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41. 发明公开

CN111033300A 用于确定至少一项几何信息的测距仪有权
公开(公告)号：CN111033300A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201880055379.2
申请日：2018-08-28
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： P·辛德勒 , P·希伦 , M·埃伯斯帕奇 , C·伦纳茨 , R·森德 , I·布鲁德
IPC分类号： G01S7/48 , G01S17/46
摘要：用于确定至少一项几何信息的测距仪提供了用于确定关于至少一个对象(112)的至少一项几何信息的测距仪(110)。测距仪(110)包括：-至少一个照射源(114)，其适于生成至少一个照射图案(116)，其中，所述照射源(114)适于用所述照射图案(116)在倾斜角度下照射所述对象(112)；-至少一个光学传感器(118)，其具有至少一个感光区(120)，其中，所述光学传感器(118)被设计为响应于由源自所述对象(112)的至少一个反射图案(124)对其感光区(120)的照射而生成至少一个图像矩阵(122)；-至少一个评估装置(126)，其被配置为通过在假设所述反射图案(124)中存在至少一个几何构象(128)的情况下评估所述图像矩阵(122)来根据所述反射图案(124)确定关于所述对象(112)的所述几何信息。

42. 发明公开

CN110998223A 用于确定至少一个对像的位置的检测器有权
公开(公告)号：CN110998223A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201880053570.3
申请日：2018-06-25
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： C·朗根施密德 , O·佩科拉 , P·辛德勒 , R·森德 , I·布鲁德 , E·蒂尔 , S·伊尔勒
IPC分类号： G01B11/02 , G01B11/24 , G01S17/06 , G01S7/48 , G01S7/481 , G01C3/08 , H04N5/335
摘要：公开了一种用于调整检测器(110)的方法，该检测器(110)用于确定测量范围(114)内的至少一个对象(112)的位置。该检测器(110)包括至少两个纵向光学传感器(116)和用于将对象(112)成像到像平面中的至少一个传送装置(118)。该传送装置(118)具有焦平面。该传送装置(118)被定位在纵向光学传感器(116)和对象(112)之间。该纵向光学传感器(116)中的每一者具有至少一个传感器区域(120)。该纵向光学传感器(116)中的每一者被设计为以取决于由从对象(112)向检测器(110)传播的至少一个光束(178)对所对应的传感器区域(120)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中，在给定相同的总照射功率的情况下，纵向传感器信号取决于光束(178)在传感器区域(120)中的束横截面。该检测器(110)进一步包括至少一个评估装置(124)。该方法包括以下步骤：(i)顺序地将对象(112)纵向移动到测量范围(114)内的具有至少两个不同纵坐标的至少两个不同校准位置(134、136)；(ii)针对校准位置(134、136)中的每一者，记录由第一纵向光学传感器(126)生成的至少一个第一纵向传感器信号和由第二纵向光学传感器(128)生成的至少一个第二纵向传感器信号；(iii)针对校准位置(134、136)中的每一者，使用第一纵向传感器信号和第二纵向传感器信号来形成至少一个校准信号；(iv)使用校准信号来生成校准函数，该校准函数定义了对象(112)的纵坐标与第一纵向传感器信号和第二纵向传感器信号之间的关系。

43. 发明公开

CN109964148A 用于光学检测至少一个对象的检测器有权
公开(公告)号：CN109964148A
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201780071213.5
申请日：2017-11-17
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： M·艾伯斯派克 , C·朗根施密德 , R·森德 , T·欧姆 , S·恒恩 , I·布鲁德 , W·赫尔梅斯 , S·瓦鲁施 , P·希伦 , P·辛德勒 , C·伦纳茨
IPC分类号： G01S17/46 , G01S7/481 , G01S5/16 , G01S7/491 , G01S11/12 , G01S7/48
摘要：公开了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个具有光学传感器(122)的矩阵(120)的传感器元件(118)，光学传感器(122)各自具有光敏区域(124)，其中每个光学传感器(122)被配置为响应于从对象(112)传播到检测器(110)的至少一个光束(116)对光敏区域(124)的照射而产生至少一个传感器信号；‑至少一个评估装置(134)，其被配置为通过以下操作评估传感器信号：a)确定至少一个具有最高传感器信号的光学传感器(122)并形成至少一个中心信号；b)评估矩阵(120)中的光学传感器(122)的传感器信号并形成至少一个和信号；c)通过组合中心信号和和信号来确定至少一个组合信号；以及d)通过评估组合信号来确定对象(112)的至少一个纵向坐标z。

44. 发明公开

CN109564927A 光学传感器和用于光学检测的检测器有权
公开(公告)号：CN109564927A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201780046664.3
申请日：2017-07-27
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： W·赫尔梅斯 , S·瓦鲁施 , R·森德 , I·布鲁德 , B·福伊尔施泰因
IPC分类号： H01L27/146 , H01L31/02 , H01L31/0203 , H01L31/0216 , H01L31/0224 , H01L31/032 , H01L31/09 , H01L31/18 , G01S7/481 , G01S17/46
CPC分类号： H01L31/095 , G01S7/4816 , G01S17/46 , G01S17/48 , H01L27/14665 , H01L27/14667 , H01L31/02016 , H01L31/0203 , H01L31/0216 , H01L31/0224 , H01L31/0324 , H01L31/09 , H01L31/186 , H01L31/1864 , Y02E10/50 , Y02P70/521
摘要：本发明涉及光学传感器、光学检测至少一个对象的包括光学传感器的检测器、制造光学传感器的方法以及光学传感器和检测器的各种用途。此外，本发明涉及人机接口、娱乐装置、扫描系统、跟踪系统、立体系统和相机。光学传感器(110)包括至少一个光电导材料(114)的层(112)、接触光电导材料(114)的层(112)的至少两个个体电接触(136、136')、以及沉积在光电导材料(114)的层(112)上的覆盖层(116)，其中覆盖层(116)是包括至少一种包含金属的化合物(120)的非晶层。光学传感器(110)可作为不笨重的气密封装提供，然而，该封装提供高度保护以防止湿气和/或氧气引起的可能劣化。而且，覆盖层(116)能够激活光电导材料(114)，这导致光学传感器(110)的性能提高。此外，光学传感器(110)可容易地制造并集成在电路载体装置上。

45. 发明公开

CN109328310A 用于对至少一个对象进行光学检测的检测器无效
公开(公告)号：CN109328310A
公开(公告)日：2019-02-12
申请号：CN201780037795.5
申请日：2017-04-18
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , W·赫尔梅斯 , C·朗根施密德 , R·森德 , I·布鲁德
IPC分类号： G01S17/46 , G01S5/16 , G01S7/481 , H01L31/108 , H01L51/42
摘要：提出了一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)。所述检测器(110)包括：至少一个横向光学传感器(114)，其适于确定从所述对象(112)向所述检测器(110)行进的光束(136)的横向位置，其中所述横向位置是在垂直于所述检测器(110)的光轴(116)的至少一个维度上的位置，其中所述横向光学传感器(114)具有嵌入在至少两个导电层(132、132’)之间的包括多个量子点(134)的至少一个光伏层(130)，其中所述导电层中的至少一个(132)是至少部分透明的来允许所述光束(136)行进到所述光伏层(130)，其中所述横向光学传感器(114)还具有位于所述导电层中的至少一个(132’)处的至少一个分离电极，其中所述分离电极具有至少两个部分电极(138、138’)来适于生成至少一个横向传感器信号，其中所述至少一个横向传感器信号指示所述光束(136)在所述光伏层(130)中的所述横向位置；以及至少一个评估装置(140)，其中所述评估装置(140)被设计成通过评估所述至少一个横向传感器信号来生成与所述对象(112)的横向位置相关的信息中的至少一项。由此，提供了一种用于准确确定至少一个对象(112)的横向位置的简单且仍然有效的检测器(110)。

46. 发明公开

CN108291970A 用于光学检测至少一个对象的检测器无效
公开(公告)号：CN108291970A
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201680070553.1
申请日：2016-12-02
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： R·森德 , I·布鲁德 , S·瓦鲁施
IPC分类号： G01S17/42 , G01S17/46 , G01S7/481
CPC分类号： G01S7/4816 , G01S11/12 , G01S17/42 , G01S17/46 , G01S17/66 , H01L27/14643 , H01L31/02019 , H01L31/02024 , H01L31/03762
摘要：公开了光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)。检测器(110)包括：至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中纵向光学传感器(114)被设计为以依赖于光束(132)对传感器区域(130)的照射的方式产生至少一个纵向传感器信号，其中在给定相同照射总功率的情况下，纵向传感器信号依赖于光束(132)在传感器区域(130)中的光束横截面，其中纵向传感器信号还依赖于纵向光学传感器(114)的至少一个特性，其中纵向光学传感器(114)的特性是可调节的；和至少一个评估装置(138)，其中评估装置(138)被设计为通过评估纵向光学传感器(114)的纵向传感器信号产生关于对象(112)的纵向位置的至少一项信息。

47. 发明授权

CN110392844B 用于光学检测至少一个对象的检测器有权
公开(公告)号：CN110392844B
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN201880017537.5
申请日：2018-03-15
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： R·森德 , C·M·奥古恩 , C·哈恩 , M·埃伯斯帕奇 , I·布鲁德 , B·舍瓦
IPC分类号： G01S17/46 , G01S3/783 , G01S7/481
摘要：提出了一种用于确定至少一个对象的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个角度相关光学元件(130)，其适于生成至少一个光束(131)，该至少一个光束(131)具有取决于从对象(112)朝向检测器(110)传播并照射角度相关光学元件(130)的入射光束(116)的入射角的至少一个光束轮廓，其中，该角度相关光学元件(130)包括选自如下的至少一个光学元件：至少一根光纤，特别是至少一根多分叉光纤，特别是至少一根双分叉光纤；至少一个衍射光学元件；至少一个角度相关反射元件，至少一个衍射光栅元件，特别是闪耀光栅元件；至少一个孔径光阑；至少一个棱镜；至少一个透镜；至少一个透镜阵列，特别是至少一个微透镜阵列；至少一个光学滤波器；至少一个偏振滤波器；至少一个带通滤波器；至少一个液晶滤波器，特别是液晶可调谐滤波器；至少一个短通滤波器；至少一个长通滤波器；至少一个陷波滤波器；至少一个干涉滤波器；至少一个透射光栅；至少一个非线性光学元件，特别是一个双折射光学元件；‑至少两个光学传感器(113)，其中，每个光学传感器(113)具有至少一个光敏区域(121)，其中，每个光学传感器(113)被设计成响应于由角度相关光学元件(130)生成的光束(131)对其相应光敏区域的照射而生成至少一个传感器信号；至少一个评估装置(133)，其被配置用于通过评估来自传感器信号的组合信号Q来确定对象(112)的至少一个纵向坐标z。

48. 发明授权

CN110291418B 用于至少一个对象的光学检测的检测器有权
公开(公告)号：CN110291418B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN201880010677.X
申请日：2018-02-07
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： C·朗根施密德 , C·邦西诺 , A·汉德瑞克 , I·布鲁德 , R·森德
IPC分类号： G01S17/42 , H10K30/10 , H01L31/0256 , G01S5/16 , G01S7/481
摘要：的简单且仍然有效的检测器，其表现出所提取的G01S 7/481(2006.01)(56)对比文件CN 1209930 A,1999.03.03CN 105637320 A,2016.06.01CN 102150117 A,2011.08.10ac光电流随着的入射光斑尺寸的变化的强非线性行为并且另一方面允许容易制备。

49. 发明授权

CN111465829B 光谱仪设备及系统有权
公开(公告)号：CN111465829B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN201880080373.0
申请日：2018-12-12
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·瓦鲁施 , R·古斯特 , B·福伊尔施泰因 , R·森德 , I·布鲁德
IPC分类号： G01J3/26 , G02B27/09 , G01J3/02
摘要：公开了一种光谱仪系统(110)和一种光谱仪设备(112)，其适合于研究或监控目的，特别是在红外(IR)光谱区域中，并且适于检测热、火焰、火或烟。本文中，光谱仪设备(112)包括：光学元件(122)，其被设计用于接收来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)传输到长度可变滤波器(118)，其中，光学元件(122)包括光学聚光器设备(124)，其中，光学聚光器设备(124)沿反方向(126)操作，其中，光学聚光器设备(124)具有适于反射入射光的单个侧壁(128)，其中，单个侧壁(128)被设计为圆形侧壁；长度可变滤波器(118)，其被指定用于将入射光(114)分离成组成波长信号的光谱；以及包括多个像素化传感器(144)的检测器阵列(120)，其中，每个像素化传感器(144)适于接收组成波长信号之一的至少一部分，其中，每个组成波长信号与每个组成波长的强度有关。光谱仪设备(112)允许捕获来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)以特别高的聚光效率传输到长度可变滤波器(118)。除了光谱仪设备(112)之外，光谱仪系统(110)还包括评估单元(150)，评估单元(150)被指定用于通过评估由光谱仪设备(112)提供的检测器信号(204、204'、204”)来确定与对象(116)的光谱有关的信息。

50. 发明授权

CN109964148B 用于光学检测至少一个对象的检测器有权
公开(公告)号：CN109964148B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN201780071213.5
申请日：2017-11-17
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： M·艾伯斯派克 , C·朗根施密德 , R·森德 , T·欧姆 , S·恒恩 , I·布鲁德 , W·赫尔梅斯 , S·瓦鲁施 , P·希伦 , P·辛德勒 , C·伦纳茨
IPC分类号： G01S17/46 , G01S7/481 , G01S5/16 , G01S7/491 , G01S11/12 , G01S7/48
摘要：公开了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个具有光学传感器(122)的矩阵(120)的传感器元件(118)，光学传感器(122)各自具有光敏区域(124)，其中每个光学传感器(122)被配置为响应于从对象(112)传播到检测器(110)的至少一个光束(116)对光敏区域(124)的照射而产生至少一个传感器信号；‑至少一个评估装置(134)，其被配置为通过以下操作评估传感器信号：a)确定至少一个具有最高传感器信号的光学传感器(122)并形成至少一个中心信号；b)评估矩阵(120)中的光学传感器(122)的传感器信号并形成至少一个和信号；c)通过组合中心信号和和信号来确定至少一个组合信号；以及d)通过评估组合信号来确定对象(112)的至少一个纵向坐标z。

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