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硅片检测装置

阅读：1005发布：2020-07-18

IPRDB可以提供硅片检测装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本发明涉及太阳能电池片技术领域，尤其是一种硅片检测装置，包括支架，支架上设置有工作台，工作台的上表面通过转轴转动设置有平台，工作台的下表面设置有用于驱动平台转动的电机，平台的上表面设置有左固定板和右固定板，左固定板和右固定板的内侧面均设置有气囊，平台的下表面设置有气泵，气泵与气囊连通，本发明的硅片检测装置通过气囊夹持硅片的窄面，使得硅片不会因为夹持而受到损坏，不影响对硅片正面及背面的观察，通过电机带动平台转动的方式，实现无需人工翻转硅片，即可完成对硅片正面及背面的观察，大大提高检测效率，提高检测的准确率，降低误判率。，下面是硅片检测装置专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种硅片检测装置，其特征在于：包括支架(1)，所述支架(1)上设置有工作台(2)，所述工作台(2)的上表面通过转轴(3)转动设置有平台(4)，所述工作台(2)的下表面设置有用于驱动平台(4)转动的电机(5)，所述平台(4)的上表面设置有左固定板(6)和右固定板(7)，所述左固定板(6)和右固定板(7)的内侧面均设置有气囊(8)，所述平台(4)的下表面设置有气泵(9)，所述气泵(9)与气囊(8)连通。

2.根据权利要求1所述的硅片检测装置，其特征在于：所述平台(4)上设置有用于放置硅片(22)的横杆(10)，所述横杆(10)的上表面为平面，所述横杆(10)位于左固定板(6)和右固定板(7)之间，所述横杆(10)的两侧分别设置有第一喷管(11)和第二喷管(12)，所述左固定板(6)上的气囊(8)通过第一管道(13)与第一喷管(11)连通，所述右固定板(7)上的气囊(8)通过第二管道(14)与第二喷管(12)连通，所述第一管道(13)和第二管道(14)上均串联有限压阀(15)。

3.根据权利要求2所述的硅片检测装置，其特征在于：所述第一喷管(11)和第二喷管(12)的管壁上均开设有若干气孔(21)，所述气孔(21)的轴线由下至上向横杆(10)方向倾斜。

4.根据权利要求2所述的硅片检测装置，其特征在于：所述气囊(8)上均连通有电磁球阀(16)。

5.根据权利要求1所述的硅片检测装置，其特征在于：所述气囊(8)的内侧均贴合有橡胶板(17)。

6.根据权利要求1所述的硅片检测装置，其特征在于：所述工作台(2)上设置有立柱(18)，所述立柱(18)的顶端固定有顶板(19)，所述顶板(19)上固定有照明灯(20)。

说明书全文

硅片检测装置

技术领域

[0001] 本发明涉及太阳能电池片技术领域，尤其是一种硅片检测装置。

背景技术

[0002] 硅片是太阳能电池片的载体，硅片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低，因此需要对来料硅片进行检测，在检测硅片表面是否具有缺陷时，其中一项包括人工观察硅片表面的情况，目前硅片在检测时，需要人工将硅片平放在工作台上，先观察硅片的正面是否有缺陷，然后再将硅片翻转，使其背面朝上，再观察硅片的背面是否有缺陷，上述做法存在的问题是，硅片需要人工翻转，导致检测效率低，且硅片直接平铺在工作台上，容易导致硅片与工作台接触的表面存在划痕，影响硅片的质量。

发明内容

[0003] 本发明要解决的技术问题是：为了解决现有技术中在对硅片检测时需要人工翻转，导致检测效率低，且硅片直接平铺在工作台上，容易导致硅片与工作台接触的表面存在划痕，影响硅片质量的问题，现提供一种硅片检测装置。

[0004] 本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种硅片检测装置，包括支架，所述支架上设置有工作台，所述工作台的上表面通过转轴转动设置有平台，所述工作台的下表面设置有用于驱动平台转动的电机，所述平台的上表面设置有左固定板和右固定板，所述左固定板和右固定板的内侧面均设置有气囊，所述平台的下表面设置有气泵，所述气泵与气囊连通。

[0005] 本方案中通过将硅片放置左固定板和右固定板之间，启动气泵对气囊充气，使得左固定板和右固定板上的两个气囊分别抵紧在硅片两侧的两个窄面上，从而实现将硅片夹持，此时硅片的正面及背面分别处于竖直平面内，硅片的正面朝向观察者，先观察硅片的正面，然后通过电机带动平台转动180°使得硅片的背面朝向观察者，然后观察硅片的背面是否存在肉眼可见的缺陷，其中，通过气囊夹持硅片的窄面，使得硅片不会因为夹持而受到损坏，不影响对硅片正面及背面的观察，通过电机带动平台转动的方式，实现无需人工翻转硅片，即可完成对硅片正面及背面的观察。

[0006] 进一步地，所述平台上设置有用于放置硅片的横杆，所述横杆的上表面为平面，所述横杆位于左固定板和右固定板之间，所述横杆的两侧分别设置有第一喷管和第二喷管，所述左固定板上的气囊通过第一管道与第一喷管连通，所述右固定板上的气囊通过第二管道与第二喷管连通，所述第一管道和第二管道上均串联有限压阀，限压阀的设置，可防气囊将硅片挤压变形，当气囊中的压力达到限压阀的工作压力时，气囊刚好将硅片夹持，且不会将硅片挤压变形，然后将气泵继续工作一段时间，此时气囊中的气体经过管道上限压阀的排气到达喷管中，并由喷管向被气囊夹持硅片喷气清洁。

[0007] 为了提高喷管中的气体对硅片的清洁的效果，进一步地，所述第一喷管和第二喷管的管壁上均开设有若干气孔，所述气孔的轴线由下至上向横杆方向倾斜。

[0008] 为了便于排气，进一步地，所述气囊上均连通有电磁球阀，控制电磁球阀打开将气囊中的气体排出，从而将检测完的硅片取走。

[0009] 为了更好的夹持硅片，进一步地，所述气囊的内侧均贴合有橡胶板。

[0010] 为了提高硅片检测的准确性，进一步地，所述工作台上设置有立柱，所述立柱的顶端固定有顶板，所述顶板上固定有照明灯。

[0011] 本发明的有益效果是：本发明的硅片检测装置通过气囊夹持硅片的窄面，使得硅片不会因为夹持而受到损坏，不影响对硅片正面及背面的观察，通过电机带动平台转动的方式，实现无需人工翻转硅片，即可完成对硅片正面及背面的观察，大大提高检测效率，提高检测的准确率，降低误判率。

附图说明

[0012] 下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

[0013] 图1是本发明硅片检测装置的示意图；

[0014] 图2是图1中A的局部放大示意图；

[0015] 图3是本发明硅片检测装置夹持硅片的示意图；

[0016] 图4是本发明硅片检测装置中第一喷管及第二喷管同时对硅片的正面及背面清洁的示意图。

[0017] 图中：1、支架，2、工作台，3、转轴，4、平台，5、电机，6、左固定板，7、右固定板，8、气囊，9、气泵，10、横杆，11、第一喷管，12、第二喷管，13、第一管道，14、第二管道，15、限压阀，16、电磁球阀，17、橡胶板，18、立柱，19、顶板，20、照明灯，21、气孔，22、硅片。

具体实施方式

[0018] 现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成，方向和参照(例如，上、下、左、右、等等)可以仅用于帮助对附图中的特征的描述。因此，并非在限制性意义上采用以下具体实施方式，并且仅仅由所附权利要求及其等同形式来限定所请求保护的主题的范围。

[0019] 实施例1

[0020] 如图1-4所示，一种硅片检测装置，包括支架1，支架1上设置有工作台2，工作台2的上表面通过转轴3转动设置有平台4，工作台2的下表面设置有用于驱动平台4转动的电机5，电机5的输出端与转轴3传动连接，平台4的上表面设置有左固定板6和右固定板7，左固定板6和右固定板7的内侧面均设置有气囊8，平台4的下表面设置有气泵9，气泵9与气囊8连通，气泵9与气囊8连通的管道上串联有单向阀。

[0021] 平台4上设置有用于放置硅片22的横杆10，横杆10的上表面为平面，横杆10位于左固定板6和右固定板7之间，横杆10的两侧分别设置有第一喷管11和第二喷管12，左固定板6上的气囊8通过第一管道13与第一喷管11连通，右固定板7上的气囊8通过第二管道14与第二喷管12连通，第一管道13和第二管道14上均串联有限压阀15，限压阀15的设置，可防气囊8将硅片22挤压变形，当气囊8中的压力达到限压阀15的工作压力时，气囊8刚好将硅片22夹持，且不会将硅片22挤压变形，然后将气泵9继续工作一段时间，此时气囊8中的气体经过管道上限压阀15的排气到达喷管中，并由喷管向被气囊8夹持硅片22喷气清洁。

[0022] 第一喷管11和第二喷管12的管壁上均开设有若干气孔21，气孔21的轴线由下至上向横杆10方向倾斜。

[0023] 气囊8上均连通有电磁球阀16，控制电磁球阀16打开，将气囊8中的气体排出，从而将检测完的硅片22取走。

[0024] 气囊8的内侧均贴合有橡胶板17。

[0025] 工作台2上设置有立柱18，立柱18的顶端固定有顶板19，顶板19上固定有照明灯20。

[0026] 上述硅片检测装置的工作原理如下：

[0027] 1)、通过将硅片22放置左固定板6和右固定板7之间，启动气泵9对气囊8充气，使得左固定板6和右固定板7上的两个气囊8分别抵紧在硅片22两侧的两个窄面上，当气囊8中的压力达到限压阀15的工作压力时，气囊8刚好将硅片22夹持，且不会将硅片22挤压变形，然后将气泵9继续工作一段时间，此时左固定板6上气囊8中的气体经过第一管道13上限压阀15的排气到达第一喷管11中，并由第一喷管11的气孔21向被气囊8所夹持硅片22的正面喷气清洁；右固定板7上气囊8中的气体经过第二管道14上限压阀15的排气到达第二喷管12中，并由第二喷管12的气孔21向被气囊8所夹持硅片22的背面喷气清洁，从而实现将硅片22夹持，此时硅片22的正面及背面分别处于竖直平面内，硅片22的正面朝向观察者；

[0028] 2)、工作人员先观察硅片22的正面是否存在缺陷，然后通过电机5带动平台4转动180°使得硅片22的背面朝向观察者，然后观察硅片22的背面是否存在肉眼可见的缺陷，其中，通过气囊8夹持硅片22的窄面，使得硅片22不会因为夹持而受到损坏，不影响对硅片22正面及背面的观察，通过电机5带动平台4转动的方式，实现无需人工翻转硅片22，即可完成对硅片22正面及背面的观察。

[0029] 上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

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