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    • 3. 发明专利
    • 中空封止用樹脂シート、及び、中空パッケージの製造方法
    • 中空密封用​​树脂片及中空包装的制造方法
    • JP2015106573A
    • 2015-06-08
    • JP2013246352
    • 2013-11-28
    • 日東電工株式会社
    • 豊田 英志清水 祐作土生 剛志市川 智昭
    • H01L23/08H03H9/25H03H3/08H01L23/02
    • 【課題】 電子デバイスを好適に中空封止用樹脂シートに埋め込みでき、且つ、被着体と電子デバイスとの間の空隙には、封止用樹脂シートを構成する材料が流入し難い中空封止用樹脂シートを提供すること。 【解決手段】 中空封止用樹脂シート全体の60〜150℃における硬化前の最低動的粘度が5千Pa・s以上50万Pa・s以下であり、基板に複数のチップがフリップチップ接続されたテスト基板を用い、テスト基板上に、中空封止用樹脂シートを配置した後、中空封止用樹脂シート側から70℃、圧力1kgf/cm 2 、真空度10Torrにて加圧した際の、中空封止用樹脂シートを構成する材料のチップ間への進入速度Aと、中空封止用樹脂シートを構成する材料の間隙への進入速度Bとの比A/Bが5以上である。 【選択図】 図1
    • 要解决的问题:提供一种用于中空密封的树脂片,其中可以适当地埋入电子器件,并且形成用于密封的树脂片的材料不太可能流入被粘物和电子器件之间的空腔。解决方案:底部动态 在60〜150℃下固化前的中空密封用​​树脂片的整体粘度为5000Pa·s以上且500,000Pa·s以下。 将多个芯片倒装芯片连接的测试基板用作基板。 在将中空密封用​​树脂片设置在试验基板上,然后从70℃的中空密封用​​树脂片侧加压1kgf / cm 2的真空度, 10乇,形成用于中空密封的树脂片材的材料在芯片之间移动的材料的速度A与形成用于中空密封的树脂片材移动到空腔中的速度B之比A / B为5以上 。
    • 9. 发明专利
    • 中空型電子デバイス封止用シート、及び、中空型電子デバイスパッケージの製造方法
    • 中空型电子设备密封片和中空型电子设备包装的制造方法
    • JP2016162909A
    • 2016-09-05
    • JP2015041066
    • 2015-03-03
    • 日東電工株式会社
    • 土生 剛志豊田 英志市川 智昭清水 祐作
    • H01L23/29H01L23/31H01L23/02
    • H01L2224/16225H01L2224/97H01L2924/181H01L2924/00012
    • 【課題】 電子デバイスと被着体との間の中空部に入り込む樹脂の量がパッケージごとにばらつくことを抑制することが可能な中空型電子デバイス封止用シートを提供すること。 【解決手段】 下記各ステップの手順により測定される進入量X1が0μm以上50μm以下であり、且つ、進入量Y1から進入量X1を引いた値が50μm以下である中空型電子デバイス封止用シート。ダミーチップを中空型電子デバイス封止用シートのサンプルに埋め込むステップの後、ダミーチップとガラス基板との間の中空部への、サンプルを構成する樹脂の進入量X1を測定するステップ、サンプルを熱硬化させて封止体サンプルを得るステップ、及び、封止体サンプルにおける中空部への樹脂の進入量Y1を測定するステップ。 【選択図】 図1
    • 要解决的问题:提供一种能够抑制插入每个封装中的电子器件和被粘物之间的中空部分的树脂的变化的中空型电子器件密封片。解决方案:在中空型电子器件密封片中, 通过后续步骤的处理测量的入口量X1等于0μm以上且50μm以下,通过从入口量Y1减去入口量X1而得到的值为50μm以下。 一种制造方法,包括以下步骤:在将所述虚拟尖端嵌入到所述中空型电子装置密封片的样品中的步骤之后,测量构成所述虚拟顶端和玻璃基板之间的中空部分的样品的树脂的入口量X1: 通过热固化样品获得密封体样品; 并测量树脂进入密封体样品中的中空部分的入口量Y1。选择图:图1