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一种三相相位计

阅读：1035发布：2020-09-11

IPRDB可以提供一种三相相位计专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且一种三相相位计，包括模拟采样电路、缓冲放大处理器、STM32核心处理器、CPLD逻辑运算器、液晶显示器；模拟采样电路分别电连接缓冲放大处理器、CPLD逻辑运算器，缓冲放大处理器电连接STM32核心处理器，STM32核心处理器电连接液晶显示器；CPLD逻辑运算器电连接STM32核心处理器。与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型实现了三相信号相位和频率的同时测试，提高了测试测量效率；用较少的元器件达到了较复杂电路结构及多元器件的参数效果，避免了分立器件工作频率的限制，提高了工作频率；电路集成化程度更高，线路板体积更小，自带供电电源转换，供电电压为市电220VAC，在整流后进行滤波器滤波，保证电源品质，确保系统工作稳定。，下面是一种三相相位计专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种三相相位计，其特征在于：包括一模拟采样电路、一缓冲放大处理器、一核心处理器、一逻辑运算器、一液晶显示器；所述模拟采样电路分别电连接所述缓冲放大处理器、所述逻辑运算器，所述缓冲放大处理器电连接所述核心处理器，所述核心处理器电连接所述液晶显示器；所述逻辑运算器电连接所述核心处理器；

所述模拟采样电路，经过采样处理，得到三个精确的电压值；经所述缓冲放大处理器进行处理，将信号传输给所述核心处理器；所述核心处理器对输入信号进行微分运算、积分运算、软件滤波采样处理，产生三组对应的数值，传输给所述液晶显示器；所述液晶显示器工作子程序进行转换实时显示；所述逻辑运算器，在高频驱动下，进行逻辑运算，为所述核心处理器的采样提供采样宽度与点数，提高了测试测量精度。

2.根据权利要求1所述的三相相位计，其特征在于：所述核心处理器为STM32核心处理器。

3.根据权利要求2所述的三相相位计，其特征在于：所述逻辑运算器为CPLD逻辑运算器。

说明书全文

一种三相相位计

技术领域

[0001] 本实用新型涉及测量测试仪器技术领域，具体涉及一种三相相位计。

背景技术

[0002] 目前，现有技术中尚未有同时进行三相相位及三相频率测量的仪器，大多为两相相位测量仪，且都是单一的进行相位的测量。在同类测试测量仪器中，均只能实现两相相位的测试测量，对三相信号的测试测量效率降低，测量精度出现误差，且多采用众多分立器件搭建的纯模拟电路与数字电路，电路集成化程度较低，受分立器件限制，工作频率较低。

[0003] 为了提高三相信号的测试效率以及保证测试的准确度，需要对三相信号进行同时测量，实时显示，为提高测试测量的工作频率，需要对元器件进行优化，将众多分立器件用可编程逻辑器件取而代之。实用新型内容

[0004] 本实用新型要解决的技术问题是：克服现有技术改进的不足，提供一种三相相位计，它可以对三相信号中任两相信号间相位差以及三相频率进行同时测试测量并实时显示，采用可编程逻辑器件代替众多分立器件提高了工作频率。

[0005] 本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种三相相位计，其特征在于：包括一模拟采样电路、一缓冲放大处理器、一核心处理器、一逻辑运算器、一液晶显示器；所述模拟采样电路分别电连接所述缓冲放大处理器、所述逻辑运算器，所述缓冲放大处理器电连接所述核心处理器，所述核心处理器电连接所述液晶显示器；所述逻辑运算器电连接所述核心处理器；

[0006] 所述模拟采样电路，经过采样处理，得到三个精确的电压值；经所述缓冲放大处理器进行处理，将信号传输给所述核心处理器；所述核心处理器对输入信号进行微分运算、积分运算、软件滤波采样处理，产生三组对应的数值，传输给所述液晶显示器；所述液晶显示器工作子程序进行转换实时显示；所述逻辑运算器，在高频驱动下，进行逻辑运算，为所述核心处理器的采样提供采样宽度与点数，提高了测试测量精度。

[0007] 优选的，所述核心处理器为STM32核心处理器。

[0008] 优选的，所述逻辑运算器为CPLD逻辑运算器。

[0009] 与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型实现了三相信号相位和频率的同时测试，提高了测试测量效率；用较少的元器件达到了较复杂电路结构及多元器件的参数效果，避免了分立器件工作频率的限制，提高了工作频率；电路集成化程度更高，线路板体积更小，自带供电电源转换，供电电压为市电220VAC，在整流后进行滤波器滤波，保证电源品质，确保系统工作稳定。

附图说明

[0010] 图1为本实用新型的电原理框图。

[0011] 图中标记为：

[0012] 1、模拟采样电路；2、缓冲放大处理器；3、STM32核心处理器；4、CPLD逻辑运算器；

[0013] 5、液晶显示器。

具体实施方式

[0014] 下面结合附图实施例，对本实用新型做进一步描述：

[0015] 实施例一

[0016] 如图1所示，三相相位计，包括模拟采样电路1、缓冲放大处理器2、STM32核心处理器3、CPLD逻辑运算器4、液晶显示器5；模拟采样电路1分别电连接缓冲放大处理器2、CPLD逻辑运算器4，缓冲放大处理器2电连接STM32核心处理器3，STM32核心处理器3电连接液晶显示器5；CPLD逻辑运算器4电连接STM32核心处理器3；三相1Vp-p～50Vp-p周期信号输入到本实用新型中，先是经过模拟采样电路1进行采样处理，得到三个精确的电压值，经过缓冲放大处理器2进行缓冲、放大等处理，产生了模拟信号一和模拟信号二；模拟信号一和模拟信号二分别输入到STM32核心处理器3和CPLD逻辑运算器4中；

[0017] CPLD逻辑运算器4在外部高频驱动下，根据模拟信号二的变化，产生中断信号和逻辑电平，输入到STM32核心处理器3，STM32核心处理器3对模拟信号一、中断信号、逻辑电平进行微分运算、积分运算、软件滤波采样等，最终产生六组数值；液晶显示器5的子程序将这六组数值，通过总线形式进行实时显示，实现了三相相位、频率同时测量；其测量范围为20Hz～20kHz，测量精度为≤0.2°（20Hz～1kHz），≤0.5°（1kHz～20kHz）。

[0018] 以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非是对本实用新型作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的技术内容加以变更或改型为等同变化的等效实施例。但是凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本实用新型技术方案的保护范围。

标题	发布/更新时间	阅读量
相位差膜-专利编号CN110799870A	2020-05-11	829
相位差膜-专利编号CN110268293A	2020-05-11	272
相位对齐-专利编号CN109508066A	2020-05-11	363
相位塞-专利编号CN101467466A	2020-05-13	63
相位差膜-专利编号CN100432716C	2020-05-13	800
相位差膜-专利编号CN101529284B	2020-05-13	879
相位差膜-专利编号CN109416426A	2020-05-12	675
相位差膜-专利编号CN105319634B	2020-05-11	683
相位差膜-专利编号CN105319634A	2020-05-12	345
相位差膜-专利编号CN101389987B	2020-05-12	44

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