测矿物勘探中的γ-γ测井数据的方法和系统。其提供一种供用于矿物勘探的γ-γ测井工具的校准场,所述校准场具有柱状物,其由多个具有己知密度的区块组成;以及井眼,其通过所述柱状物,经配置以容纳所述γ-γ测井工具。此外,本发明提供一种用于在所述校准场校准γ-γ测井工具的方法,所述方法包括使所述γ-γ测井工具降入由多个具有不同己知密度的区块组成并且其中具有井眼以接纳所述γ-γ测井工具的柱状物中;以设定速率升高所述γ-γ测井工具;在所述γ-γ测井工具的传感器处采集辐射计数;在计算装置上将所述辐射计数转化为特定深度的记录密度;以及将所述柱状物的每一位置处的记录密度与所述己知密度进行比较。,下面是用于估测矿物勘探中的γ-γ测井数据的方法和系统专利的具体信息内容。

1.一种供用于矿物勘探的γ-γ测井工具的校准场,所述校准场包含:柱状物,其包括多个具有已知密度的区块;以及井眼,其通过所述柱状物,经配置以容纳所述γ-γ测井工具。

2.根据权利要求1所述的校准场,其中所述多个区块中的每一者具有不同的已知密度,并且其中堆叠所述多个区块以使最低密度区块位于所述堆叠顶部并且最高密度区块位于所述堆叠底部。

3.根据权利要求2所述的校准场,其中选择多个区块的所述密度以跨越矿物勘探中遇到的岩性的密度的范围。

4.根据权利要求3所述的校准场,其中所述多个区块中的每一区块的所述密度在

3 3

1.5g/cm到4.5g/cm 范围内。

5.根据权利要求2所述的校准场,其中所述多个区块中的每一区块的密度均匀。

6.根据权利要求5所述的校准场,其中所述多个区块的每一区块由水泥、粗砂、砾石、水、泡沫聚苯乙烯(Styrofoam)以及铁矿石中的至少一者构成。

7.根据权利要求2所述的校准场,其中在所述柱状物中的所述区块中的每一者之间形成水平面。

8.根据权利要求1所述的校准场,其中所述井眼包括套管。

9.根据权利要求1所述的校准场,其进一步包含用于存储所述γ-γ测井工具的辐射源的储槽。

10.根据权利要求1所述的校准场,其进一步包含用于所述γ-γ测井工具的滑轮系统。

11.一种用于在校准场校准γ-γ测井工具的方法,其包含:使所述γ-γ测井工具降入包括多个具有不同已知密度的区块并且其中具有井眼以接纳所述γ-γ测井工具的柱状物中;

以设定速率升高所述γ-γ测井工具;

在所述γ-γ测井工具的传感器处采集辐射计数;

在计算装置上将所述辐射计数转化为特定深度的记录密度;以及将所述柱状物的每一位置处的记录密度与所述已知密度进行比较。

12.根据权利要求11所述的方法,其中堆叠所述多个区块以使最低密度区块位于所述堆叠顶部并且最高密度区块位于所述堆叠底部。

13.根据权利要求12所述的方法,其中多个区块的密度跨越矿物勘探中遇到的岩性的密度的范围。

3

14.根据权利要求13所述的方法,其中所述多个区块中的每一区块的密度在1.5g/cm3

到4.5g/cm范围内。

15.根据权利要求13或14所述的方法,其中所述多个区块中的每一区块的密度均匀。

16.根据权利要求11所述的方法,其中在所述柱状物中的区块中的每一者之间形成水平面。

17.根据权利要求16所述的方法,其进一步包含将两个区块之间的过渡感应区域内的密度曲线与理论密度曲线进行比较。

18.根据权利要求11所述的方法,其中所述校准的结果在地球物理学测井操作中用作参考曲线。

说明书全文

用于估测矿物勘探中的γ-γ测井数据的方法和系统

[0001] 相关申请的交叉参考
[0002] 本申请基于2014年5月5日提交的美国临时申请第61/988,783号并且要求其优先权益。此先前申请的揭示内容在此以全文引用的方式并入。

技术领域

[0003] 本发明涉及用于矿物勘探的工具并且尤其涉及γ-γ工具和其对应的校准场的用途。

背景技术

[0004] 地质钻孔构成了勘探如铁矿石的矿物的过程中的重要部分。此钻孔提供了构成估测资源和储备中所使用的地质模型的岩性信息。地质钻孔进一步允许井眼分析以测定勘探和开采后期的矿石百分比。
[0005] 然而,钻孔受制于可能导致不准确的结论的操作因素。此类因素包括样品的起泡、回收以及污染,其干扰原位密度的分析。
[0006] 此外,井眼分析的不同技术可能是不准确的。由于不可能保存钻孔中的岩心间隙空间或在棒撤回期间移动材料,用于密度测量和岩性接触点测定的此类技术可能产生不准确的信息。为了使关于钻孔的错误的可能性减到最少,可以使用额外技术来提供通过岩心钻孔去除之前石头和其天然状态的信息。
[0007] 一种提供岩性接触点或原位密度信息的方法利用γ-γ测井。γ-γ测井包括使井壁暴露于辐射源感应并且然后对被以距辐射源已知距离放置的接收器接收的γ辐射进行计数。然而,此类工具典型地用于石油勘探而非矿物勘探。归因于两种应用之间所涉及的不同岩性,工具的使用需要适用于矿物勘探。

发明内容

[0008] 本发明提供一种供用于矿物勘探的γ-γ测井工具的校准场,所述校准场包含:柱状物,其包括多个具有已知密度的区块;以及井眼,其通过所述柱状物,经配置以容纳所述γ-γ测井工具。
[0009] 本发明也提供一种用于在校准场校准γ-γ测井工具的方法,其包含:使所述γ-γ测井工具降入包括多个具有不同已知密度的区块并且其中具有井眼以接纳所述γ-γ测井工具的柱状物中;以设定速率升高所述γ-γ测井工具;在所述γ-γ测井工具的传感器处采集辐射计数;在计算装置上将所述辐射计数转化为特定深度的记录密度;以及将所述柱状物的每一位置处的记录密度与所述已知密度进行比较。

附图说明

[0010] 参看图式将较好地理解本发明,其中:
[0011] 图1是γ-γ测井简化工具的示意图;
[0012] 图2是γ-γ测井另一种简化工具的示意图;
[0013] 图3是显示铯-137源的γ计数读数与密度的曲线;
[0014] 图4是显示取决于γ射线能量的辐射线的不同范围的曲线;
[0015] 图5是显示铯-137源和钴-60源的γ计数读数与密度的曲线;
[0016] 图6是显示不同深度处的多种岩性的密度的曲线;
[0017] 图7是包含多种不同密度区块的柱状物的简化示意图;
[0018] 图8是显示图7的柱状物内的探针的密度测量的曲线图;
[0019] 图9是显示两个区块之间的感应区域和所述区域对行进通过那里的探针的感应的曲线;
[0020] 图10是利用校准场的实际密度和计数读数的例示性曲线;
[0021] 图11是显示多种深度处的密度与计数的曲线;以及
[0022] 图12是能够与本发明的系统一起使用的例示性计算装置的简化框图。

具体实施方式

[0023] 本发明提供供用于矿物勘探的γ-γ测井工具的校准场,所述校准场包含:柱状物,其由多个具有已知密度的区块组成;以及井眼,其通过经配置的柱状物以容纳γ-γ测井工具。
[0024] 本发明进一步提供一种用于在校准场校准γ-γ测井工具的方法,其包含:使γ-γ测井工具降入由多个具有不同已知密度的区块组成并且其中具有井眼以接纳γ-γ测井工具的柱状物中;以设定速率升高γ-γ测井工具;采集γ-γ测井工具的传感器处的辐射计数;以及在计算装置上将辐射计数转化为特定深度的记录密度;以及将所述柱状物的每一位置处的记录密度与已知密度进行比较。
[0025] γ-γ测井包括使井壁暴露于辐射源感应并且对在以距离朝向石头的辐射源已知距离放置的接收器处接收的γ辐射线进行计数。
[0026] 现在参考图1。在图1的实例中,测井工具100放置于待研究材料102附近。举例来说,材料102可以是井眼内部的岩层。
[0027] 工具100包括γ源110和至少一个γ辐射传感器120,其以已知距离相隔,如标号122所示。
[0028] γ源110提供进入材料102中的γ射线束。γ射线束中的一些将偏斜并且被传感器120检测到,如射束130所示。
[0029] 具体来说,归因于γ粒子与地质材料102之间的相互作用,通过传感器120观测到的计数相对于直接从辐射源观测到的计数减少,并且那么所述计数根据以下等式1与地质材料的密度相关。
[0030] N=N0e-μρX (1)
[0031] 在以上等式1中,N是在传感器上检测到的计数,N0是从所述源发出的直接计数,μ是质量吸收系数,ρ是材料密度,并且x是源-传感器距离。因此从等式1可见,因为μ、x以及N0是已知的,所以可以根据在传感器处接收到的计数N计算密度。
[0032] 已知等式1中所涉及的参数,因此可能使材料102中的密度值与传感器120处的γ粒子计数值相关。
[0033] 测井操作
[0034] 在操作中,γ-γ测井包括将测井探针导入井眼中。所述工具配备有辐射源以及实际上至少两个接收传感器以便于读取入射γ粒子的每秒计数(CPS)。所述两个传感器与所述源具有不同但已知的间距。所述两个传感器用于测定岩石接触点,所述岩石接触点受此类接触点与每一传感器的接近度影响。
[0035] 具体来说,现在参考图2,其显示了可以降入井眼202中的探针200的一个实例。探针200包括具有已知特性的γ辐射源210。举例来说,在一个实施例中,所述源可以是铯-137。
[0036] 图2的实例中的探针200包括两个传感器,即短传感器212和长传感器214。源210与短传感器212和长传感器214之间的间距是预定并且已知的。然而,在其它实施例中,可以在探针200上使用两个以上传感器。传感器212和214可以是任何可以检测来自源210的γ射线束并且提供精确计数的适合的传感器。
[0037] 源210发出γ射线束,如例如γ射线束230和232所示。不同γ射线束在散射于围绕井眼202的材料内之后,可以被短传感器212或长传感器214检测到。
[0038] 在一些实施例中,探针200可以包括测径规240以测定孔洞的直径。如所属领域技术人员将了解,孔洞直径可以基于如变得松散的易碎材料而不同或由于挤压而使孔洞直径减小。此类测径规240可以进一步迫使探针200与井眼202的壁面接触。
[0039] 在一个实施例中,利用通信线252将来自探针200的数据提供到数据接收器250表面。然而,其它选择方案也是可能的,包括在操作期间存储探针200上的数据并且在稍后的时间将此类数据传送到计算机上以便处理。此外,在一些实施例中,探针200可以包括一些处理或预处理功能以允许探针自身上的质量控制过滤或鉴别。
[0040] 数据接收器250可以是具有数据调节能力的计算机。在其它实施例中,数据接收器250可以仅记录用于在稍后的时间处理的数据。在第二种选择方案中,另一个计算机(未示出)可以对探针200所提供的数据进行计算。
[0041] 在操作中,探针200可以降入井眼中且随着工具升高可以采集数据读数。探针深度一般基于工具下降机构将是已知的,并且可以进一步基于天然存在的辐射校准。可以设定探针上升速率以确保围绕井眼202的材料的质量读数。
[0042] γ-γ测井以基于粒子与暴露于γ射线束的材料相互作用的特性的原理操作。材料的密度影响粒子束的相互作用。具体来说,材料越稠密,粒子相互作用越高并且因此在接收器处接收到的γ辐射线的计数越低。
[0043] 现在参考图3,其显示表现密度与计数之间的关系的曲线300。具体来说,如图3中所见,线条310提供了随着材料变得更稠密,γ计数的指数递减。
[0044] 参考图4,对于辐射来说与物质存在三种相互作用方法,这取决于与粒子束相关的能量。此类相互作用包括光电效应410、康普顿散射(Compton scattering)420以及电子对产生430。如图4中所见,γ射线的能量影响能量类型。在测井相互作用中,相互作用主要发生在康普顿散射范围中。
[0045] 在矿物勘探中,存在于天然环境中的地层具有一定范围内的密度。此类密度范围3 3
可以在低于1.5g/cm到高于4.1g/cm 范围内变化。因此,用于测量井眼中的密度的工具应允许明确测定此类范围内的密度。
[0046] 实际上,可以使用不同辐射源。可接收的来源的实例包括铯-137或钴60。各提供不同的优点和缺点。
[0047] 具体来说,现在参考图5,其显示使用钴60和铯-137的γ计数与密度的曲线500。具体来说,线条510显示使用钴60的计数与密度的对比并且线条520显示使用铯-137的对比。
[0048] 从图5可见,线条510显示使用钴60源可以较大的精度测定较高密度,因为计数随密度的变化高于线条520所示的铯-137的变化。然而,在较低密度中,具体来说在区域3
530所示的区域中引入了不确定性。具体来说,随着曲线升高并且然后降低,在密度1g/cm
3
与2g/cm之间,γ计数可能绘制成曲线上的2点,从而引入不确定性。
[0049] 相比之下,线条520显示铯-137明确地涵盖了关于矿物勘探和相关岩性预期的所有密度,从而为每一计数提供单个值。就此而言,铯-137是相比于钴60更好的辐射源材料。
[0050] 因此,利用具有铯-137源的γ-γ测井工具,有可能收集到关于如铁矿石勘探的矿物勘探所预期的密度范围的两个边缘处的测量值,产生矿物勘探的密度的重要细节。
[0051] 此类工具的使用提供密度曲线,如关于图6所示的曲线。如图6中所见,密度基于3
材料类型而变化。举例来说,在勘探中,硬壳层610产生3.0g/cm范围内的密度。硬赤铁矿
3
层620产生大于4.0g/cm的密度,如箭头622所示。软赤铁矿层630可以产生低于2.0g/
3
cm的密度,如图6的实例中的箭头632所示。
[0052] 为了确保测试方法的准确性,可以通过获取已知密度材料中的测量值并且比较分析测量值和预期值来校准工具。因此,根据本发明的一个实施例,为此类校准提供专门设计的设施。
[0053] 具体来说,为了评定γ-γ测井,需要三个参数。这三个参数是深度、密度以及接触点。
[0054] 深度控制意指检测并且校正测井工具所记录的深度偏差。虽然偏差在约几十米深度处更加明显,但在受控制的环境中即使较短距离观测也校准工具以预测实际位置与测井记录之间的潜在差异。
[0055] 关于密度,应以高于针对研究岩性所发现的密度变量范围内的精度测定这一参数。可以通过控制校准场处的组成材料密度来调节此类密度测量值。如下文所论述,可以控制组成测试场处的测试区块的混凝土。
[0056] 此外,在校准场,接触点的几何结构以及此类接触点之间的过渡类型可以是已知的。此类构型可以是测试数据的解释过程中的考虑因素。具体来说,在场井眼中,接触点的几何结构和类型可以确定岩性之间的过渡的密度曲线状态。此类几何结构可以包括钝型或渐进型接触点。可以使用经校准的工具来解释和控制接触点。
[0057] 可以在校准场进行γ-γ测井的评定,以及尤其对于工具或探针的深度、密度以及接触点的校准以及工具或探针的耐久性检验。为了获得此类校准场,可以在测试设施处产生测试区块的组合物以校准工具。
[0058] 具体来说,现在参考图7,其显示由具有不同已知密度的不同混凝土区块构成的测试柱状物700。测试区块通过与场井眼具有相同规格的孔洞垂直重叠并且交叉。在图7的实例中,提出四个区块,各模拟具有不同密度的不同岩性。然而,在构型场中使用四个区块仅是一个实例,并且可以在测试场使用更多或更少的区块。
[0059] 在图7的实施例中,区块710可以例如模拟密度为1.5g/cm3的岩石。区块712可3 3
以模拟密度为2.5g/cm的岩石。区块714可以模拟密度为3.5g/cm 的岩石。区块716可
3
以模拟密度为4.5g/cm的岩石。
[0060] 井眼720在四个区块之间对准并且模拟场中的井眼的直径。在一些情况下,可以在井眼720内提供衬里或套管以模拟场条件。
[0061] 所述区块经堆叠具有所定义的区块之间的过渡。在一个实施例中,所述区块可以出于测试目的堆叠在塔内。在其它实施例中,所述区块可以堆叠在孔洞内并且可以进行区块的地下测试。
[0062] 区块710到716中的每一者的构造方法集中于构成每一区块的混凝土掺合物的工艺控制以关于其密度值确保每一区块的密度以及区块均质性。
[0063] 具体来说,在测试柱状物700的一种模拟中,通过使用填充有特定区块所需密度的混凝土掺合物的圆柱形模壳来建构每一区块。然后根据覆盖如铁矿石勘探的矿物勘探中可见的密度范围的组成掺合物密度来整理区块。
[0064] 表1提供测试柱状物700的一个实例中所利用的区块组成。
[0065]
[0066] 表1:测试场处的区块的密度和组成
[0067] 如图7可见,所述区块可以在一个实施例中以逐渐提高的密度堆叠。
[0068] 对于校准场自身来说,由于使用了辐射源,出于安全,校准场可以包括不同特征。这些特征包括用于辐射源的安全存储的储槽。此类储槽可以靠近具有测试柱状物700的塔或测试孔洞建构以避免暴露于辐射源。可以通过保护栅中的壳体来保护此类储槽。
[0069] 校准场可以进一步通过出于移动目的安装的滑轮系统来移动设备,如起重机托架,典型地用于测试并且检验物理测井。
[0070] 测试设备内的所有这些供应件允许测试以迅捷的方式进行,在合理的较短时间间隔内使用在地球物理学测井活动现场使用的设备进行测量。
[0071] 工具可能根据已知密度数据经校准以用于检验恰当的操作。因此,对于测试柱状物700中的区块集来说,在测井过程中预期的是从顶部到底部一连串递增密度值。此外,因为每一区块的顶部和底部是水平面,所以预期曲线所记录的接触点是平滑的,显示每一区块的标称密度的过渡。
[0072] 现在参考图8。如图8中所见,类似于测试柱状物700的测试柱状物800配备有3 3 3 3
区块810、812、814以及816,每一区块分别具有1.5g/cm、2.5g/cm、3.5g/cm以及4.5g/cm的密度。
[0073] 针对工具所读取的密度的曲线820显示密度线条822。在将工具降到孔洞底部并3
且缓慢提高的典型测试中,密度可能开始为4.5g/cm并且当工具跨过区块816与814之间
3
的界面时包括到3.5g/cm的密度的平滑过渡。类似地,过渡在区块边界中的每一者处进行。
[0074] 区块之间的平滑过渡归因于γ-γ测井装置所敏感的每一区块的感应。因此,当将传感器放置于区块812的感应区域中的区块810深度范围中时,其将记录倾向于区块8103 3
密度的平均为1.5g/cm和2.5g/cm 的密度。
[0075] 这见于例如图9中,其中区块910具有较低密度并且区块912具有较高密度。当所述工具在区块感应区域920内时,另一个区块将感应到所述工具。
[0076] 如曲线930可见,接收器在位置932处,并且因此工具所读取的密度开始提高。
[0077] 在曲线940中,接收器在位置942处并且具有来自区块912的显著感应。
[0078] 在曲线950中,接收器现位于感应区域920下位置952处,并且因此仅录入区块912的密度。
[0079] 现实情况的测井参照图10示出,其显示具有短传感器(SS)和长传感器(LS)的两种传感器工具。具体来说,如图10中所见,线条1020所示的短传感器的密度在两米和三米过渡区域处增加到区块的预期密度。
[0080] 计数的原始数据还参照线条1022示出。
[0081] 对于长传感器来说,产生类似结果,如线条1030所示并且此类结果的计数通过线条1032示出。
[0082] 归因于测井工具的几何结构,存在具有与源与传感器之间的间隙相关的抑制值的范围。仅在源和传感器两者都完全在孔洞内时进行图10的实施例中的测量。
[0083] 从图10可见,延伸到测试塔底部的计数值存在连续性,通过其可以基于上文等式1中示出的关系预测相邻密度值。
[0084] 此外,密度与深度之间的关系参照图11示出。具体来说,如图11中所见,密度曲线1110紧密地跟随计数曲线1120。
[0085] 基于上述,可以在测试场处模拟如铁矿石勘探的矿物勘探中发现的岩性的预期密度范围。在此上下文中,γ测井测量数据主要由井眼数据组成,井眼数据控制可能受制于地质条件,如岩石不均匀性和组成变化。数据控制可能进一步受制于可能影响组成变化的因素的井壁条件以及可能影响密度测量值使其具有相比于每种岩性的标称密度的偏差的因素的井壁条件。
[0086] 校准场的使用允许产生针对矿物勘探岩性中存在的γ-γ测井可获得的密度的校准曲线。具体来说,γ-γ测井传统上应用于石油勘探,其具有对于较大油包容盆地中的沉积框架来说有限的密度范围。将所述工具应用于矿物勘探因此可以利用工具的校准以便提供原位操作的精确数据。
[0087] 此外,归因于多参数测试结果,历史上应用于石油勘探的地球物理学测井提供根据如有效孔隙度和石材孔隙填充的其它因素的密度变化,而不仅仅根据岩性自身。因此,此类油岩性因素提供相比于铁勘探的差异。
[0088] 密度是通过势场方法的地球物理学建模的校准中所使用的直接参考。具体来说,重力梯度测量是检验地表下密度对比分布的参数。然而,在校准场测量的密度范围匹配铁矿石勘探中发现的密度范围,并且因此原位测量的密度对应于每一范围所描述的岩性。就此而言,可以在如铁矿石勘探的矿物勘探过程中利用γ-γ密度工具。
[0089] 密度的计算、测试结果的存储以及工具的校准可以在任何计算装置上进行。参照图12提供简化计算装置的一个实例。
[0090] 图12是可以用于实施本文所公开的装置和方法的计算装置1200的框图。特定装置可以利用所有示出的组件或所述组件的仅一个子集,并且装置之间的集成水平可能不同。此外,装置可以含有组件的多个例子,如多个处理单元、处理器、存储器、发射器、接收器等。计算装置1200可以包含与具有一或多个输入/输出装置的用户接口1240相互作用的处理器1210,所述一或多个输入/输出装置如扬声器、麦克风、鼠标、触摸屏、小键盘、键盘、打印机、显示器以及类似者。
[0091] 计算装置可以包括一或多个处理器1210、存储器1220以及与总线1212连接的通信子系统1230。
[0092] 总线1212可以是任何类型的若干总线架构中的一或多者,包括存储器总线或存储器控制器、外围总线、视频总线等。处理器1210可以包含任何类型的电子数据处理器。存储器1220可以包含任何类型的系统存储器,如静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、只读存储器(ROM)、其组合等。在一个实施例中,存储器可以包括用于启动的ROM以及用于程序和数据存储以供在执行程序时使用的DRAM。
[0093] 存储器1220可以进一步包含任何类型的存储装置,所述存储装置经配置以存储数据、程序以及其它信息,并且使得数据、程序以及其它信息是经由总线可存取的。存储器1220可以包含例如固态驱动器、硬盘驱动器、磁盘驱动器、光盘驱动器等中的一或多者。
[0094] 用户接口1240可以用于将外部输入和输出装置耦合到处理单元上。输入和输出装置的实例包括耦合到视频适配器上的显示器、耦合到I/O接口上的鼠标/键盘/打印机。其它装置可以耦合到处理单元上,并且可以利用额外的或较少的接口卡。举例来说,可以使用如通用串行总线(USB)(未示出)的串联接口来提供打印机接口并且可以为探针200数据提供输入端。
[0095] 计算装置1200还可以包含通信子系统1230,其可以包含如以太网电缆等的有线链路和/或无线链路以访问节点或不同网络。此类通信子系统1230将允许计算装置经由网络与远程单元通信。举例来说,通信子系统1230可以经由一或多个发射器/发射天线和一或多个接收器/接收天线提供无线通信。在一个实施例中,计算装置1200耦合到局域网或广域网上以用于数据处理以及与远程装置通信,所述远程装置如其它处理单元、因特网、远程存储设施或类似者。
[0096] 通过描述前述实施例,可以通过仅使用硬件或通过使用软件和硬件的组合来实施本发明的教示内容。用于实施一或多个实施例或其一或多个部分的软件或其它计算机可执行指令可以存储在任何适合的计算机可读存储介质上。计算机可读存储介质可以是有形的或呈暂时性/非暂时性介质形式,如光学(例如CD、DVD、蓝光等)磁性硬盘、易失性或非易失性、固态,或所属领域中已知的任何其它类型的存储介质。
[0097] 所属领域的技术人员将理解本发明的额外特征和优点。
[0098] 本文所描述以及图式中所示出的特定实施例的结构、特征、附加物以及替代物意图一般应用于本发明的所有教示内容,包括本文中所描述并且说明的所有实施例,只要其是可相容的。换句话说,特定实施例的结构、特征、附加物以及替代物并不意图仅限于特定实施例,除非有如此指定。
[0099] 此外,提供前述详细说明以使得所属领域的技术人员能够进行或使用根据本发明的一或多个实施例。所属领域的技术人员将容易了解对那些实施例的各种修改,并且可以在不脱离本文所提供的教示内容的精神或范围的情况下将本文所定义的一般原理应用到其它实施例中。因此,本发明方法、系统和或装置并不意图限于本文所公开的实施例。权利要求的范围应不受这些实施例限制,而应提供与说明书总体上相符的最广泛解释。参考单数形式的要素,如通过使用冠词“一(a)”或“一(an)”并不意图意谓“一个并且仅一个”(除非特定如此陈述),而是“一或多个”。所属领域的一般技术人员已知或稍后已知的本发明中所描述的不同实施例的要素的所有结构和功能等效物意图包涵在权利要求的要素中。
[0100] 此外,本文中的任何内容都不希望承认先前技术或公共常识。此外,本申请案中的任何文献的引用或鉴别都不承认此类文件可作为先前技术获得,或任何参考文献形成所属领域公共常识的一部分。此外,本文所公开的任何内容都不希望奉献给公众,无论权利要求书中是否明确地陈述此类公开内容。
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侵权分析

IPRDB的侵权分析产品是IPRDB结合多位一线专利维权律师和专利侵权分析师的智慧,开发出来的一款特色产品,也是市面上唯一一款帮助企业研发人员、科研工作者、专利律师、专利分析师快速定位侵权分析的产品,极大的减少了用户重复工作量,提升工作效率,降低无效或侵权分析的准入门槛。

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